[發(fā)明專利]一種微程序的調(diào)試方法及其調(diào)試裝置

在審

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• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN112667514A
• 公開（公告）日: 2021-04-16
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 魏優(yōu)兵
• 申請（專利權(quán)）人: 海光信息技術(shù)股份有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京蘭亭信通知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11667
• 代理人: 趙永剛

1.一種微程序的調(diào)試方法，其特征在于，包括：

確定存儲模塊中處于閑置狀態(tài)的存儲空間；

初始化所述處于閑置狀態(tài)的存儲空間；

在待調(diào)試微程序中確定程序檢測點(diǎn)；

在所述待調(diào)試微程序的程序檢測點(diǎn)處植入檢測程序；

依據(jù)植入所述檢測程序后的待調(diào)試微程序，運(yùn)行處理器的待調(diào)試子模塊，將程序檢測點(diǎn)信息存儲到所述存儲空間內(nèi)；

讀取所述存儲空間內(nèi)的程序檢測點(diǎn)信息。

2.如權(quán)利要求1所述的調(diào)試方法，其特征在于，還包括：

依據(jù)所讀取的程序檢測點(diǎn)信息，獲取所述程序檢測點(diǎn)的運(yùn)行情況信息；

根據(jù)所獲取的運(yùn)行情況信息，對所述待調(diào)試微程序及所述待調(diào)試子模塊進(jìn)行分析。

3.如權(quán)利要求2所述的調(diào)試方法，其特征在于，所述處理器為中央處理器或圖形處理器。

4.如權(quán)利要求3所述的調(diào)試方法，其特征在于，所述存儲模塊為所述中央處理器能夠訪問的寄存器。

5.如權(quán)利要求4所述的調(diào)試方法，其特征在于，每個程序檢測點(diǎn)為事件檢測點(diǎn)或程序位置檢測點(diǎn)。

6.如權(quán)利要求5所述的調(diào)試方法，其特征在于，所述在待調(diào)試微程序中確定程序檢測點(diǎn)包括：在所述待調(diào)試微程序中確定N個程序檢測點(diǎn)；

所述獲取程序檢測點(diǎn)的運(yùn)行情況信息包括：獲取所述N個程序檢測點(diǎn)中的每個程序檢測點(diǎn)是否發(fā)生或被運(yùn)行的信息；

所述將程序檢測點(diǎn)信息存儲到所述存儲空間內(nèi)包括：

將所述N個程序檢測點(diǎn)是否發(fā)生或被運(yùn)行的信息與所述寄存器中的N個比特位建立映射關(guān)系；

將所獲取的所述N個程序檢測點(diǎn)中的每個程序檢測點(diǎn)是否發(fā)生或被運(yùn)行的信息存儲在所述寄存器中對應(yīng)的比特位中。

7.如權(quán)利要求6所述的調(diào)試方法，其特征在于，所述程序檢測點(diǎn)的個數(shù)N不大于所述待調(diào)試子模塊中所有處于閑置狀態(tài)的寄存器的總比特位數(shù)。

8.如權(quán)利要求6所述的調(diào)試方法，其特征在于，所述將所獲取的每個程序檢測點(diǎn)是否發(fā)生或被運(yùn)行的信息存儲在所述寄存器中對應(yīng)的比特位中包括：

將所述寄存器中的N個比特位初始化為“0”；

判斷每個程序檢測點(diǎn)是否發(fā)生或被運(yùn)行的信息為未發(fā)生或未被運(yùn)行，則保持該程序檢測點(diǎn)對應(yīng)的比特位繼續(xù)為“0”；

判斷每個程序檢測點(diǎn)是否發(fā)生或被運(yùn)行的信息為已發(fā)生或已被運(yùn)行，則在所述寄存器內(nèi)該程序檢測點(diǎn)對應(yīng)的比特位寫入“1”。

9.如權(quán)利要求8所述的調(diào)試方法，其特征在于，所述讀取所述存儲空間內(nèi)的程序檢測點(diǎn)信息包括：讀取所述寄存器內(nèi)的N個比特位的數(shù)據(jù)；

所述根據(jù)所獲取的運(yùn)行情況信息，對所述待調(diào)試微程序及所述待調(diào)試子模塊進(jìn)行分析包括：

根據(jù)所述N個比特位的數(shù)據(jù)，分析應(yīng)該執(zhí)行的待調(diào)試微程序是否被執(zhí)行，不應(yīng)該被執(zhí)行的待調(diào)試微程序是否被執(zhí)行；

根據(jù)分析結(jié)果，判斷待調(diào)試微程序執(zhí)行情況是否符合微程序設(shè)計思想，修改所述待調(diào)試微程序。

10.如權(quán)利要求5所述的調(diào)試方法，其特征在于，所述在待調(diào)試微程序中確定程序檢測點(diǎn)包括：在所述待調(diào)試微程序中確定M個程序檢測點(diǎn)；

所述獲取程序檢測點(diǎn)的運(yùn)行情況信息包括：獲取所述M個程序檢測點(diǎn)中的每個程序檢測點(diǎn)發(fā)生或被運(yùn)行的頻次信息；

所述將程序檢測點(diǎn)信息存儲到所述存儲空間內(nèi)包括：

將所述寄存器中的H個比特位劃分為M個比特位段，每個比特位段包含至少兩個相鄰的比特位；

將所述M個程序檢測點(diǎn)發(fā)生或被運(yùn)行的頻次信息與所述M個比特位段建立映射關(guān)系；

將所獲取的M個程序檢測點(diǎn)中的每個程序檢測點(diǎn)發(fā)生或被運(yùn)行的頻次信息存儲在所述寄存器中對應(yīng)的比特位段中。

11.如權(quán)利要求10所述的調(diào)試方法，其特征在于，所述程序檢測點(diǎn)的個數(shù)M不大于所述待調(diào)試子模塊中所有處于閑置狀態(tài)的寄存器的總比特位數(shù)的二分之一，且H≥2M。