[發(fā)明專利]一種原子鐘場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011644185.1
• 申請(qǐng)日: 2020-12-31
• 公開（公告）號(hào): CN112782510A
• 公開（公告）日: 2021-05-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 雷海東;詹志明;涂娟;朱小龍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 江漢大學(xué)
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00
• 代理公司: 北京眾達(dá)德權(quán)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11570
• 代理人: 張曉冬

1.一種原子鐘場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，信息原子鐘場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試系統(tǒng)包括光場(chǎng)測(cè)試模塊、微波場(chǎng)測(cè)試模塊、磁場(chǎng)測(cè)試模塊、溫度場(chǎng)測(cè)試模塊以及電場(chǎng)測(cè)試模塊，其中：

所述光場(chǎng)測(cè)試模塊包括頻率測(cè)量?jī)x、原子鐘模塊、采集儀以及PC機(jī)，其中：所述頻率測(cè)量?jī)x，用于接收參考源以及所述原子鐘模塊的頻率輸出；所述采集儀，用于采集所述原子鐘模塊中的燈溫以及光電流數(shù)據(jù)；所述PC機(jī)分別與所述頻率測(cè)量?jī)x及所述采集儀連通；

所述微波場(chǎng)測(cè)試模塊包括外圍電子線路、粗調(diào)系統(tǒng)、細(xì)調(diào)系統(tǒng)、物理系統(tǒng)以及伺服環(huán)路，所述伺服環(huán)路包含有處理器，所述外圍電子線路分別與所述粗調(diào)系統(tǒng)、所述細(xì)調(diào)系統(tǒng)及所述伺服環(huán)路連通，所述物理系統(tǒng)分別與所述粗調(diào)系統(tǒng)、細(xì)調(diào)系統(tǒng)及所述伺服環(huán)路連通；

所述磁場(chǎng)測(cè)試模塊包括頻穩(wěn)測(cè)試儀、PC機(jī)、C場(chǎng)換向開關(guān)、環(huán)路開關(guān)、光強(qiáng)檢測(cè)模塊、物理系統(tǒng)以及電子線路，其中所述C場(chǎng)換向開關(guān)與所述物理系統(tǒng)連通，所述頻穩(wěn)測(cè)試儀、所述PC機(jī)、所述光強(qiáng)檢測(cè)模塊以及所述物理系統(tǒng)依次連通，所述頻穩(wěn)測(cè)試儀與所述電子線路中的隔離放大器連通，所述環(huán)路開關(guān)分別與所述物理系統(tǒng)及所述電子線路中的伺服電路連通；

所述溫度場(chǎng)測(cè)試模塊包括原子鐘模塊、頻率計(jì)數(shù)器、高穩(wěn)H鐘源、寄存器、處理器、恒溫箱、第一測(cè)量模塊、第二測(cè)量模塊、第三測(cè)量模塊以及第四測(cè)量模塊；

所述電場(chǎng)測(cè)試模塊包括VCX0模塊、探測(cè)信號(hào)生成模塊、物理系統(tǒng)、D/A控制模塊、處理器、光開關(guān)模塊、邏輯門陣列、A/D采樣模塊、微商計(jì)數(shù)模塊、增益控制模塊、感應(yīng)時(shí)間模塊以及采樣信號(hào)顯示模塊。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的原子鐘場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，在所述光場(chǎng)測(cè)試模塊中，所述原子鐘模塊包括光譜燈、磁性超精細(xì)成分濾光片、光控模塊、諧振腔、集成濾光共振泡、光電池、微波探詢信號(hào)產(chǎn)生電路以及微處理器；

所述光譜燈、所述磁性超精細(xì)成分濾光片、所述光控模塊、所述集成濾光共振泡以及光電池位于同一光路上，所述所述集成濾光共振泡以及光電池設(shè)置在所述諧振腔內(nèi)部，所述微處理器分別與所述光電池、所述光譜燈連通以及所述微波探詢信號(hào)產(chǎn)生電路連通，所述微波探詢信號(hào)產(chǎn)生電路還與所述諧振腔連通。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的原子鐘場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述光譜燈包括光源、印制板底、印制板蓋以及印制版面，所述印制板底設(shè)置在所述光源底部、所述印制板蓋設(shè)置在所述光源頂部，所述印制版面設(shè)置在所述光源四周，其中，所述印制版蓋在所述光源的出光方向設(shè)置有透光孔；

所述光源包括發(fā)光泡、遮光筒、內(nèi)層電感線圈以及外層電感線圈，所述遮光筒通過固定螺紋固定在所述印制板底上，所述發(fā)光泡放置在所述遮光筒內(nèi)部并緊密貼遮光筒壁接觸，所述發(fā)光泡通過所述遮光筒的出光口部分漏出，所述遮光筒外壁繞有所述內(nèi)層電感線圈以及所述外層電感線圈。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的原子鐘場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述微波場(chǎng)測(cè)試模塊中，所述粗調(diào)系統(tǒng)包括光源、集成濾光共振模塊、光電探測(cè)模塊、中央處理器、微波源、功率探測(cè)模塊、C場(chǎng)模塊以及電流模塊；

所述光源、所述集成濾光共振模塊、所述光電探測(cè)模塊、所述中央處理器、所述功率探測(cè)模塊、所述微波源及所述集成濾光共振模塊依次連通，所述中央處理器還分別與所述微波源、所述功率探測(cè)模塊以及所述電流模塊連通，所述C場(chǎng)模塊分別與所述集成濾光共振模塊及所述電流模塊連通；

所述細(xì)調(diào)系統(tǒng)包括伺服前級(jí)、同步鑒相、伺服末級(jí)、壓控本振、微波探詢信號(hào)產(chǎn)生電路以及峰值探測(cè)器；

所述物理系統(tǒng)中的光電池、所述伺服前級(jí)、所述同步鑒相、所述伺服末級(jí)、所述壓控本振、所述微波探詢信號(hào)產(chǎn)生電路以及所述物理系統(tǒng)依次連通，所述微波探詢信號(hào)產(chǎn)生電路還與所述同步鑒相連通，所述峰值探測(cè)器設(shè)置在所述伺服前級(jí)和所述伺服末級(jí)之間。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的原子鐘場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述微波源輸出有兩路，一路用于完成所述集成濾光共振模塊探測(cè)信號(hào)的制備，另一路送至所述功率探測(cè)模塊中。