[發明專利]一種基于前景的缺陷檢測方法和系統

在審

• 申請號: 202011643007.7
• 申請日: 2020-12-30
• 公開（公告）號: CN112634264A
• 公開（公告）日: 2021-04-09
• 發明（設計）人: 劉曉剛;包振健;趙嚴;姚毅;楊藝
• 申請（專利權）人: 凌云光技術股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/90;G06T7/13;G06T7/62
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理有限公司 11363
• 代理人: 逯長明;許偉群

1.一種基于前景的缺陷檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

從模板圖像中的前景區域內選取種子點；

計算前景區域內的像素點相對于所述種子點的灰度波動值；

選取目標像素點構建模板前景目標，所述目標像素點的所述灰度波動值處于預設灰度波動范圍內；

根據圖像特征生成所述模板前景目標的定位標識；

根據所述定位標識和相似度量從待測圖像的前景區域中搜索并定位得到待測背景目標，所述相似度量為待測前景目標與所述模板前景目標之間的相似程度；

計算所述待測前景目標相對于所述模板前景目標的高低差值范圍；

從所述高低差值范圍中選取檢測值；

從所述待測前景目標中篩選出缺陷區域，所述缺陷區域的檢測值大于預設的檢測閾值。

2.根據權利要求1所述的基于前景的缺陷檢測方法，其特征在于，

所述計算前景區域內的像素點相對于所述種子點的灰度波動值包括：

根據所述前景區域的圖像顏色組成情況，選擇對應的通道；

若所述模板圖像為灰度圖像，則選取Gray通道；

若所述模板圖像為彩色圖像，則選取RGB通道、R-G-B通道或所述Gray通道。

3.根據權利要求2所述的基于前景的缺陷檢測方法，其特征在于，

所述計算前景區域內的像素點相對于所述種子點的灰度波動值還包括：

在選擇所述通道后，再選取對應的灰度波動值提取規則，并根據所述灰度波動值提取規則計算所述前景區域內的像素點相對于所述種子點的灰度波動值，具體為：

當選取所述Gray通道時，則選取的灰度波動值提取規則為：

r_Gray＝θ|Gray-Gray′|；

當選取所述RGB通道時，則選取的灰度波動值提取規則為：

當選取所述R-G-B通道時，則選取的灰度波動值提取規則為：

其中，r_Gray為選取Gray通道時的灰度波動值，Gray為所述像素點的灰度值，Gray′為所述種子點的灰度值；θ為α、β、γ或1，α、β、γ分別表示R通道、G通道、B通道的權重系數；r_RGB為RGB通道時的灰度波動值；r_R、r_G、r_B分別表示R通道、G通道、B通道的灰度波動值；R、G、B分別表示所述像素點R通道、G通道、B通道的像素值；R′、G′、B′為所述種子點R通道、G通道、B通道的像素值。

4.根據權利要求3所述的基于前景的缺陷檢測方法，其特征在于，

所述選取目標像素點包括：

判斷像素點的所述灰度波動值是否處于所述灰度波動范圍內；

若所述灰度波動值處于所述灰度波動范圍內，則所述灰度波動值對應的像素點為目標像素點；

或者，若所述灰度波動值不處于所述灰度波動范圍內，則所述灰度波動值對應的像素點為非目標像素點。

5.根據權利要求1所述的基于前景的缺陷檢測方法，其特征在于，

在所述選取目標像素點構建模板前景目標之后，還包括對所述模板前景目標進行優化，對所述模板前景目標進行優化包括濾除干擾區域和填充孔洞；

所述濾除干擾區域包括：獲取相似干擾區域，所述相似干擾區域位于所述模板前景目標的邊緣；

設置干擾區域的長度閾值和寬度閾值；

判斷所述相似干擾區域的長度和寬度是否分別小于所述長度閾值和所述寬度閾值；

若所述相似干擾區域的長度大于所述長度閾值或/和寬度大于所述寬度閾值，則所述相似干擾區域為干擾區域；

濾除所述干擾區域；

所述填充孔洞包括：所述孔洞位于所述模板前景目標內部；

設置孔洞半徑閾值；

判斷所述孔洞的半徑是否大于或等于所述半徑閾值；

若所述孔洞的半徑小于或等于所述半徑閾值，則填充所述孔洞；

若所述孔洞的半徑大于所述半徑閾值，則不填充所述孔洞。