[發明專利]一種CMOS圖像傳感器的測試方法和系統

有效

• 申請號: 202011642675.8
• 申請日: 2020-12-30
• 公開（公告）號: CN112752097B
• 公開（公告）日: 2023-05-26
• 發明（設計）人: 劉洋;李揚;馬成;戚忠雪
• 申請（專利權）人: 長春長光辰芯微電子股份有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00
• 代理公司: 長春中科長光知識產權代理事務所(普通合伙) 22218
• 代理人: 高一明;郭婷

1.一種CMOS圖像傳感器的測試系統，其特征在于，所述測試系統包括總控制器和圖像傳感器安裝設備；

所述圖像傳感器安裝設備用于安裝所述CMOS圖像傳感器，所述圖像傳感器安裝設備上還設置有引腳調試設備，所述引腳調試設備用于配置所述CMOS圖像傳感器上各個引腳的工作模式；

各個引腳的工作模式包括：數據模式、供電模式、參考電壓模式、接地模式、偏置模式中的任一項；

根據各個引腳配置的工作模式，將工作模式為數據模式的數據輸出引腳與數據緩存器相連，同時將數據輸入引腳通過接口與總控制器相連，并通過總控制器發送相應的配置信號；

所述總控制器與所述引腳調試設備電連接，用于控制所述引腳調試設備對所述CMOS圖像傳感器上各個引腳進行調試。

2.如權利要求1所述的CMOS圖像傳感器的測試系統，其特征在于，所述測試系統還包括數據緩存器；

所述數據緩存器與所述總控制器電連接，所述數據緩存器用于對所述CMOS圖像傳感器傳輸的圖像數據進行緩存。

3.如權利要求2所述的CMOS圖像傳感器的測試系統，其特征在于，所述測試系統還包括數據處理器，所述數據處理器分別與所述數據緩存器、所述總控制器電連接；

所述數據處理器用于接收所述總控制器發出的數據處理控制信號后，獲取所述數據緩存器中緩存的圖像數據，并對所述圖像數據進行處理和計算，并根據處理和計算結果生成測試報告。

4.如權利要求3所述的CMOS圖像傳感器的測試系統，其特征在于，所述數據處理器為FPGA處理器。

5.如權利要求3或4所述的CMOS圖像傳感器的測試系統，其特征在于，所述測試系統還包括測試結果顯示設備，所述測試結果顯示設備與所述數據處理器連接，所述測試結果顯示設備用于顯示所述測試報告。

6.如權利要求1所述的CMOS圖像傳感器的測試系統，其特征在于，所述測試系統還包括光源控制器，所述光源控制器與所述總控制器連接；所述光源控制器用于接收所述總控制器發出的光源控制信號，并根據所述光源控制信號為所述CMOS圖像傳感器提供測試光。

7.如權利要求6所述的CMOS圖像傳感器的測試系統，其特征在于，所述光源控制器包括光源配置寄存器，所述光源配置寄存器存儲有多個光源模式的運行數據；

所述“根據所述光源控制信號為所述CMOS圖像傳感器提供測試光”：根據所述光源控制信號確定當前的光源模式，從所述光源配置寄存器中獲取并運行所述光源模式對應的運行數據，以發出符合當前光源模式的測試光。

8.如權利要求1所述的CMOS圖像傳感器的測試系統，其特征在于，所述圖像傳感器安裝設備具有的引腳數量多于所述CMOS圖像傳感器具有的引腳數量。

9.一種CMOS圖像傳感器的測試方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

將所述CMOS圖像傳感器安裝到所述圖像傳感器安裝設備上，并通過所述圖像傳感器安裝設備上的引腳調試設備對所述CMOS圖像傳感器上各個引腳的工作模式進行配置；

根據各個引腳配置的工作模式，將工作模式為數據模式的數據輸出引腳與數據緩存器相連，同時將數據輸入引腳通過接口與總控制器相連，并通過總控制器發送相應的配置信號；

修改所述數據緩存器與數據處理器之間的連接配置，以滿足所述數據緩存器與數據處理器之間數據傳輸要求；修改數據處理器與測試結果顯示設備之間的接口配置，以滿足所述數據處理器與測試結果顯示設備數據傳輸要求；

根據測試需求對總控制器進行配置，并通過總控制器對測試系統中其他各個模塊部件進行配置；

在所有模塊的連接配置工作完成后，打開電源開關，此時各個模塊在總控制器的控制下工作，在系統穩定之后，通過所述測試結果顯示設備上顯示的內容觀察當前測試系統中各個模塊的工作狀態以及測試系統對圖像傳感器性能的判斷結果。