[發明專利]工業數據平臺測試方法、裝置、計算機設備和存儲介質

有效

• 申請號: 202011641909.7
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN112835334B
• 公開（公告）日: 2022-05-27
• 發明（設計）人: 何嘉豪;左志軍;賀毅;韓勤;黃淦斌
• 申請（專利權）人: 廣州明珞裝備股份有限公司
• 主分類號: G05B19/418
• 分類號: G05B19/418
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 盧曉霞

1.一種工業數據平臺測試方法，其特征在于，所述方法包括：

響應于針對于待生成測試工業數據的生成請求，獲取預先構建的測試工位；

獲取所述測試工位對應的配置信息；

生成與所述配置信息對應的測試工業數據，作為待生成測試工業數據，將所述待生成測試工業數據發送至數據碼頭，并將所述配置信息存儲至所述工業數據庫；

從所述數據碼頭中讀取所述測試工業數據；

將所述測試工業數據輸入待測試工業數據平臺，利用所述待測試工業數據平臺對所述測試工業數據進行測試，并獲取所述測試工業數據對應的目標數據標識；

根據所述目標數據標識，確定所述測試工業數據對應的目標數據屬性；

基于所述目標數據屬性以及所述測試工業數據的測試結果，生成針對于所述測試工業數據的甘特圖，并將所述甘特圖進行展示。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述數據標識，確定所述測試工業數據對應的目標數據屬性，包括：

根據預先構建的數據標識與預設的工業數據庫的主鍵標識的對應關系，確定所述目標數據標識對應的目標主鍵標識；

基于所述目標主鍵標識，從所述工業數據庫中查詢與所述目標主鍵標識對應的數據屬性，作為所述目標數據屬性；所述工業數據庫中預先存儲有多個主鍵標識以及所述多個主鍵標識分別對應的數據屬性。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述目標數據標識包括：所述測試工業數據對應的數據類型標識、采集器標識以及可編程邏輯控制器標識的至少一種。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述獲取預先構建的測試工位之前，還包括：

若不存在所述預先構建的測試工位，則獲取預設的測試工位配置模板，將所述測試工位配置模板進行顯示；

響應于針對所述測試工位配置模板的輸入操作，獲取與所述輸入操作匹配的輸入配置信息；

基于所述輸入配置信息構建所述測試工位。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取所述測試工位對應的配置信息之后，還包括：

對所述配置信息進行解析，并對解析后的所述配置信息進行完整性驗證；

若所述完整性驗證的驗證結果為驗證通過，則生成與所述配置信息對應的待生成測試工業數據；

或

若所述完整性驗證的驗證結果為驗證不通過，則將所述驗證結果進行顯示，并獲取與顯示的所述驗證結果對應的補全信息；

利用所述補全信息對所述配置信息進行補充。

6.根據權利要求4至5任一項所述的方法，其特征在于，所述待生成測試工業數據包括：待生成動作數據、待生成參數數據以及待生成狀態數據的至少一種；

所述生成與所述配置信息對應的待生成測試工業數據，包括：

若所述待生成測試工業數據為所述待生成動作數據，則獲取與所述待生成動作數據對應的動作數據持續時長，以及所述待生成動作數據對應的動作發生間隔時間；根據所述動作數據持續時長、所述動作發生間隔時間以及所述配置信息生成所述待生成動作數據；

若所述生成測試工業數據為所述待生成參數數據，則獲取與所述待生成參數數據對應的參數發送間隔時間，并從預設的參數區間中獲取與所述待生成參數數據對應的目標參數值；根據所述參數發送間隔時間、所述目標參數值以及所述配置信息生成所述待生成參數數據；

和/或

若所述待生成測試工業數據為所述待生成狀態數據，則獲取與所述待生成狀態數據對應的狀態發生間隔時間，以及所述待生成狀態數據對應的狀態標識；根據所述狀態發生間隔時間、所述狀態標識以及所述配置信息生成所述待生成狀態數據。