[發(fā)明專利]一種軸承外觀的影像檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011641092.3 | 申請日: | 2020-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN112834517A | 公開(公告)日: | 2021-05-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳慶濤;余海挺 | 申請(專利權(quán))人: | 慈溪迅蕾軸承有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88 |
| 代理公司: | 寧波高新區(qū)核心力專利代理事務(wù)所(普通合伙) 33273 | 代理人: | 蔡菡華 |
| 地址: | 315300 *** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 軸承 外觀 影像 檢測 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種軸承外觀的影像檢測方法,所使用的檢測系統(tǒng)包括圖像獲取模塊、圖像處理模塊、圖像顯示模塊、人工操作處理模塊、缺陷定位模塊與程序記憶模塊,具體步驟為:S1、軸承移到檢測區(qū)域;S2、對防塵蓋平面區(qū)域進(jìn)行檢測;S3、對防塵蓋卷邊區(qū)域進(jìn)行檢測;S4、對外唇口區(qū)進(jìn)行檢測;S5、重復(fù)步驟S4對內(nèi)唇口、防塵槽沿口與倒角沿口進(jìn)行檢測;S6、軸承翻面后,軸承移動到下一檢測區(qū)域,重復(fù)步驟S2?S5進(jìn)行檢測;S7、軸承移動到下一檢測區(qū)域,重復(fù)步驟S2對軸承的內(nèi)圈進(jìn)行檢測;S8、軸承移動到下一檢測區(qū)域,重復(fù)步驟S2對軸承的外圈與外圈倒角進(jìn)行檢測;優(yōu)點(diǎn)是檢測數(shù)據(jù)重復(fù)性好,增加了準(zhǔn)確率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及軸承檢測技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種軸承外觀的影像檢測方法。
背景技術(shù)
軸承作為制作業(yè)設(shè)備上廣泛使用的一種基礎(chǔ)精密元件,一旦表面有凹坑、劃痕等外觀缺陷都會影響軸承的機(jī)械性能,因此對軸承的外觀檢測十分重要。
早期的外觀檢測大都是人工進(jìn)行檢測,通過人工對軸承各部件外觀進(jìn)行目測檢驗(yàn),采用此方法不僅需要大量的人工,測量精度也難以保證。而現(xiàn)有的軸承外觀的影像檢測設(shè)備,在檢驗(yàn)軸承外觀缺陷時(shí)多采用對比法,但上述方法對于軸承配件的同心度要求較高,因此誤判較多,導(dǎo)致檢測結(jié)果的可靠性低,最終影響裝配件的質(zhì)量。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種軸承外觀的影像檢測方法,快速的對軸承外觀進(jìn)行檢測,準(zhǔn)確率高,且數(shù)據(jù)重復(fù)性好。
本發(fā)明解決上述技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案為:一種軸承外觀的影像檢測方法,所使用的檢測系統(tǒng)包括圖像獲取模塊、圖像處理模塊、圖像顯示模塊、人工操作處理模塊、缺陷定位模塊與程序記憶模塊,具體步驟為:
S1、軸承移料機(jī)構(gòu)推動待檢測軸承移動到檢測區(qū)域;
S2、對軸承的防塵蓋平面區(qū)域進(jìn)行外觀檢測,所述的外觀檢測的步驟為:利用圖像獲取模塊獲取待檢測軸承的圖像,圖像處理模塊對圖像進(jìn)行灰度化處理,圖像顯示模塊顯示灰度圖像,人為對灰度圖像進(jìn)行檢測區(qū)域的框選,人工操作處理模塊擬合框內(nèi)的圖像的邊緣線,之后利用缺陷定位模塊對框內(nèi)的缺陷點(diǎn)進(jìn)行定位尋找,人工操作處理模塊計(jì)算框選區(qū)域內(nèi)的圖像邊緣內(nèi)的灰度面積,同時(shí)在軸承標(biāo)準(zhǔn)件圖像的防塵蓋平面區(qū)域框選相同的位置,計(jì)算框內(nèi)的圖像邊緣內(nèi)的灰度面積,將待檢測軸承的灰度面積與軸承標(biāo)準(zhǔn)件的灰度面積進(jìn)行比較,若差值大于設(shè)定數(shù)值,則判定不合格,若差值小于設(shè)定數(shù)值,判定合格,進(jìn)行下一項(xiàng)檢測;
S3、對軸承的防塵蓋卷邊區(qū)域進(jìn)行外觀檢測,所述的外觀檢測的步驟為:取一標(biāo)準(zhǔn)軸承的防塵蓋卷邊區(qū)圖像,人為對圖像進(jìn)行檢測區(qū)域的框選,人工操作處理模塊擬合框內(nèi)的圖像的邊緣線,得到圖像做為對比圖像,之后人為對待檢測軸承的灰度圖像進(jìn)行相同的檢測區(qū)域的框選,人工操作處理模塊擬合框內(nèi)的圖像的邊緣線,將擬合后的圖像與對比圖像進(jìn)行對比,找出缺陷點(diǎn),人工操作處理模塊計(jì)算框選區(qū)域內(nèi)的圖像邊緣內(nèi)的灰度面積,與對比圖像框內(nèi)的圖像邊緣內(nèi)的灰度面積進(jìn)行比較,若差值大于設(shè)定數(shù)值,則判定不合格,若差值小于設(shè)定數(shù)值,判定合格,進(jìn)行下一項(xiàng)檢測;
S4、對軸承的密封圈外唇口區(qū)進(jìn)行磕傷檢測,所述的磕傷檢測的步驟為:人為對圖像進(jìn)行檢測區(qū)域的框選,人工處理模塊對框內(nèi)的缺陷處進(jìn)行沿口線條的擬合,之后通過圓邊缺角公式計(jì)算線條變形引起的徑向跳動R,與設(shè)定數(shù)值進(jìn)行比較,若大于設(shè)定數(shù)值,則判定不合格,若差值小于設(shè)定數(shù)值,則判定合格,進(jìn)行下一項(xiàng)檢測;
S5、重復(fù)上述的步驟S4分別對軸承的密封圈內(nèi)唇口區(qū)域、軸承的內(nèi)圈防塵槽沿口區(qū)域、軸承的內(nèi)圈倒角沿口區(qū)域、軸承的外圈防塵槽沿口區(qū)域與軸承的外圈倒角沿口區(qū)域進(jìn)行磕傷檢測;
S6、軸承翻面后,軸承移料機(jī)構(gòu)推動待檢測軸承移動到下一檢測區(qū)域,重復(fù)上述的步驟S2-S5進(jìn)行檢測;
S7、軸承移料機(jī)構(gòu)推動待檢測軸承移動到下一檢測區(qū)域,重復(fù)上述的步驟S2對軸承的內(nèi)圈外觀進(jìn)行檢測;
S8、軸承移料機(jī)構(gòu)推動待檢測軸承移動到下一檢測區(qū)域,重復(fù)上述的步驟S2對軸承的外圈與外圈倒角區(qū)域進(jìn)行外觀檢測;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于慈溪迅蕾軸承有限公司,未經(jīng)慈溪迅蕾軸承有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011641092.3/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





