[發明專利]一種探針外觀檢測系統及裝置

在審

• 申請號: 202011640855.2
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN112808610A
• 公開（公告）日: 2021-05-18
• 發明（設計）人: 丁崇亮
• 申請（專利權）人: 深圳市木王智能科技有限公司
• 主分類號: B07C5/02
• 分類號: B07C5/02;B07C5/34;B07C5/38;B07C5/36
• 代理公司: 深圳市遠航專利商標事務所(普通合伙) 44276
• 代理人: 田志遠;袁浩華

本發明公開了探針檢測技術領域中的一種探針外觀檢測系統及裝置，該探針外觀檢測系統包括控制器及與控制器連接的若干送料組件、檢測機構及排不良機構，控制器控制送料組件、檢測機構以及排不良機構的運行；該探針外觀檢測裝置包括整機機架，整機機架內設有帶控制器的控制箱，還包括與控制器連接的若干送料組件、檢測機構及排不良機構，檢測機構和排不良機構并排的位于送料組件的末端。本發明可以一次性對一整盤的探針進行檢測，并在檢測完成后排除檢測結果為不良品的探針，使得返回工位的探針均為外觀檢測良品，對于不良品直接進行排除，使得檢測結果更加直觀、準確，并且采用CCD相機進行拍照檢測可以保證檢測效率高、檢測結果準確。

技術領域

本發明涉及探針檢測技術領域，具體的說，是涉及一種探針外觀檢測系統及裝置。

背景技術

探針是高端精密型電子五金元器件，探針在制作完成后需要對其進行外觀及性能測試，傳統方法中對于探針的外觀多采用人工進行檢測，或采用抽檢方式，或采用全檢方式。其中抽檢方式準確率極低，造成外觀檢測后的探針多具有不良廢品，而采用全檢的方式會給檢測人員帶來加大的工作量，并且人工檢測容易出現較大的偏差，產品檢測準確率也較低。

為了克服上述問題，現有一種能夠對探針外觀進行自動檢測的設備，但是這種檢測設備需要采用夾具進行夾取檢測，單獨檢測過程速度慢，無法快速提高探針檢測的效率。例如中國專利公告號為CN 211652584 U的實用新型專利，其通過電容夾具夾取電容探針，并進行檢測，其嚴重影響了探針檢測的速度。

上述缺陷，值得解決。

發明內容

為了克服現有的技術的不足，本發明提供一種探針外觀檢測系統及裝置。

本發明技術方案如下所述：

一種探針外觀檢測系統，其特征在于，包括控制器及與所述控制器連接的若干送料組件、檢測機構及排不良機構，所述控制器控制所述送料組件、所述檢測機構以及所述排不良機構的運行；

所述送料組件用于將位于其上的擺盤工位先后運送至檢測位、排不良位，并將排不良后的所述擺盤工位運回原位；

所述檢測機構用于對所述擺盤工位內的探針進行外觀檢測，并將拍攝結果發送至所述控制器；

所述排不良機構用于接收所述控制器得出的排不良結果，并根據該結果將所述擺盤工位內的不良探針吸走。

根據上述方案的本發明，其特征在于，每個所述送料組件均設有與其對應的操作按鈕，所述操作按鈕與所述控制器連接。

根據上述方案的本發明，其特征在于，還包括不良工件擺放位，其用于擺放不良料盤。

根據上述方案的本發明，其特征在于，所述檢測機構包括CCD相機、補光燈，所述CCD相機和所述補光燈均與所述控制器連接，所述CCD相機用于拍攝所述擺盤工位內探針的外觀，并將拍攝的照片發送至所述控制器，所述補光燈用于對檢測位進行補光照明。

根據上述方案的本發明，其特征在于，所述排不良機構包括吸附氣缸和與所述吸附氣缸連接的吸附頭，所述吸附氣缸與所述控制器連接，所述吸附氣缸用于通過所述吸附頭吸附檢測結果為不良的探針。

另一方面，一種探針外觀檢測裝置，包括整機機架，所述整機機架內設有帶控制器的控制箱，其特征在于，還包括與所述控制器連接的若干送料組件、檢測機構及排不良機構，所述檢測機構和所述排不良機構并排的位于所述送料組件的末端；

所述送料組件包括送料軌道和位于所述送料軌道上的送料滑動件，所述送料滑動件用于承托擺盤工位，且所述送料滑動件與送料電機連接，所述送料電機帶動所述送料滑動件沿著所述送料軌道前后滑動；

所述檢測機構包括檢測軌道組件、用于拍攝檢測工位上探針照片的檢測組件，所述檢測組件套在所述檢測軌道組件上并與檢測電機連接，所述檢測電機帶動所述檢測組件沿著所述檢測軌道組件滑動；