[發明專利]電阻測試電路及系統

在審

• 申請號: 202011640815.8
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN112816784A
• 公開（公告）日: 2021-05-18
• 發明（設計）人: 明志茂;劉蓓輝;潘健寧;陳旭波;周明霞
• 申請（專利權）人: 廣電計量檢測（成都）有限公司
• 主分類號: G01R27/08
• 分類號: G01R27/08
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 聶榕

本申請涉及一種電阻測試電路及系統，在進行電阻測試時，利用擴展裝置同時將多個待測電阻接入，并且通過其內部連接線纜將各個待測電阻依次串聯。在主控制器的控制下恒流源裝置產生電流信號輸送至擴展裝置，之后經擴展裝置依次流入各個待測電阻。最終擴展裝置通過測試線纜將各個待測電阻兩端分別接入電壓采集裝置，通過電壓采集裝置實現采集得到各個流經各個電阻的電壓信號，通過歐姆定理進行分析，即可得到待測電阻的阻值。通過上述方案，利用擴展裝置可同時接入多個待測電阻進行測試，且流入各個待測電阻的電流信號一致，可在實現多路電阻測試的同時，保證各個待測電阻的測試條件一致，具有較強的測試可靠性。

技術領域

本申請涉及可靠性測試技術領域，特別是涉及一種電阻測試電路及系統。

背景技術

隨著可靠性與環境測試領域的發展，以及尤其各大車廠使用越來越多的集成電路等在車上，對于各項性能測試的指標都要求非常精確，且需要精確監測以及記錄各項參數，例如對微小電阻的阻值測量。

然而，現有的電阻測試儀一般只有一個通道，在需要測試多個電阻的情況下，需要采用多臺電阻測試儀，測試操作不方便。并且由于不同電阻測試儀的使用，很容易使得每路電阻的測試條件存在差異，多路電阻測試的一致性難以得到保證。因此，傳統的電阻測試方案存在測試可靠性差的缺點。

發明內容

基于此，有必要針對傳統的電阻測試方案測試可靠性差的問題，提供一種電阻測試電路及系統。

一種電阻測試電路，包括：恒流源裝置、擴展裝置、電壓采集裝置和主控制器，所述恒流源裝置、所述擴展裝置和所述電壓采集裝置分別連接所述主控制器，所述恒流源裝置和所述電壓采集裝置分別連接所述擴展裝置；所述擴展裝置用于接入多個待測電阻并通過內部連接線纜將各所述待測電阻串聯，以及通過內部測試線纜分別將各所述待測電阻的兩端連接至所述電壓采集裝置；所述恒流源裝置用于生成電流信號并經所述擴展裝置輸送至各所述待測電阻；所述電壓采集裝置用于通過所述擴展裝置分別采集各所述待測電阻的電壓信號并發送至所述主控制器；所述主控制器用于控制所述恒流源裝置生成電流信號，以及根據所述電壓信號得到各所述待測電阻的阻值。

在一個實施例中，所述恒流源裝置包括信號發生電路、數模轉換電路和恒流源電路，所述信號發生電路連接所述主控制器和所述數模轉換電路，所述數模轉換電路連接所述恒流源電路，所述恒流源電路連接所述主控制器和所述擴展裝置。

在一個實施例中，所述恒流源電路包括第一電阻、第二電阻、第三電阻、第一同相器、第二同相器、反相器、恒流處理器和二極管，所述第一電阻的一端連接所述數模轉換電路，所述第一電阻的另一端連接所述第二電阻的一端，所述第二電阻的一端連接所述第三電阻的一端和所述恒流處理器的信號輸入端，所述第三電阻的另一端接地，所述第一同相器、所述第二同相器和所述反相器的輸入端分別連接所述主控制器，所述第一同相器的輸出端連接所述恒流處理器的第一狀態量端，所述第二同相器的輸出端連接所述恒流處理器的第二狀態量端，所述反相器的輸出端連接所述恒流處理器的第三狀態量端，所述恒流處理器的輸出端連接所述二極管的陽極，所述二極管的陰極連接所述擴展裝置。

在一個實施例中，所述恒流源電路根據所述數模轉換電路輸入的電壓信號和主控制器輸入的狀態量，生成相應的恒定直流信號或交流恒流信號。

在一個實施例中，所述擴展裝置包括箱體、機箱內部板卡、機箱背板和擴展板卡，所述機箱內部板卡和所述擴展板卡設置于所述箱體的內部，所述機箱內部板卡連接所述機箱背板，所述機箱背板連接所述擴展板卡，所述恒流源裝置、所述電壓采集裝置和所述主控制器分別連接所述擴展板卡。

在一個實施例中，所述擴展板卡包括綜合測試板卡和單端測試板卡中的至少一種，所述綜合測試板卡用以實現二線制電阻測試和/或四線制電阻測試，所述單端測試板卡用以實現單端電阻測試。

在一個實施例中，所述擴展板卡的數量為兩個或兩個以上。