[發明專利]一種在給定電容集合中尋找最優替代目標電容的方法在審
| 申請號： | 202011639451.1 | 申請日： | 2020-12-31 |
| 公開（公告）號： | CN112668275A | 公開（公告）日： | 2021-04-16 |
| 發明（設計）人： | 蔣歷國;凌峰;王剛;代文亮 | 申請（專利權）人： | 芯和半導體科技（上海）有限公司 |
| 主分類號： | G06F30/392 | 分類號： | G06F30/392;G06F30/398 |
| 代理公司： | 上海樂泓專利代理事務所(普通合伙) 31385 | 代理人： | 蘇杰 |
| 地址： | 200000 上海市*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 給定 電容 集合 尋找 最優 替代 目標 方法 | ||
本發明的一種在給定電容集合中尋找最優替代目標電容的方法，包括如下步驟:步驟S1:選擇目標電容組合；步驟S2：計算目標電容組合的并聯阻抗：步驟S3：選擇替代電容組合；步驟S4：設置組合條件：步驟S5：產生組合條件候選組合步驟S6：計算每個候選組合的并聯阻抗曲線：步驟S7:與目標阻抗曲線進行比較:步驟S8:對所有符合條件的組合按照差異值排序，找到替代組合方案:步驟S9:根據選擇生成曲線對比圖。可以快速在某個指定的電容集合中通過設定電容的限制條件找到與某個指定電容或電容組合最接近的阻抗參數的那些特定的組合，極大提高了設計效率，并為設計提供參考，具有極高的實用價值。
技術領域
本發明屬于電子設計自動化領域，具體來說是一種在給定電容集合中尋找最優替代目標電容的方法。
背景技術
芯片設計工作當中經常遇到這樣的問題，因為空間限制，價格限制，制造限制等因素需要用多個電容去替代某個特性的電容或者電容組合。
發明內容
1.發明要解決的技術問題
本發明的目的在于解決上述技術問題，可以快速在某個指定的電容集合中通過設定電容的限制條件找到與某個指定電容或電容組合最接近的阻抗參數的那些特定的組合，極大提高了設計效率，并為設計提供參考，具有極高的實用價值。
2.技術方案
為達到上述目的，本發明提供的技術方案為：
一種在給定電容集合中尋找最優替代目標電容的方法，包括如下步驟:
步驟S1:選擇目標電容組合；
步驟S2：計算目標電容組合的并聯阻抗：
步驟S3：選擇替代電容組合；
步驟S4：設置組合條件：
步驟S5：產生組合條件候選組合：
步驟S6：計算每個候選組合的并聯阻抗曲線：
步驟S7:與目標阻抗曲線進行比較:
步驟S8:對所有符合條件的組合按照差異值排序，找到替代組合方案:
步驟S9:根據選擇生成曲線對比圖。
優選地，所述步驟S1中，目標電容組合可以為一個或者多個，多個的情況取其并聯阻抗作為最終的目標阻抗。
優選地，所述步驟S2中替代電容是從一個電容庫當中篩選出的想要使用這些候選電容組成一個新的電容組合來替代目標電容。
3.有益效果
采用本發明提供的技術方案，與現有技術相比，至少包括如下有益效果：
本發明可以快速在某個指定的電容集合中通過設定電容的限制條件找到與某個指定電容或電容組合最接近的阻抗參數的那些特定的組合。
附圖說明
圖1為本發明的流程示意圖。
具體實施方式
為了便于理解本發明，下面將參照相關附圖對本發明進行更全面的描述，附圖中給出了本發明的若干實施例，但是，本發明可以以許多不同的形式來實現，并不限于本文所描述的實施例，相反地，提供這些實施例的目的是使對本發明的公開內容更加透徹全面。
除非另有定義，本文所使用的所有的技術和科學術語與屬于本發明的技術領域的技術人員通常理解的含義相同；本文中在本發明的說明書中所使用的術語只是為了描述具體的實施例的目的，不是旨在于限制本發明；本文所使用的術語“及/或”包括一個或多個相關的所列項目的任意的和所有的組合。
參照附圖1，一種在給定電容集合中快速尋找目標電容最優替代方案的方法實現，包括如下步驟:
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