[發明專利]輻射檢查系統

在審

• 申請號: 202011639188.6
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN114764069A
• 公開（公告）日: 2022-07-19
• 發明（設計）人: 陳志強;劉磊;孫尚民;宗春光;胡煜;馬媛;季崢
• 申請（專利權）人: 同方威視技術股份有限公司;清華大學
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04;G01V5/00
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 張文超

1.一種輻射檢查系統，其特征在于，包括：

集裝箱(1)，其相對的側壁上分別設有入口(A)和出口(B)；和

輻射掃描成像設備(2)，設于所述集裝箱(1)內且具有檢查通道(G)，所述輻射掃描成像設備(2)包括射線源(21)，所述射線源(21)包括多個射線發生器(21’)，所述多個射線發生器(21’)被配置為以不同的角度發出射線束，以使所述輻射掃描成像設備(2)對從所述入口(A)至所述出口(B)經過所述檢查通道(G)的待檢查物體進行輻射掃描檢查。

2.根據權利要求1所述的輻射檢查系統，其特征在于，所述多個射線發生器(21’)被配置為隨著所述待檢查物體的移動交替開啟發出射線束。

3.根據權利要求1所述的輻射檢查系統，其特征在于，所述輻射掃描成像設備(2)還包括一個準直器(22)，設置于所述多個射線發生器(21’)的出束側，被配置為同時限制所述多個射線發生器(21’)輸出的所述射線束的射束形狀。

4.根據權利要求3所述的輻射檢查系統，其特征在于，

所述準直器(22)包括一個準直口(221)，所述準直口(221)被配置為同時限制所述多個射線發生器(21’)輸出的所述射線束的射束形狀；或者

所述準直器包括兩個以上準直口(221)，所述多個射線發生器(21’)與所述兩個以上準直口(221)一一對應地設置，每個所述準直口(221)被配置為限制對應的所述射線發生器(21’)輸出的所述射線束的射束形狀；或者

所述準直器包括兩個以上準直口(221)，所述多個射線發生器(21’)分組與所述兩個以上準直口(221)對應設置，每個所述準直口(221)被配置為同時限制對應的一組所述射線發生器(21’)中各所述射線發生器(21’)輸出的所述射線束的射束形狀。

5.根據權利要求3所述的輻射檢查系統，其特征在于，所述準直器(22)包括兩塊準直板(222)，所述兩塊準直板(222)形狀配合形成準直口(221)，所述準直口(221)被配置為限制對應的所述射線發生器(21’)輸出的所述射線束的射束形狀。

6.根據權利要求3所述的輻射檢查系統，其特征在于，所述準直器包括兩塊準直板(222)，所述兩塊準直板(222)形狀配合形成準直口(221)，所述輻射掃描成像設備(2)還包括調節機構，所述調節機構被配置為通過驅動至少一塊準直板(222)相對于其余準直板(222)的位置調節所述準直口(221)的尺寸或形狀，并在調節后維持所述多個射線發生器(21’)輸出的所述射線束的射束形狀。

7.根據權利要求6所述的輻射檢查系統，其特征在于，所述調節機構包括至少一個調節部(25)，至少一塊所述準直板(222)對應設置有所述調節部(25)，所述調節部(25)被配置為通過驅動對應的所述準直板(222)平移和/或轉動改變對應的所述準直板(222)相對于另一塊所述準直板(222)的相對位置以調節所述準直口(221)的尺寸或形狀。

8.根據權利要求7所述的輻射檢查系統，其特征在于，

所述兩塊準直板(222)中至少之一上設置延伸方向與所述準直口(221)不同的長孔(2221)；

所述輻射掃描成像設備(2)還包括射線源艙體(23)，所述多個射線發生器(21’)位于所述射線源艙體(23)內；和

所述調節部(25)包括第一螺紋連接件(251)，所述第一螺紋連接件(251)被配置為與所述長孔(2221)相對位置可變地配合并將所述長孔(2221)所在的準直板(222)固定于所述射線源艙體(23)上。