[發明專利]一種基于三維掃描輔助定位的鍛件校調方法有效
| 申請號： | 202011638723.6 | 申請日： | 2020-12-31 |
| 公開（公告）號： | CN112685858B | 公開（公告）日： | 2022-11-04 |
| 發明（設計）人： | 許明甲;高艷伶;黃健 | 申請（專利權）人： | 上海電氣上重鑄鍛有限公司 |
| 主分類號： | G06F30/17 | 分類號： | G06F30/17;G06F30/20;G06T17/00 |
| 代理公司： | 上海樂泓專利代理事務所(普通合伙) 31385 | 代理人： | 張雪 |
| 地址： | 200000 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 三維 掃描 輔助 定位 鍛件 方法 | ||
1.一種基于三維掃描輔助定位的鍛件校調方法，其特征在于，包括以下步驟：
S1模型獲取：
在零件毛坯上確定至少三個特征點，所述至少三個特征點不共線，所述零件毛坯上最遠的兩點之間的直線距離為D，至少兩所述特征點之間的直線距離L＞0.8D；
建立標準模型和毛坯模型，所述標準模型為零件經過加工后的三維模型，所述毛坯模型為零件毛坯的三維掃描模型；
S2數據獲取：
將標準模型和毛坯模型疊合匹配，以所述標準模型的坐標系測得所述特征點的標準三維坐標(X、Y、Z)；
將所述零件毛坯放置在機床上，并測得所述特征點的機床坐標(X″、Y″、Z″)；
計算任意兩所述特征點對應軸上的標準差值和機床差值，所述標準差值為對應軸上標準三維坐標差值，所述機床差值為對應軸上機床坐標差值；
S3確定校調：
校調使得所述標準差值和所述機床差值接近或相等。
2.根據權利要求1所述的基于三維掃描輔助定位的鍛件校調方法，其特征在于，所述步驟S3確定校調依次包括：
S31水平校調：校調所述零件毛坯，調整至少兩組z軸對應的標準差值和機床差值接近或相等；
S32偏轉校調：校調所述零件毛坯，調整至少兩組x軸對應的標準差值和機床差值接近或相等，以及調整至少兩組y軸對應的標準差值和機床差值接近或相等。
3.根據權利要求1所述的基于三維掃描輔助定位的鍛件校調方法，其特征在于，采用鏜銑床校調非回轉類零件時，所述至少三個特征點中的一個為輪廓角點，并且所述步驟S3確定校調依次包括：
S31水平校調：校調所述零件毛坯，調整至少兩組z軸對應的標準差值和機床差值接近或相等；
S32偏轉校調：
S321獲取標準模型的x-y象限正投影視圖；
S322校調所述標準模型：以輪廓角點為旋轉中心旋轉所述視圖，使得x軸對應的標準差值與機床差值接近或相等，以及y軸對應的標準差值與機床差值接近或相等。
4.根據權利要求1所述的基于三維掃描輔助定位的鍛件校調方法，其特征在于，在零件毛坯上確定四個特征點。
5.根據權利要求1所述的基于三維掃描輔助定位的鍛件校調方法，其特征在于，采用車床校調回轉類零件時，所述標準模型的坐標系z軸和所述標準模型的回轉軸重合。
6.根據權利要求1所述的基于三維掃描輔助定位的鍛件校調方法，其特征在于，采用車床校調時，機床坐標系為x-z坐標系，所述機床坐標為(X″、Z″)，根據以下公式將所述標準三維坐標(X、Y、Z)轉換為標準二維坐標(X＇、Z＇)，公式為Z′＝Z。
7.根據權利要求1所述的基于三維掃描輔助定位的鍛件校調方法，其特征在于，在銑床校調時，兩所述特征點選在機床坐標系x-z象限內。
8.根據權利要求5或6所述的基于三維掃描輔助定位的鍛件校調方法，其特征在于，采用車床校調時，至少兩個特征點關于機床坐標系z軸對稱。
9.根據權利要求8所述的基于三維掃描輔助定位的鍛件校調方法，其特征在于，計算對稱兩所述特征點之間的標準差值和機床差值，所述標準差值包括ΔZ＇、ΔX＇，所述機床差值包括ΔZ、ΔX。
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