[發明專利]一種射頻集成電路近場電磁兼容性測試管理方法和系統

在審

• 申請號: 202011637751.6
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN112834843A
• 公開（公告）日: 2021-05-25
• 發明（設計）人: 夏志杰;張志勝
• 申請（專利權）人: 江蘇南高智能裝備創新中心有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 南京協行知識產權代理事務所(普通合伙) 32493
• 代理人: 蔣志棟

本發明屬于管理領域，針對現有技術中近場測試射頻集成電路的電磁兼容新中的對外電磁干擾強度后，難以判斷所測結果是否屬于正常范圍內的問題，提出一種射頻集成電路經常電磁兼容性測試管理方法和系統；方法包括：獲取目標集成電路的標準電磁分布信息；根據標準電磁分布信息，調整目標射頻集成電路對應的探頭和示波器的測試精度；采集示波器上的信號圖像信息，并處理為當前電磁分布信息；計算標準電磁分布信息與當前電磁分布信息的相關值，在相關值低于預設值時，發出告警信息。

技術領域

本發明屬于管理領域，具體涉及一種射頻集成電路近場電磁兼容性測試管理方法和系統。

背景技術

射頻集成電路由于工作頻率較高，在工作時會對外產生電磁干擾，同時也會受到相同環境下其他電磁干擾的影響。射頻集成電路的電磁兼容性，即是用來評估射頻集成電路在其電磁環境中符合要求運行，并且產生的電磁干擾不對其環境中任何電子設備、電路產生干擾的能力。

關于集成電路的電磁兼容性測試，國際電工委員推薦采用IEC 61967《集成電路電磁發射測試》和IEC 62132《集成電路電磁敏感性測試》標準。IEC 61967對集成電路的輻射發射采用TEM/GTEM小室方法和近場掃描方法，傳導發射采用1Ω/150Ω直接耦合方法、法拉第籠方法和磁場探頭方法。IEC 62132對集成電路的輻射敏感性采用TEM小室測試方法、大電流注入的IC電磁敏感性測試方法以及直接RF功率注入和法拉第籠的IC傳導敏感性測試方法。

在對射頻集成電路記性進場電磁兼容性測試時，由于射頻集成電路的功率和面積較小，其電磁敏感性所受的電磁干擾主要集中在近場區域，對射頻集成電路對外產生的電磁干擾進行測試后，難以滯銷該測試結果是否失真。

發明內容

本發明提供一種射頻集成電路經常電磁兼容性測試管理方法和系統，用于解決現有技術中近場測試射頻集成電路的電磁兼容新中的對外電磁干擾強度后，難以判斷所測結果是否屬于正常范圍內的問題。

本發明提供的基礎方案為：一種射頻集成電路近場電磁兼容性測試管理方法，包括：

獲取目標集成電路的標準電磁分布信息；

根據標準電磁分布信息，調整目標射頻集成電路對應的探頭和示波器的測試精度；

采集示波器上的信號圖像信息，并處理為當前電磁分布信息；

計算標準電磁分布信息與當前電磁分布信息的相關值，在相關值低于預設值時，發出告警信息。

原理和有益效果：本方案將測試所得的電磁分布稱為當前電磁分布信息，利用標準電磁分布信息來衡量當前電磁分布信息是失真，即，若相關值超過預設值，則說明當前電磁分布信息與預設出來的標準電磁分布信息相似度過低，可能存在測試失真的問題。

進一步，所述方法還包括：測試探頭到目標射頻集成電路上預設標志的距離，并顯示。

進一步，所述標準電磁分布信息的獲取，具體包括：

獲取目標集成電路的電路圖和電子元器件分布信息；

篩選出電路圖中的各個電子元器件和對應的環境信息，并獲取電子元器件的電磁分布模型，計算環境信息下電子元器件的單個電磁分布信息；

根據所述電子元器件分布信息，依次疊加電子元器件對應的單個電磁分布信息，計算出所述目標集成電路的標準電磁分布信息。

進一步，所述采集示波器上的信號變化圖像，并處理為當前電磁分布信息，具體包括：

獲取同一時刻目標射頻集成電路到到探頭之間的距離信息，與探頭連接的示波器所顯示的信號圖像信息；將當前時刻信息、距離信息、信號圖像信息相互關聯；

模糊總結出，同一時刻，距離信息與信號圖像信息之間的關系，得到同一時刻電磁第一分布信息；