[發明專利]薄片介質數據的處理方法、裝置、電子設備及存儲介質有效
| 申請號: | 202011637750.1 | 申請日: | 2020-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN112614283B | 公開(公告)日: | 2022-05-31 |
| 發明(設計)人: | 梁觀德 | 申請(專利權)人: | 深圳怡化電腦股份有限公司;深圳市怡化時代科技有限公司;深圳怡化時代智能自動化系統有限公司 |
| 主分類號: | G07F19/00 | 分類號: | G07F19/00;G07D11/13;G07D11/165;G07D11/22;G07D11/23;G07D11/32 |
| 代理公司: | 北京潤澤恒知識產權代理有限公司 11319 | 代理人: | 吳文心 |
| 地址: | 518067 廣東省深圳市南山區粵海*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 薄片 介質 數據 處理 方法 裝置 電子設備 存儲 | ||
1.一種薄片介質數據的處理方法,其特征在于,包括:
在薄片介質傳輸的過程中,獲取當前薄片介質的觸發時間信息,所述觸發時間信息包括所述當前薄片介質其中一端對應的第一傳感器采集的第一觸發時間信息以及所述當前薄片介質另一端對應的第二傳感器采集的第二觸發時間信息;
若根據所述第一觸發時間信息與所述第二觸發時間信息判斷所述當前薄片介質為正常薄片介質,則識別所述當前薄片介質,在預設存儲隊列中記錄與所述當前薄片介質對應的薄片介質數據;
其中,所述第一觸發時間信息包括第一觸發總時長與第一觸發次數,所述第二觸發時間信息至少包括第二觸發次數,所述方法還包括:
若所述第一觸發總時長大于預設時間范圍,且所述第二觸發次數大于所述第一觸發次數,則判定所述當前薄片介質為交叉狀態的薄片介質。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述第二觸發時間信息包括第二觸發總時長,所述若根據所述第一觸發時間信息與所述第二觸發時間信息判斷所述當前薄片介質為正常薄片介質,則識別所述當前薄片介質,記錄與所述當前薄片介質對應的薄片介質數據,包括:
若所述第一觸發總時長與所述第二觸發總時長落入預設時間范圍,且所述第一觸發次數與所述第二觸發次數相同,則判定所述當前薄片介質為正常薄片介質,識別所述當前薄片介質,記錄與所述當前薄片介質對應的薄片介質數據。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述若所述第一觸發總時長大于預設時間范圍,且所述第二觸發次數大于所述第一觸發次數,則判定所述當前薄片介質為交叉狀態的薄片介質,包括:
若所述第一觸發總時長大于預設時間范圍,且所述第二觸發次數大于所述第一觸發次數,則獲取所述第一觸發總時長對應的第一進入時間與第一離開時間,以及所述當前薄片介質另一端中多余觸發次數所對應的第二進入時間與第二離開時間,所述多余觸發次數為所述第二傳感器落入所述第一傳感器處于遮擋狀態期間的觸發次數;
若所述第二進入時間與所述第二離開時間落入所述第一進入時間與所述第一離開時間所構成的時間段內,則判定所述當前薄片介質為交叉狀態的薄片介質。
4.根據權利要求1或3所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
執行針對所述交叉狀態的薄片介質的分離操作,獲得與所述交叉狀態的薄片介質對應的至少兩張目標薄片介質;
分別識別所述目標薄片介質,記錄與所述目標薄片介質對應的薄片介質數據。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述第二觸發時間信息包括第二觸發總時長與第二觸發次數,所述方法還包括:
若所述第一觸發總時長與所述第二觸發總時長大于預設時間范圍,且所述第一觸發次數與所述第二觸發次數相等,則判定所述當前薄片介質為重張薄片介質;
識別所述重張薄片介質,構建針對與所述重張薄片介質對應的薄片介質數據,并更新所述存儲隊列。
6.根據權利要求5所述的方法,其特征在于,還包括:
執行針對所述重張薄片介質的分離操作,獲得與所述重張薄片介質對應的至少兩張目標薄片介質;
分別識別所述目標薄片介質,記錄與所述目標薄片介質對應的薄片介質數據。
7.一種薄片介質數據的處理裝置,其特征在于,包括:
觸發時間信息獲取模塊,用于在薄片介質傳輸的過程中,獲取當前薄片介質的觸發時間信息,所述觸發時間信息包括所述當前薄片介質其中一端對應的第一傳感器采集的第一觸發時間信息以及所述當前薄片介質另一端對應的第二傳感器采集的第二觸發時間信息;
第一介質識別模塊,用于若根據所述第一觸發時間信息與所述第二觸發時間信息判斷所述當前薄片介質為正常薄片介質,則識別所述當前薄片介質,在預設存儲隊列中記錄與所述當前薄片介質對應的薄片介質數據;
其中,所述第一觸發時間信息包括第一觸發總時長與第一觸發次數,所述第二觸發時間信息至少包括第二觸發次數,所述裝置還包括:
第二介質識別模塊,用于若所述第一觸發總時長大于預設時間范圍,且所述第二觸發次數大于所述第一觸發次數,則判定所述當前薄片介質為交叉狀態的薄片介質。
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