[發明專利]一種測量被遮擋渦旋光束拓撲荷的裝置及方法在審
| 申請號: | 202011637706.0 | 申請日: | 2020-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN112816079A | 公開(公告)日: | 2021-05-18 |
| 發明(設計)人: | 劉顯龍;李曉飛;高雅茹;蔡陽健 | 申請(專利權)人: | 山東師范大學 |
| 主分類號: | G01J11/00 | 分類號: | G01J11/00 |
| 代理公司: | 濟南圣達知識產權代理有限公司 37221 | 代理人: | 董雪 |
| 地址: | 250014 *** | 國省代碼: | 山東;37 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測量 遮擋 渦旋 光束 拓撲 裝置 方法 | ||
1.一種測量被遮擋渦旋光束拓撲荷的裝置,其特征在于,包括:
激光器,用于產生激光光束;
空間光調制器,用于對激光光束加載渦旋相位,獲得渦旋光束;
不透明障礙物,用于對渦旋光束進行遮擋,獲得遮擋后的渦旋光束;
傅立葉透鏡,用于對遮擋后的渦旋光束進行聚焦傳輸,獲得光斑;
光電探測器,用于對光斑的相位進行探測,獲得光斑的相位奇點分布圖,根據相位奇點分布圖,獲知渦旋光束拓撲荷的大小和符號。
2.如權利要求1所述的一種測量被遮擋渦旋光束拓撲荷的裝置,其特征在于,還包括計算機,用于對相位奇點分布圖進行顯示。
3.如權利要求1所述的一種測量被遮擋渦旋光束拓撲荷的裝置,其特征在于,在傅立葉透鏡的后焦面,用光電探測器對光斑的相位進行探測。
4.如權利要求1所述的一種測量被遮擋渦旋光束拓撲荷的裝置,其特征在于,通過不透明障礙物對渦旋光束進行任意角度的遮擋。
5.如權利要求1所述的一種測量被遮擋渦旋光束拓撲荷的裝置,其特征在于,不透明障礙物為不透明的扇形障礙物。
6.如權利要求1所述的一種測量被遮擋渦旋光束拓撲荷的裝置,其特征在于,不透明障礙物建立了與遮擋角度相關聯的透過率函數。
7.如權利要求1所述的一種測量被遮擋渦旋光束拓撲荷的裝置,其特征在于,光電探測器采用CCD圖像傳感器。
8.一種測量被遮擋渦旋光束拓撲荷的方法,其特征在于,包括:
產生激光光束;
對激光光束加載渦旋相位,獲得渦旋光束;
對渦旋光束進行遮擋,獲得遮擋后的渦旋光束;
對遮擋后的渦旋光束進行聚焦傳輸,獲得光斑;
對光斑的相位進行探測,獲得光斑的相位奇點分布圖,根據相位奇點分布圖,獲知渦旋光束拓撲荷的大小和符號。
9.如權利要求8所述的一種測量被遮擋渦旋光束拓撲荷的方法,其特征在于,由相位奇點分布圖的奇點個數,獲知渦旋光束拓撲荷的大小;由相位奇點分布圖的奇點旋轉方向,獲知渦旋光束拓撲荷的符號。
10.如權利要求9所述的一種測量被遮擋渦旋光束拓撲荷的方法,其特征在于,當奇點的旋轉方向為順時針時,渦旋光束拓撲荷為正;當奇點的旋轉方向為逆時針時,渦旋光束拓撲荷為負。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于山東師范大學,未經山東師范大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011637706.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





