[發明專利]驅動器的校正器參數的調試方法、裝置及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202011637381.6
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN112859640A
• 公開（公告）日: 2021-05-28
• 發明（設計）人: 甘賽;陳迪;覃海濤
• 申請（專利權）人: 深圳市雷賽軟件技術有限公司;深圳市雷賽智能控制股份有限公司
• 主分類號: G05B17/02
• 分類號: G05B17/02
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 麥小嬋;郝傳鑫

1.一種驅動器的校正器參數的調試方法，其特征在于，包括：

根據輸入的驅動器的激勵與響應數據，生成驅動器的辨識模型；

根據所述辨識模型，生成辨識模型伯德圖；

根據選定的校正器的類型及預設的校正器參數，生成驅動器的校正器模型；

將所述校正器模型與所述辨識模型進行模型組合，得到驅動器的仿真模型；

根據所述仿真模型，生成仿真模型伯德圖；

根據所述辨識模型伯德圖與所述仿真模型伯德圖兩者的分析結果，對所述驅動器的校正器參數進行調整。

2.如權利要求1所述的驅動器的校正器參數的調試方法，其特征在于，在所述根據所述辨識模型伯德圖與所述仿真模型伯德圖兩者的分析結果，對所述驅動器的校正器參數進行調整之后，還包括：

根據當前的校正器的類型以及調整后的校正器參數，生成當前的驅動器的校正器模型；

將所述當前的校正器模型與所述辨識模型進行模型組合，得到當前的驅動器的仿真模型；

根據當前的仿真模型，生成當前的仿真模型伯德圖；

根據所述辨識模型伯德圖與歷史生成的仿真模型伯德圖的分析結果，再次對所述驅動器的校正器參數進行調整。

3.如權利要求2所述的驅動器的校正器參數的調試方法，其特征在于，在所述根據所述辨識模型伯德圖與歷史生成的仿真模型伯德圖的分析結果，再次對所述驅動器的校正器參數進行調整之后，還包括：

根據重新輸入的驅動器的激勵與響應數據，生成當前的驅動器的辨識模型，其中，重新輸入的驅動器的激勵與響應數據基于調整后的校正器參數所測試得到；

根據當前的辨識模型，生成當前的辨識模型伯德圖；

在當前的辨識模型伯德圖與所述仿真模型伯德圖兩者的分析結果滿足預設的目標調試狀態時，結束調試；

在當前的辨識模型伯德圖與所述仿真模型伯德圖兩者的分析結果不滿足預設的目標調試狀態時，再次對所述驅動器的校正器參數進行調整或者重新選定校正器類型，并返回至所述根據選定的校正器的類型及預設的校正器參數，生成驅動器的校正器模型步驟。

4.如權利要求1所述的驅動器的校正器參數的調試方法，其特征在于，所述辨識模型伯德圖與所述仿真模型伯德圖兩者的分析結果由用戶分析或調試裝置自動分析得到。

5.如權利要求1所述的驅動器的校正器參數的調試方法，其特征在于，辨識模型伯德圖和仿真模型伯德圖通過顯示裝置顯示。

6.一種驅動器的校正器參數的調試裝置，其特征在于，包括：

第一辨識模型生成模塊，用于根據輸入的驅動器的激勵與響應數據，生成驅動器的辨識模型；

第一辨識模型伯德圖生成模塊，用于根據所述辨識模型，生成辨識模型伯德圖；

第一校正器模型生成模塊，用于根據選定的校正器的類型及預設的校正器參數，生成驅動器的校正器模型；

第一仿真模型獲得模塊，用于將所述校正器模型與所述辨識模型進行模型組合，得到驅動器的仿真模型；

第一仿真模型伯德圖生成模塊，用于根據所述仿真模型，生成仿真模型伯德圖；

第一校正器參數調整模塊，用于根據所述辨識模型伯德圖與所述仿真模型伯德圖兩者的分析結果，對所述驅動器的校正器參數進行調整。

7.如權利要求6所述的驅動器的校正器參數的調試裝置，其特征在于，所述驅動器的校正器參數的調試裝置還包括：

第二校正器模型生成模塊，用于根據當前的校正器的類型以及調整后的校正器參數，生成當前的驅動器的校正器模型；

第二仿真模型獲得模塊，用于將所述當前的校正器模型與所述辨識模型進行模型組合，得到當前的驅動器的仿真模型；

第二仿真模型伯德圖生成模塊，用于根據當前的仿真模型，生成當前的仿真模型伯德圖；

第二校正器參數調整模塊，用于根據所述辨識模型伯德圖與歷史生成的仿真模型伯德圖的分析結果，再次對所述驅動器的校正器參數進行調整。