[發明專利]一種與方位角無關的偏振轉化裝置、實驗裝置及使用方法

在審

• 申請號: 202011635981.9
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN112666699A
• 公開（公告）日: 2021-04-16
• 發明（設計）人: 吳小虎;劉睿一;崔崢
• 申請（專利權）人: 山東高等技術研究院
• 主分類號: G02B26/00
• 分類號: G02B26/00;G02B27/28;G09B23/22
• 代理公司: 哈爾濱市陽光惠遠知識產權代理有限公司 23211
• 代理人: 孫莉莉

1.一種與方位角無關的偏振轉化裝置，其特征在于，包括：第一二分之一波片和第二二分之一波片，其中，所述第一二分之一波片的中心和所述第二二分之一波片的中心在一條直線上，所述第一二分之一波片和所述第二二分之一波片垂直于該條線，所述第一二分之一波片與所述第二二分之一波片之間相對旋轉角為45°。

2.根據權利要求1所述的與方位角無關的偏振轉化裝置，其特征在于，所述第一二分之一波片和所述第二二分之一波片結構一致。

3.根據權利要求1所述的與方位角無關的偏振轉化裝置，其特征在于，所述第一二分之一波片與所述第二二分之一波片均可移動，若所述第一二分之一波片位置改變，則所述第二二分之一波片也發生改變，保證兩個二分之一波片之間旋轉角為45°，若所述第二二分之一波片位置改變，則所述第一二分之一波片也發生改變，保證兩個二分之一波片之間旋轉角為45°。

4.根據權利要求1所述的與方位角無關的偏振轉化裝置，其特征在于，當橫磁波入射時，無需調節二分之一波片光軸與入射面的方位角，所述橫磁波透過兩個相對旋轉角為45°的二分之一波片偏振轉化為橫電波。

5.根據權利要求4所述的與方位角無關的偏振轉化裝置，其特征在于，所述方位角在0°-360°中任一角度，所述橫磁波與所述橫電波之間均可相互偏振轉化。

6.一種與方位角無關的偏振轉化裝置的實驗裝置，其特征在于，包括：上述權利要求1-5中任一項所述的偏振轉化裝置、激光器、分束器、第一光功率計、第二光功率計和處理器，其中，

所述激光器用于發射橫磁波；

所述偏振轉化裝置置于所述激光器和所述分束器之間，用于使所述橫磁波轉化成橫電波；

所述分束器用于將所述偏振轉化裝置的透射波分為橫電波分量和橫磁波分量；

所述第一光功率計和所述第二光功率計均置于所述分束器之后，所述第一光功率計用于測量所述橫電波分量的強度，所述第二光功率計用于測量所述橫磁波分量的強度；

所述處理器與所述第一光功率計和所述第二光功率計連接，用于處理多個所述橫電波分量的強度和所述橫磁波分量的強度，獲得不同方位角下橫波分量透射率的平均值，進而確定所述偏振轉化裝置是否在任意方位角下實現完美偏振轉化。

7.一種與方位角無關的偏振轉化裝置的實驗裝置使用方法，其特征在于，基于權利要求6所述的實驗裝置，包括以下步驟：

利用所述激光器發射橫磁波；

使所述橫磁波透過所述偏振轉化裝置，得到透射波；

經由所述分束器將所述透射波分成橫磁波分量和橫電波分量；

利用所述第一光功率計和所述第二光功率計分別測量橫磁波分量的強度和橫電波分量的強度；

改變方位角，測量多個方位角下的橫磁波分量的強度和橫電波分量的強度；

通過所述處理器處理多個所述橫電波分量的強度和所述橫磁波分量的強度，獲得不同方位角下橫波分量透射率的平均值，進而確定所述偏振轉化裝置是否在任意方位角下實現完美偏振轉化。