[發(fā)明專利]一種芯片過(guò)流保護(hù)電路及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011635957.5 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN114696299A | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-07-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 姚維;代云啟;房后林 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 科大國(guó)盾量子技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H02H7/20 | 分類號(hào): | H02H7/20;H02H9/02;H02H3/08 |
| 代理公司: | 合肥市浩智運(yùn)專利代理事務(wù)所(普通合伙) 34124 | 代理人: | 鄭浩 |
| 地址: | 230000 安徽省合肥市高*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 芯片 保護(hù) 電路 方法 | ||
1.一種芯片過(guò)流保護(hù)電路,其特征在于,應(yīng)用于目標(biāo)芯片(7),包括:功率MOS管(1)、電流檢測(cè)單元(2)、限流閾值自適應(yīng)反饋單元(3)、遲滯比較單元(4)以及直流供電電源(5);功率MOS管(1)的漏極接直流供電電源(5),功率MOS管(1)的源極接電流檢測(cè)單元(2)的輸入端,功率MOS管(1)的柵極連接到限流閾值自適應(yīng)反饋單元(3)的輸出端;限流閾值自適應(yīng)反饋單元(3)的一個(gè)輸入端連接在功率MOS管(1)的源極,限流閾值自適應(yīng)反饋單元(3)的另一個(gè)輸入端與電流檢測(cè)單元(2)的一個(gè)輸出端連接,電流檢測(cè)單元(2)的另一個(gè)輸出端與目標(biāo)芯片(7)連接;如果目標(biāo)芯片(7)工作電流過(guò)大,通過(guò)電流檢測(cè)單元(2)和限流閾值自適應(yīng)反饋單元(3)組成的反饋網(wǎng)絡(luò),控制功率MOS管(1)的漏極和源極間的導(dǎo)通電阻增大,從而增大漏極和源極間的電壓,達(dá)到降低目標(biāo)芯片(7)電壓的目的。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片過(guò)流保護(hù)電路,其特征在于,還包括控制器(6),遲滯比較單元(4)的輸出端與控制器(6)的輸入端連接,控制器(6)的輸出端與直流供電電源(5)的輸出使能腳連接,控制器接收到來(lái)自遲滯比較單元(4)的過(guò)流指示信號(hào),通過(guò)控制器(6)執(zhí)行直流供電電源(5)斷電。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片過(guò)流保護(hù)電路,其特征在于,所述的電流檢測(cè)單元(2)包括SHUNT電阻R1以及比較器芯片A1,SHUNT電阻R1的一端作為電流檢測(cè)單元(2)的輸入端連接在功率MOS管(1)的源極,SHUNT電阻R1的另一端與目標(biāo)芯片(7)連接,比較器芯片A1的兩個(gè)輸入端分別接在SHUNT電阻R1的兩端,比較器芯片A1的輸出端連接在限流閾值自適應(yīng)反饋單元(3)的輸入端。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種芯片過(guò)流保護(hù)電路,其特征在于,所述的限流閾值自適應(yīng)反饋單元(3)包括電阻分壓網(wǎng)絡(luò)(31)以及運(yùn)算放大器A2,電阻分壓網(wǎng)絡(luò)(31)的輸入端作為限流閾值自適應(yīng)反饋單元(3)的第一輸入端,連接功率MOS管(1)的源極,運(yùn)算放大器A2的反相輸入端作為限流閾值自適應(yīng)反饋單元(3)的第二輸入端,連接比較器芯片A1的輸出端,運(yùn)算放大器A2的正相輸入端與電阻分壓網(wǎng)絡(luò)(31)的輸出端連接,電阻分壓網(wǎng)絡(luò)(31)輸出限流閾值電壓Vth至運(yùn)算放大器A2的正相輸入端。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種芯片過(guò)流保護(hù)電路,其特征在于,所述的電阻分壓網(wǎng)絡(luò)(31)包括電阻R2、電阻R3、電阻R4;電阻R2、電阻R3、電阻R4構(gòu)成“Y”型結(jié)構(gòu),電阻R2與電阻R4串聯(lián)后,電阻R2的非串聯(lián)端連接在功率MOS管(1)的源極與SHUNT電阻R1之間,電阻R4的非串聯(lián)端連接在運(yùn)算放大器A2的正相輸入端;電阻R3的一端連接在電阻R2與電阻R4串聯(lián)公共點(diǎn),另一端接VDD電源。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種芯片過(guò)流保護(hù)電路,其特征在于,所述的遲滯比較單元(4)包括電阻R5、電阻R6以及運(yùn)算放大器A3;運(yùn)算放大器A3的反相輸入端連接在運(yùn)算放大器A2的輸出端,運(yùn)算放大器A3的正相輸入端連接電阻R5的一端,電阻R5的另一端作為參考電壓輸入端;電阻R6的一端連接在運(yùn)算放大器A3的正相輸入端,另一端連接在運(yùn)算放大器A3的輸出端。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片過(guò)流保護(hù)電路,其特征在于,所述的目標(biāo)芯片(7)是功放芯片、控制器芯片或者光電器件芯片。
8.一種采用權(quán)利要求1-7所述的芯片過(guò)流保護(hù)電路的芯片過(guò)流保護(hù)方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟S1:電流檢測(cè)單元(2)實(shí)時(shí)檢測(cè)流至目標(biāo)芯片(7)的工作電流,如果工作電流在正常范圍內(nèi),功率MOS管(1)飽和導(dǎo)通,目標(biāo)芯片(7)正常;
步驟S2:如果工作電流過(guò)大,通過(guò)電流檢測(cè)單元(2)和限流閾值自適應(yīng)反饋單元(3)組成的反饋網(wǎng)絡(luò),控制功率MOS管(1)的漏極和源極間的導(dǎo)通電阻增大,從而增大漏極和源極間的電壓,降低目標(biāo)芯片(7)的電壓。
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