[發明專利]一種用于雷達物位計標定裝置的全自動控制方法有效
| 申請號: | 202011635487.2 | 申請日: | 2020-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN113155240B | 公開(公告)日: | 2023-03-07 |
| 發明(設計)人: | 趙俊杰 | 申請(專利權)人: | 重慶川儀自動化股份有限公司 |
| 主分類號: | G01F25/20 | 分類號: | G01F25/20;G05B19/042 |
| 代理公司: | 重慶志合專利事務所(普通合伙) 50210 | 代理人: | 徐傳智 |
| 地址: | 400700*** | 國省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 雷達 物位計 標定 裝置 全自動 控制 方法 | ||
一種用于雷達物位計標定裝置的全自動控制方法,包括以下步驟:1)設置通訊協議類型;2)獲取待標定的雷達物位計的儀表信息,所述儀表信息包括儀表類型、傳感器類型、工位號、標定量程;3)根據所述儀表信息,設置待標定的雷達物位計的誤差閾值;4)按照下列步驟對待標定的雷達物位計進行校準:①選取多個距待標定的雷達物位計的實際距離不同的被測面;②利用待標定的雷達物位計測量多個被測面的實際距離,得到顯示距離,并讀取待標定的雷達物位計對應實際距離的實際電流值;③若被測面的實際距離與顯示距離之差的絕對值均大于誤差閾值,則將步驟②中得到的實際電流值替換待標定的雷達物位計中存儲的該顯示距離對應的理論電流值。
技術領域
本發明涉及工業自動化控制領域,具體涉及一種用于雷達物位計標定裝置的全自動控制方法。
背景技術
雷達物位計利用天線發射微波,接受被測物料面反射的回波后,根據回波從物料面反射回來經過的時間長短來計算物料面位置。由于雷達物位計測量范圍較大,難以用真實物料進行標定實驗,故在雷達物位計的標定實驗中常常采用反射板模擬物位面對雷達物位計發射的信號進行反射,通過調節反射板的距離來模擬物位面的變化對雷達物位計進行精度測試和校準。
目前,雷達物位計是物位測量市場的高端主流產品,應用廠家要求雷達物位計的生產廠家提供雷達物位計的出廠精度測試記錄或報告,而雷達物位計的出廠標定實驗過程復雜,利用雷達物位計標定裝置對待標定的雷達物位計進行標定時,人工肉眼對雷達物位計標定裝置中反射板的位置進行判斷后,對待標定的雷達物位計的測試距離對應的理論電流值進行調整,不但步驟繁瑣,生產效率極低,質量管控中的人為影響因素大,質量難以控制,而且對于最大測量距離 30 m 以上的雷達物位計,由于距離太大,難以模擬實際距離,只能采用定性的標定方法對雷達物位計的測量精度進行校準。
發明內容
本發明的目的是針對現有技術對應的不足,提供一種用于雷達物位計標定裝置的全自動控制方法,在雷達物位計的標定過程中,利用計算機進行控制處理,自動檢測標定過程的通訊是否正常,自動對雷達物位計進行電流和物位標定,實現雷達物位計調試過程中的全自動化,減少生產過程中的人為影響因素,便于雷達物位計的后期質量跟蹤和管控,降低了雷達物位計的生產成本。
本發明的目的是采用下述方案實現的:一種用于雷達物位計標定裝置的全自動控制方法,包括以下步驟:
1)設置通訊協議類型;
2)獲取待標定的雷達物位計的儀表信息,所述儀表信息包括儀表類型、傳感器類型、工位號、標定量程;
3)根據所述儀表信息,設置待標定的雷達物位計的誤差閾值;
4)按照下列步驟對待標定的雷達物位計進行校準:
① 選取多個距待標定的雷達物位計的實際距離不同的被測面;
② 利用待標定的雷達物位計測量多個被測面的實際距離,得到顯示距離,并讀取待標定的雷達物位計對應實際距離的實際電流值;
③ 若被測面的實際距離與顯示距離之差的絕對值均大于誤差閾值,則將步驟②中得到的實際電流值替換待標定的雷達物位計中存儲的該顯示距離對應的理論電流值。
所述通訊協議類型包括 HART協議、Modbus協議、FF協議,以及PROFIBUS-PA協議。
所述全自動控制方法采用單片機或者計算機進行,所述理論電流值存儲在待標定的雷達物位計的存儲芯片中。
所述標定量程為0~20m。
對待標定的雷達物位計進行校準前,按照下列步驟對待標定的雷達物位計的理論電流值進行校準:
1)讀取待標定的雷達物位計中顯示距離對應的理論電流值;
2)讀取待標定的雷達物位計電流輸出端輸出的輸出電流值;
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