[發明專利]一種基于FPGA的高精度flash擦寫時間獲取裝置有效
| 申請號： | 202011632921.1 | 申請日： | 2020-12-31 |
| 公開（公告）號： | CN112530513B | 公開（公告）日： | 2021-09-24 |
| 發明（設計）人： | 蔣雙泉;黎永健;劉佳慶 | 申請（專利權）人： | 芯天下技術股份有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/56 | 分類號： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 佛山市海融科創知識產權代理事務所(普通合伙) 44377 | 代理人： | 陳志超;唐敏珊 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市龍崗區園山街*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 fpga 高精度 flash 擦寫 時間 獲取 裝置 | ||
1.一種基于FPGA的高精度flash擦寫時間獲取裝置，其特征在于，包括：
主控單元，向拓展單元發送指令和接收拓展單元反饋的待測flash的測試信息；
拓展單元，接收并解析主控 單元發送過來的指令，將電壓配置指令發送至數字電位器，并根據解析后的指令將相應操作的指令發送給待測flash，以及讀回包括擦寫時間在內的相應操作結果；
所述拓展單元采用FPGA芯片；
所述拓展單元包括：
控制模塊，接收主控 單元發送過來的指令解析后發給插槽模塊，將電壓配置指令發送至數字電位器；
插槽模塊，接收控制模塊發送過來的指令，并根據解析后的指令將相應操作的指令發送給待測flash；
所述控制模塊與主控單元連接，控制模塊與插槽模塊連接，插槽模塊與待測試flash芯片模塊連接，控制模塊與數字電位器連接；
數字電位器，將電壓調節到適合拓展單元工作的電壓狀態；
待測試flash芯片模塊，在待測試芯片模塊內安插待測flash；
在擦除和編程測試操作中，插槽模塊將操作信息發送給待測flash后，插槽模塊內的計數器開始計數，每個系統時鐘計數一次；同時插槽模塊發送讀狀態寄存器指令給待測flash，直到插槽模塊檢測到待測flash的狀態寄存器的WIP位為0時停止計數，根據計數和時鐘周期相乘得出待測flash的操作時間。
2.根據權利要求1所述的基于FPGA的高精度flash擦寫時間獲取裝置，其特征在于，所述主控單元采用MCU。
3.根據權利要求1或2任一所述的基于FPGA的高精度flash擦寫時間獲取裝置，其特征在于，所述主控單元采用STM32單片機。
4.根據權利要求3所述的基于FPGA的高精度flash擦寫時間獲取裝置，其特征在于，所述主控單元與控制模塊之間通過qspi接口進行通信。
5.根據權利要求3所述的基于FPGA的高精度flash擦寫時間獲取裝置，其特征在于，所述控制模塊和插槽模塊之間使用apb總線或普通接口進行通信。
6.根據權利要求3所述的基于FPGA的高精度flash擦寫時間獲取裝置，其特征在于，所述控制模塊與數字電位器之間通過spi接口通訊連接。
7.根據權利要求3所述的基于FPGA的高精度flash擦寫時間獲取裝置，其特征在于，所述插槽模塊與待測試flash芯片模塊之間通過SPI接口通訊連接。
8.根據權利要求1所述的基于FPGA的高精度flash擦寫時間獲取裝置，其特征在于，所述數字電位器的型號為AD5160。
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