[發明專利]電子元器件故障管理方法以及裝置

在審

• 申請號: 202011628144.3
• 申請日: 2020-12-30
• 公開（公告）號: CN112632843A
• 公開（公告）日: 2021-04-09
• 發明（設計）人: 孟苓輝;周振威;何世烈;陳媛;賀致遠;黃云;路國光;時林林;劉俊斌;俞鵬飛
• 申請（專利權）人: 中國電子產品可靠性與環境試驗研究所（（工業和信息化部電子第五研究所）（中國賽寶實驗室））
• 主分類號: G06F30/25
• 分類號: G06F30/25;G06F30/27;G06Q10/04;G06Q10/00;G06K9/62;G06F119/02
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 郭鳳杰

1.一種電子元器件故障管理方法，其特征在于，包括：

獲取電子元器件的關鍵特征信息；

根據所述關鍵特征信息進行初步異常預警；

根據所述關鍵特征信息進行剩余壽命預測；

根據所述初步異常預警以及所述剩余壽命預測獲取綜合的預測性管理方案。

2.根據權利要求1所述的電子元器件故障管理方法，其特征在于，所述根據所述關鍵特征信息進行初步異常預警，包括：

對所述關鍵特征信息進行預處理，并提取主元特征信息；

根據所述主元特征信息進行初步異常預警。

3.根據權利要求2所述的電子元器件故障管理方法，其特征在于，所述對所述關鍵特征信息進行預處理，并提取主元特征信息，包括：

通過對所述關鍵特征信息進行主成分分析，提取主元特征信息。

4.根據權利要求3所述的電子元器件故障管理方法，其特征在于，所述根據所述主元特征信息進行初步異常預警，包括:

基于各主元特征值組成的樣本的標準差，確定所述初步異常預警的閾值；

根據所述主元特征信息，計算監測樣本與均值樣本之間的馬氏距離，所述監測樣本基于各主元特征的監測值組成，所述均值樣本基于各主元特征的均值組成；

比較所述馬氏距離與所述異常閾值，判斷是否進行初步異常預警。

5.根據權利要求1所述的電子元器件故障管理方法，其特征在于，所述根據所述關鍵特征信息進行剩余壽命預測，包括：

根據所述關鍵特征信息以及壽命模型，進行剩余壽命預測。

6.根據權利要求5所述的電子元器件故障管理方法，其特征在于，所述壽命模型的建立方法包括：

對故障前后的關鍵特征信息進行提取與融合，形成所述故障的特征因子；

根據所述特征因子，進行壽命預測學習，建立壽命模型。

7.根據權利要求6所述的電子元器件故障管理方法，其特征在于，所述壽命預測學習基于粒子濾波算法。

8.一種電子元器件故障預測與健康管理裝置，用于實現權利要求1-7任一項所述的方法，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取電子元器件的關鍵特征信息；

預警預測模塊，連接所述獲取模塊，包括異常預警單元與剩余壽命預測單元，所述異常預警單元用于根據所述關鍵特征信息進行初步異常預警，所述剩余壽命預測單元用于根據所述關鍵特征信息進行剩余壽命預測；

管理模塊，連接所述異常預警單元與所述剩余壽命預測單元，用于根據所述初步異常預警以及所述剩余壽命預測獲取綜合的預測性管理方案。

9.根據權利要求8所述的電子元器件故障預測與健康管理裝置，其特征在于，所述異常預警單元包括FPGA，所述剩余壽命預測單元包括DSP。

10.根據權利要求8所述的電子元器件故障預測與健康管理裝置，其特征在于，所述獲取模塊包括：

檢測單元，用于在線檢測所述電子元器件，并將檢測信息轉換為電壓信號而發出；

處理單元，連接所述檢測單元，用于接受并處理所述電壓信號；

模數轉換單元，連接所述處理單元，用于將處理后的所述電壓信號轉換為關鍵特征信息。