[發明專利]一種超表面結構鏡片的檢測裝置及其檢測方法

在審

• 申請號: 202011626718.3
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN112834176A
• 公開（公告）日: 2021-05-25
• 發明（設計）人: 陳冠南
• 申請（專利權）人: 陳冠南
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01N21/84
• 代理公司: 成都時譽知識產權代理事務所(普通合伙) 51250
• 代理人: 葉斌

1.一種超表面結構鏡片的檢測裝置，其特征在于，所述超表面結構鏡片的檢測裝置包括數據采集裝置、連續譜激光器和數據分析裝置，所述連續譜激光器通過光纖連接數據采集裝置，所述數據分析裝置分別與所述數據采集裝置和所述連續譜激光器通訊連接。

2.根據權利要求1所述的超表面結構鏡片的檢測裝置，其特征在于，所述數據采集裝置包括平面移動裝置、檢測探頭、升降裝置、鏡片放置平臺和圖像采集設備。

3.根據權利要求2所述的超表面結構鏡片的檢測裝置，其特征在于，所述平面移動裝置11包括X軸導軌、X軸移動模塊、Y軸導軌和Y軸移動模塊，所述檢測探頭安裝在所述Y軸移動模塊上。

4.根據權利要求3所述的超表面結構鏡片的檢測裝置，其特征在于，所述X軸移動模塊采用直線電機的驅動方式進行驅動，所述Y軸移動模塊采用精密滾珠絲杠驅動方式進行驅動，所述平面移動裝置可以實現精度為50微米的移動。

5.根據權利要求2所述的超表面結構鏡片的檢測裝置，其特征在于，所述檢測探頭通過光纖從所述連續譜激光器接收特定波長的光線。

6.根據權利要求2所述的超表面結構鏡片的檢測裝置，其特征在于，所述鏡片放置平臺設置有上下通透的放置槽，所述放置槽設置有邊緣托架，用于托住鏡片。

7.根據權利要求2所述的超表面結構鏡片的檢測裝置，其特征在于，所述圖像采集設備用于采集鏡片在特定波長的光線的照射下產生的圖像，通過所述圖像可以看出光線的聚焦點。

8.根據權利要求1-7中任一項所述的超表面結構鏡片的檢測裝置，其特征在于，所述連續譜激光器的輸出光譜范圍可覆蓋320-2400nm，所述連續譜激光器內設置有濾光片組，通過所述數據分析裝置控制所述濾光片組，可以實現輸出波長的連續可調。

9.一種超表面結構鏡片的檢測方法，基于權利要求1-8中任一項所述的超表面結構鏡片的檢測裝置，所述超表面結構鏡片的檢測方法具體包括如下步驟：

1)根據鏡片的具體大小，將鏡片劃分為多個檢測區域，根據檢測需求，確定所述連續譜激光器需要輸出的多個波長的光線；

2)平面移動裝置將檢測探頭移動到初始位置，按照劃分的檢測區域依次進行數據采集，在特定的檢測區域，所述連續譜激光器會按照從小到大的順序依次輸出設定好的多個波長的光線，檢測探頭將光線傳輸至鏡片的特定區域，圖像采集設備依次采集在各個波長的光線照射下產生的圖像，并將圖像傳輸給所述數據分析裝置；

3)數據采集完成后，所述數據分析裝置進行數據分析和評估。

10.根據權利要求9所述的超表面結構鏡片的檢測方法，其特征在于，所述數據分析裝置進行數據分析和評估具體包括：(1)將圖像數據按照光線的波長進行分類；(2)針對特定波長的圖像數據，通過比較不同位置的圖像，判斷鏡片針對特定波長的光線的顯示均勻性，將不同位置的圖像進行疊加，獲得能夠反映鏡片針對特定波長的光線的聚焦效果的綜合圖像；(3)綜合鏡片針對不同波長的光線的顯示均勻性，判斷鏡片的整體顯示均勻性，綜合鏡片針對不同波長的光線的聚焦效果，判斷聚焦點是否唯一，評估鏡片的色偏糾正能力，以及在哪個波長范圍內鏡片能夠取得較好的色偏糾正效果。