[發(fā)明專利]一種標定塊、機器人標定方法、標定裝置以及存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011626490.8
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN112692833B
• 公開（公告）日: 2022-04-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李育勝;楊林;朱林楠;莊園;陳凌之
• 申請（專利權(quán)）人: 廣東美的白色家電技術(shù)創(chuàng)新中心有限公司;美的集團股份有限公司
• 主分類號: B25J9/16
• 分類號: B25J9/16
• 代理公司: 深圳市威世博知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44280
• 代理人: 鐘子敏

1.一種機器人標定方法，其特征在于，所述方法利用標定塊進行標定，其中，所述標定塊包括：底座，具有一表面；至少一凸塊，凸出于所述表面，所述凸塊具有傾斜于所述表面且相鄰的至少兩個斜面，所述至少兩個斜面均朝向所述凸塊的底面中心傾斜；所述至少兩個斜面、所述表面具有若干三面交點，所述若干三面交點中的至少部分與所述表面距離不同，構(gòu)成所述標定塊的標定點；所述表面定義為第一平面，所述凸塊具有平行于所述第一平面的頂面，所述頂面定義為第二平面，所述方法包括：

獲取標定塊的深度圖像；其中，所述深度圖像由一個深度相機采集得到；

從所述深度圖像中，提取所述凸塊的底面所在的第一平面，以及對所述深度圖像進行深度截取，得到在所述底面和所述頂面之間的兩個中間平面；

對所述兩個中間平面中的任意一個進行限縮，確定所述頂面所在的第二平面，以及根據(jù)所述兩個中間平面的輪廓，得到連接所述兩個中間平面的至少兩個斜面；

基于至少兩個斜面、所述第一平面和所述第二平面形成的若干三面交點，確定標定點；

根據(jù)所述標定點的相機坐標、和機器人末端在同一所述標定點的機器人坐標，確定坐標轉(zhuǎn)換關(guān)系，以對所述深度相機和所述機器人進行標定。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，

所述從所述深度圖像中，提取所述凸塊的底面所在的第一平面，包括：

提取所述深度圖像中的第一輪廓；

提取所述第一輪廓中的多個第一坐標點；

根據(jù)所述第一輪廓和所述多個第一坐標點，確定所述第一平面。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，

所述對所述深度圖像進行深度截取，得到在所述底面和所述頂面之間的兩個中間平面，包括：

在所述第一平面和所述第二平面之間進行深度截取，得到第二輪廓；

提取所述第二輪廓中的多個第二坐標點；

根據(jù)所述第二輪廓和所述多個第二坐標點，確定第一中間平面；以及

在所述第一平面和所述第二平面之間進行深度截取，得到第三輪廓；

提取所述第三輪廓中的多個第三坐標點；

根據(jù)所述第三輪廓和所述多個第三坐標點，確定第二中間平面。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，

所述根據(jù)所述兩個中間平面的輪廓，得到連接所述兩個中間平面的至少兩個斜面，包括：

從所述第二輪廓中提取第一條邊，以及從所述第三輪廓中提取與所述第一條邊對應(yīng)的第二條邊；

根據(jù)所述第一條邊和所述第二條邊確定相應(yīng)的一個斜面。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，

所述凸塊具有平行于所述第一平面的頂面，所述至少兩個斜面包括第一斜面、第二斜面、第三斜面和第四斜面；

所述第一斜面、所述第二斜面、所述第三斜面和所述第四斜面分別與所述第一平面相交形成第一相交線、第二相交線、第三相交線、第四相交線；

所述第一斜面、所述第二斜面、所述第三斜面和所述第四斜面分別與所述第二平面相交形成第五相交線、第六相交線、第七相交線、第八相交線；

所述第一相交線、第二相交線、第三相交線、第四相交線兩兩相交形成第一三面交點、第二三面交點、第三三面交點、第四三面交點；

所述第五相交線、第六相交線、第七相交線、第八相交線兩兩相交形成第五三面交點、第六三面交點、第七三面交點、第八三面交點。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，

所述第一相交線、第二相交線、第三相交線、第四相交線構(gòu)成第一矩形，所述第五相交線、第六相交線、第七相交線、第八相交線構(gòu)成第二矩形，所述第二矩形的面積小于所述第一矩形的面積、且所述第一矩形的每一條邊與對應(yīng)的所述第二矩形的一條邊之間的距離相等。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，

每個斜面與所述第一平面之間的夾角為20～40度。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，

所述凸塊的數(shù)量至少為兩個，至少兩個所述凸塊陣列分布。