[發明專利]一種滲透系數的確定方法、裝置及存儲介質有效
| 申請號: | 202011625598.5 | 申請日: | 2020-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN112816387B | 公開(公告)日: | 2022-07-12 |
| 發明(設計)人: | 吳廣平;袁鴻鵠;王彪;劉勇;張琦偉;姚旭初;張如滿;張弢;蔣少熠;孫洪升;汪琪;辛小春;魏紅 | 申請(專利權)人: | 北京市水利規劃設計研究院 |
| 主分類號: | G01N15/08 | 分類號: | G01N15/08 |
| 代理公司: | 北京潤平知識產權代理有限公司 11283 | 代理人: | 肖冰濱;王曉曉 |
| 地址: | 100048 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 滲透 系數 確定 方法 裝置 存儲 介質 | ||
1.一種坡洪積混合土滲透系數的確定方法,其特征在于,所述確定方法包括:
獲取所述坡洪積混合土的測試土樣;
基于所述測試土樣,確定用于區分所述測試土樣中的粗顆粒和細顆粒的區分粒徑;
對所述測試土樣中粒徑小于所述區分粒徑的顆粒進行分析,并根據分析結果確定與所述測試土樣的滲透參數相關聯的有效粒徑;以及
根據所述有效粒徑與所述滲透參數之間的關聯關系,采用如下公式確定所述測試土樣的滲透系數:
k=Cd10(a+bt)
其中,k為所述滲透系數,C、a、b為常數系數,d10為所述有效粒徑,t為水溫。
2.根據權利要求1所述的確定方法,其特征在于,所述測試土樣包括深層地表土樣和/或淺層地表土樣。
3.根據權利要求1所述的確定方法,其特征在于,所述基于所述測試土樣,確定用于區分所述測試土樣中的粗顆粒和細顆粒的區分粒徑,包括:
獲取所述測試土樣的顆粒分布,以得到所述測試土樣的第一顆粒分析曲線;以及
基于所述第一顆粒分析曲線,確定用于區分所述測試土樣中的粗顆粒和細顆粒的區分粒徑。
4.根據權利要求3所述的確定方法,其特征在于,所述獲取所述測試土樣的顆粒分布,以得到所述測試土樣的第一顆粒分析曲線,包括:
基于預設的多個顆分粒徑,對所述測試土樣進行顆分試驗,得到用于表征所述測試土樣顆粒分布的第一顆粒數據;
基于所述第一顆粒數據,得到所述測試土樣的第一顆粒分析曲線。
5.根據權利要求3所述的確定方法,其特征在于,所述基于所述第一顆粒分析曲線,確定所述測試土樣的區分粒徑,包括:
分析所述第一顆粒分析曲線的平緩曲線段,以得到所述平緩曲線段的前端點和后端點,其中,所述前端點所對應的第一粒徑大于所述后端點所對應的第二粒徑;以及
基于所述前端點所對應的第一粒徑和所述后端點所對應的第二粒徑,確定所述區分粒徑,所述區分粒徑大于等于所述第二粒徑且小于等于所述第一粒徑。
6.根據權利要求1所述的確定方法,其特征在于,所述對所述測試土樣中粒徑小于所述區分粒徑的顆粒進行分析,并根據分析結果確定與所述測試土樣的滲透參數相關聯的有效粒徑,包括:
基于所述區分粒徑,分析所述測試土樣中小于或者等于所述區分粒徑下的顆粒分布,以得到所述測試土樣的第二顆粒分析曲線;以及
基于所述第二顆粒分析曲線,確定所述測試土樣的有效粒徑。
7.根據權利要求6所述的確定方法,其特征在于,所述基于所述區分粒徑,分析所述測試土樣中小于或者等于所述區分粒徑下的顆粒分布,以得到所述測試土樣的第二顆粒分析曲線,包括:
基于所述區分粒徑,將所述測試土樣中小于或者等于所述區分粒徑的顆粒保留,得到所述測試土樣的第二顆粒數據;以及
基于所述第二顆粒數據,得到所述測試土樣的第二顆粒分析曲線。
8.一種坡洪積混合土滲透系數的確定裝置,其特征在于,所述確定裝置包括:
獲取單元,用于獲取所述坡洪積混合土的測試土樣;
第一確定單元,用于基于所述測試土樣,確定用于區分所述測試土樣中的粗顆粒和細顆粒的區分粒徑;
第二確定單元,用于對所述測試土樣中粒徑小于所述區分粒徑的顆粒進行分析,并根據分析結果確定與所述測試土樣的滲透參數相關聯的有效粒徑;以及
第三確定單元,用于根據所述有效粒徑與所述滲透參數之間的關聯關系,采用如下公式確定所述測試土樣的滲透系數:
k=Cd10(a+bt)
其中,k為所述滲透系數,C、a、b為常數系數,d10為所述有效粒徑,t為水溫。
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