[發(fā)明專利]一種基于高頻采樣的脈沖調(diào)制信號(hào)參數(shù)測(cè)量系統(tǒng)及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011625403.7 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-30 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112666403A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-04-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 樊光輝;韓立群 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海微波技術(shù)研究所(中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第五十研究所) |
| 主分類號(hào): | G01R29/02 | 分類號(hào): | G01R29/02 |
| 代理公司: | 上海段和段律師事務(wù)所 31334 | 代理人: | 李佳俊;郭國(guó)中 |
| 地址: | 200063 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 高頻 采樣 脈沖調(diào)制 信號(hào) 參數(shù) 測(cè)量 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種基于高頻采樣的脈沖調(diào)制信號(hào)參數(shù)測(cè)量方法,其特征在于,包括:
步驟M1:被測(cè)信號(hào)經(jīng)過(guò)前端電路,將高頻載波與本地載波進(jìn)行混頻變換為低頻的脈沖調(diào)制中頻載波信號(hào);
步驟M2:脈沖調(diào)制中頻載波信號(hào)經(jīng)過(guò)硬件檢波電路后,輸出周期脈沖信號(hào);
步驟M3:將周期脈沖信號(hào)輸入硬件高速采集卡信號(hào)輸入端,信號(hào)通過(guò)采集轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào),傳輸給上位機(jī)處理;
步驟M4:上位機(jī)對(duì)數(shù)字脈沖信號(hào)進(jìn)行基于跨閾值判斷的參數(shù)測(cè)量算法測(cè)量脈沖調(diào)制信號(hào)參數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于高頻采樣的脈沖調(diào)制信號(hào)參數(shù)測(cè)量方法,其特征在于,所述前端電路還包括保護(hù)電路和中頻調(diào)理放大電路;
所述保護(hù)電路和中頻調(diào)理放大電路將信號(hào)調(diào)理到安全的預(yù)設(shè)電平范圍內(nèi)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于高頻采樣的脈沖調(diào)制信號(hào)參數(shù)測(cè)量方法,其特征在于,所述步驟M3中高速采集卡包括:高速采集卡的信號(hào)采集頻率設(shè)置為能保證一個(gè)脈沖的上下邊沿范圍內(nèi)有預(yù)設(shè)采樣點(diǎn)數(shù);
所述高速采集卡包括高速采集卡的采樣模式為電平觸發(fā),當(dāng)被電平觸發(fā)后,采集的信號(hào)長(zhǎng)度超過(guò)一個(gè)完整脈沖周期長(zhǎng)度,保證特征參數(shù)計(jì)算過(guò)程中的信息量。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于高頻采樣的脈沖調(diào)制信號(hào)參數(shù)測(cè)量方法,其特征在于,所述步驟M4包括:
步驟M4.1:基于采集到的數(shù)字脈沖信號(hào)進(jìn)行跨閾值數(shù)據(jù)點(diǎn)搜索;
步驟M4.2:根據(jù)搜索得到的跨閾值數(shù)據(jù)點(diǎn)計(jì)算并記錄過(guò)閾值點(diǎn)的小數(shù)級(jí)的索引值;
步驟M4.3:根據(jù)過(guò)閾值點(diǎn)的小數(shù)級(jí)的索引值計(jì)算出脈沖的各個(gè)參數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于高頻采樣的脈沖調(diào)制信號(hào)參數(shù)測(cè)量方法,其特征在于,所述步驟M4.1包括:
步驟M4.1.1:采集的整個(gè)buf[k]數(shù)組信息是從低直流電平部分開(kāi)始的,進(jìn)行后續(xù)閾值點(diǎn)搜索時(shí),預(yù)設(shè)兩個(gè)邊沿上的電平閾值TH1和TH2;
步驟M4.1.2:從buf[k]的第一個(gè)數(shù)據(jù)buf[1]開(kāi)始進(jìn)行過(guò)閾值電平TH1的點(diǎn)A的遍歷檢測(cè);當(dāng)檢測(cè)到數(shù)據(jù)滿足條件buf[k]<TH1,buf[k+1]≥TH1,buf[k+t]>TH1時(shí),判定為上升沿的過(guò)TH1電平點(diǎn)A;其中,t≥2;當(dāng)過(guò)TH1閾值點(diǎn)A搜索到之后,記錄數(shù)據(jù)A點(diǎn)索引ka值,buf[ka]和buf[ka+1]值;
步驟M4.1.3:搜索過(guò)閾值TH2的下降沿C點(diǎn),當(dāng)檢測(cè)到的數(shù)據(jù)滿足條件buf[k]>TH2,buf[k+1]≤TH2,buf[k+t]<TH2,記錄數(shù)據(jù)C點(diǎn)索引kc值,buf[kc]和buf[kc+1]值;
步驟M4.1.4:搜索過(guò)閾值TH1的下降沿D點(diǎn),當(dāng)檢測(cè)到的數(shù)據(jù)滿足條件buf[k]>TH1,buf[k+1]≤TH1,buf[k+t]<TH1,記錄數(shù)據(jù)D點(diǎn)索引kd值,buf[kd]和buf[kd+1]值。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于高頻采樣的脈沖調(diào)制信號(hào)參數(shù)測(cè)量方法,其特征在于,所述步驟M4.2包括:
Ka=ka+|buf[ka]/(buf[ka+1]-buf[ka])|;
Kb=kb+|buf[kb]/(buf[kb+1]-buf[kb])|;
Kc=kc+|buf[kc]/(buf[kc+1]-buf[kc])|;
Kd=kd+|buf[kd]/(buf[kd+1]-buf[kd])|;
其中,||運(yùn)算為取絕對(duì)值。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于高頻采樣的脈沖調(diào)制信號(hào)參數(shù)測(cè)量方法,其特征在于,所述步驟M4.3包括:
上升沿寬度WR為:WR=1/fs*(Kb-Ka);
下降沿寬度WF為:WF=1/fs*(Kd-Kc);
脈沖寬度WP為:WP=1/fs*(Kc-Kb);
其中,fs表示信號(hào)采集的頻率。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R29-00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各組中的電量的測(cè)量或指示裝置
G01R29-02 .單個(gè)脈沖特性的測(cè)量,如脈沖平度的偏差、上升時(shí)間、持續(xù)時(shí)間
G01R29-04 .形狀因數(shù)的測(cè)量,即瞬時(shí)值的均方根值和算術(shù)平均值的商;峰值因數(shù)的測(cè)量,即最大值和均方根值的商
G01R29-06 .調(diào)制深度的測(cè)量
G01R29-08 .電磁場(chǎng)特性的測(cè)量
G01R29-12 .靜電場(chǎng)的測(cè)量





