[發明專利]一種可修正缺陷像元的多線線陣相機、方法及存儲介質

有效

• 申請號: 202011623920.0
• 申請日: 2020-12-30
• 公開（公告）號: CN112804426B
• 公開（公告）日: 2022-09-30
• 發明（設計）人: 郭慧;戚濤;張見;趙嚴;姚毅;楊藝
• 申請（專利權）人: 凌云光技術股份有限公司
• 主分類號: H04N5/225
• 分類號: H04N5/225;H04N5/367;H04N5/217
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理有限公司 11363
• 代理人: 逯長明;許偉群

1.一種可修正缺陷像元的多線線陣相機，其特征在于，包括：

線陣傳感器芯片，包括線性排列的像元，用于按行采集、或探測目標的圖像；控制器，被配置為：

識別所述線陣傳感器芯片中的主線、及輔線，若線陣傳感器芯片的線等于2線時，所述主線包含第一缺陷像元的數量最少，若線陣傳感器芯片的線大于2線時，所述主線包含第一缺陷像元的數量次小；所述輔線為包含缺陷像元位置與所述主線包含的所述第一缺陷像元位置不重疊的線；

在所述主線輸出成像時，計算所述輔線上對應于所述第一缺陷像元位置的窗口進行灰度梯度計算，得到多個方向的灰度梯度值，所述窗口為以所述第一缺陷像元位置為中心的正方形窗口，取所述灰度梯度值最小的方向的最臨近像元的均值作為第二像元，所述第二像元為校正效果與所述第一缺陷像元最接近的像元，控制所述輔線上對應于所述第一缺陷像元位置臨近灰度值變化最小的第二像元替換所述第一缺陷像元的成像，以生成所述主線的修正成像，其中，所述第二像元不包括所述主線成像方向的像元；

在識別所述線陣傳感器芯片中的主線、及輔線之前，獲取所述多線線陣相機的相對位移參數，及表示所述相對位移方向的方向參數，所述相對位移參數表示所述多線線陣相機對于同一目標物體在兩線成像上的行間距；

在所述多線線陣相機的行頻、目標物體的運動速度不匹配時，通過對所述輔線進行插值，得到與所述主線相同位置的像素點。

2.根據權利要求1所述可修正缺陷像元的多線線陣相機，其特征在于，所述控制器控制所述輔線上對應于所述第一缺陷像元位置臨近灰度值變化最小的第二像元替換所述第一缺陷像元的成像，包括所述控制器：

通過3×3圖像窗口計算所述輔線上對應于所述第一缺陷像元位置三個方向的灰度梯度值，所述三個反向包括水平方向、斜45度方向、斜135度方向；

將所述灰度梯度值最小的方向的最臨近像元作為第二像元，所述第二像元為校正效果與所述第一缺陷像元最接近的像元；

所述灰度梯度值最小的方向上包括兩個最臨近像元，取兩個最臨近像元的均值作為第二像元。

3.一種可修正缺陷像元的方法，其特征在于，所述方法包括：

識別線陣傳感器芯片中的主線、及輔線，若線陣傳感器芯片的線等于2線時，所述主線包含第一缺陷像元的數量最少，若線陣傳感器芯片的線大于2線時，所述主線包含第一缺陷像元的數量次小，所述輔線為包含缺陷像元位置與所述主線包含的所述第一缺陷像元位置不重疊的線；

在所述主線輸出成像時，計算所述輔線上對應于所述第一缺陷像元位置的窗口進行灰度梯度計算，得到多個方向的灰度梯度值，所述窗口為以所述第一缺陷像元位置為中心的正方形窗口，取所述灰度梯度值最小的方向的最臨近像元的均值作為第二像元，所述第二像元為校正效果與所述第一缺陷像元最接近的像元，控制所述輔線上對應于所述第一缺陷像元位置臨近灰度值變化最小的第二像元替換所述第一缺陷像元的成像，以生成所述主線的修正成像，其中，所述第二像元不包括所述主線成像方向的像元；

在識別所述線陣傳感器芯片中的主線、及輔線之前，獲取所述多線線陣相機的相對位移參數，及表示所述相對位移方向的方向參數，所述相對位移參數表示所述多線線陣相機對于同一目標物體在兩線成像上的行間距；

在所述多線線陣相機的行頻、目標物體的運動速度不匹配時，通過對所述輔線進行插值，得到與所述主線相同位置的像素點。

4.根據權利要求3所述可修正缺陷像元的方法，其特征在于，控制所述輔線上對應于所述第一缺陷像元位置臨近灰度值變化最小的第二像元替換所述第一缺陷像元的成像，包括：

通過3×3圖像窗口計算所述輔線上對應于所述第一缺陷像元位置三個方向的灰度梯度值，所述三個反向包括水平方向、斜45度方向、斜135度方向；

將所述灰度梯度值最小的方向的最臨近像元作為第二像元，所述第二像元為校正效果與所述第一缺陷像元最接近的像元；

所述灰度梯度值最小的方向上包括兩個最臨近像元，取兩個最臨近像元的均值作為第二像元。

5.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該程序被計算機執行以實現如權利要求3-4中任一項所述方法。