[發明專利]加熱設備及其異常檢測方法、裝置、電子設備和存儲介質

在審

• 申請號: 202011623690.8
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN114689207A
• 公開（公告）日: 2022-07-01
• 發明（設計）人: 關卓鈞;劉冠華
• 申請（專利權）人: 佛山市順德區美的電熱電器制造有限公司
• 主分類號: G01K13/00
• 分類號: G01K13/00;G01K3/08;G06F30/20;G06F17/18
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 吳歡燕

1.一種加熱設備的溫度異常檢測方法，其特征在于，包括：

獲取加熱設備的實際溫度值，所述實際溫度值包括當前時刻對應的當前實際溫度值，以及在所述當前時刻之前設定時長內對應的歷史實際溫度值；

基于所述實際溫度值獲取理論溫度值，所述理論溫度值包括與所述當前實際溫度值對應的當前理論溫度值；

基于所述當前實際溫度值與所述當前理論溫度值之間的關系滿足設定關系，判定所述加熱設備的溫度異常。

2.根據權利要求1所述的加熱設備的溫度異常檢測方法，其特征在于，所述獲取加熱設備的實際溫度值的步驟中，對所述當前實際溫度值和所述歷史實際溫度值按時間先后順序排序。

3.根據權利要求1所述的加熱設備的溫度異常檢測方法，其特征在于，所述基于所述實際溫度值獲取理論溫度值的步驟，包括：

建立所述實際溫度值以及于所述實際溫度值對應的時間戳之間的線性回歸模型；

基于所述線性回歸模型獲取所述當前理論溫度值。

4.根據權利要求3所述的加熱設備的溫度異常檢測方法，其特征在于，所述建立所述實際溫度值以及于所述實際溫度值對應的時間戳之間的線性回歸模型的步驟，包括：

基于線性回歸方程：T_i＝k*t_i+b計算k和b的最小二乘解k₀和b₀；其中，i＝1，2，3，…，n，指代的是所述實際溫度值的序列號，且所述當前實際溫度值的序列號為n；T_i為所述加熱設備的第i個實際溫度值；k和b為所述線性回歸方程當中的常數；t_i為所述加熱設備的第i個實際溫度值對應的時間戳；

所述基于所述線性回歸模型獲取所述當前理論溫度值的步驟，包括：

基于公式k₀*t_n+b₀獲取所述當前理論溫度值。

5.根據權利要求1至4中任意一項所述的加熱設備的溫度異常檢測方法，其特征在于，所述基于所述當前實際溫度值與所述當前理論溫度值之間的關系滿足設定關系，判定所述加熱設備的溫度異常的步驟，包括：

獲取所述理論溫度值以及與之對應的所述實際溫度值的殘差序列，其中，所述理論溫度值包括與所述歷史實際溫度值對應的歷史理論溫度值；對所述殘差序列進行標準化處理；基于所述標準化處理得到當前殘差標準化值大于第一設定參數，判定所述加熱設備的溫度異常升高，或者，基于所述標準化處理得到當前殘差標準化值小于第二設定參數，判定所述加熱設備的溫度異常降低；

和/或，

基于所述當前實際溫度值大于所述設定時長內所述實際溫度值的上側分位數，判定所述加熱設備的溫度異常升高，或者，基于所述當前實際溫度值小于所述設定時長內所述實際溫度值的下側分位數，判定所述加熱設備的溫度異常降低。

6.根據權利要求5所述的加熱設備的溫度異常檢測方法，其特征在于，所述獲取所述理論溫度值以及與之對應的所述實際溫度值的殘差序列的步驟中，基于公式：

r＝{k₀*t_i+b₀-T_i|i＝1，2，3，...，n}，

獲取理論溫度值和實際溫度值之間的殘差序列，r為所述理論溫度值與所述實際溫度值的殘差值按照序號順序排列獲得的殘差序列，殘差序列r包括r_i，r_i＝k₀*t_i+b₀-T_i，其中，i＝1，2，3，...，n；

所述對所述殘差序列進行標準化處理的步驟中，獲取所述殘差序列的均值μ與標準差S，基于公式對所述殘差序列標準化，其中，為第i個殘差標準化值，i＝1，2，3，…n；

所述基于所述標準化處理得到當前殘差標準化值大于第一設定參數，判定所述加熱設備的溫度異常升高的步驟中，獲取基于判定所述加熱設備的溫度異常升高，為當前殘差標準化值；

所述基于所述標準化處理得到當前殘差標準化值小于第二設定參數，判定所述加熱設備的溫度異常降低的步驟中，獲取基于判定所述加熱設備的溫度異常降低。