[發(fā)明專利]一種重影測量方法、裝置、可讀存儲介質和計算機設備

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011620646.1
• 申請日: 2020-12-31
• 公開（公告）號: CN112734680A
• 公開（公告）日: 2021-04-30
• 發(fā)明（設計）人: 劉鷺;牛磊
• 申請（專利權）人: 合肥視涯技術有限公司
• 主分類號: G06T5/30
• 分類號: G06T5/30;G06T5/00
• 代理公司: 北京匯思誠業(yè)知識產(chǎn)權代理有限公司 11444
• 代理人: 汪源

本發(fā)明實施例提供了一種重影測量方法、裝置、可讀存儲介質和計算機設備。本發(fā)明實施例提供的技術方案中，獲取圖像采集設備采集的目標圖像，通過腐蝕算法和互相關算法對所述目標圖像進行計算，以生成所述目標圖像的互相關曲線，根據(jù)所述互相關曲線生成重影對比度和重影距離。本發(fā)明實施例能夠有效表征重影的嚴重程度，且抗干擾能力強。

【技術領域】

本發(fā)明涉及頭戴顯示器領域，尤其涉及一種重影測量方法、裝置、可讀存儲介質和計算機設備。

【背景技術】

影響光學系統(tǒng)成像質量的雜散光包括重影、鬼像和眩光。目前針對雜散光的測試方法可以參考國際標準化組織(International Standard Organization，ISO)標準。ISO標準可以有效反饋眩光和鬼像對成像質量的影響，但對重影無法有效表征。尤其在頭戴顯示設備中，幾乎沒有眩光現(xiàn)象，但重影問題卻嚴重。

因此，相關技術無法有效表征重影的嚴重程度。

【發(fā)明內容】

有鑒于此，本發(fā)明實施例提供了一種重影測量方法、裝置、可讀存儲介質和計算機設備，能夠有效表征重影的嚴重程度，且抗干擾能力強。

第一方面，本發(fā)明實施例提供了一種重影測量方法，所述方法包括：

獲取圖像采集設備采集的目標圖像；

通過腐蝕算法和互相關算法對所述目標圖像進行計算，以生成所述目標圖像的互相關曲線；；

根據(jù)所述互相關曲線生成重影對比度和重影距離。

可選地，所述目標圖像包括第一圖像和第二圖像；所述第一圖像包括橫線，所述第二圖像包括縱線。

可選地，所述通過腐蝕算法和互相關算法對所述目標圖像進行計算，以生成所述目標圖像的互相關曲線，具體包括：

通過所述腐蝕算法對所述第一圖像進行計算生成第三圖像，以消除所述第一圖像中的重影；

通過所述腐蝕算法對所述第二圖像進行計算生成第四圖像，以消除所述第二圖像中的重影；

通過所述互相關算法對所述第一圖像和所述第三圖像進行計算，以生成所述第一圖像和所述第三圖像沿縱方向的第一互相關曲線；

通過所述互相關算法對所述第二圖像和所述第四圖像進行計算，以生成所述第二圖像和所述第四圖像沿橫方向的第二互相關曲線。

可選地，所述根據(jù)所述互相關曲線生成重影對比度和重影距離之前，還包括：

讀取所述互相關曲線中的最高峰值和第二高峰值的峰值對比度和峰值距離。

可選地，所述讀取所述互相關曲線中的最高峰值和第二高峰值的的峰值對比度和峰值距離，具體包括：

讀取第一互相關曲線中的最高峰值的和第二高峰值的第一峰值對比度和第一峰值距離；

讀取第二互相關曲線中的最高峰值的和第二高峰值的第二峰值對比度和第二峰值距離。

可選地，所述根據(jù)所述互相關曲線生成重影對比度和重影距離，具體包括：

通過重影對比度公式對第一峰值對比度和第二峰值對比度進行計算得到所述重影對比度；

通過重影距離公式對第一峰值距離和第二峰值距離進行計算得到所述重影距離。

可選地，所述重影對比度公式包括：

M＝max{M_v,M_h}

其中，所述M為所述重影對比度，所述M_v為所述第一峰值對比度，所述M_h為所述第二峰值對比度。