[發(fā)明專利]一種探測(cè)器陣列異常像素的識(shí)別方法

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011613076.3
• 申請(qǐng)日: 2020-12-29
• 公開（公告）號(hào): CN112748441A
• 公開（公告）日: 2021-05-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 雷述宇
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 寧波飛芯電子科技有限公司
• 主分類號(hào): G01S17/32
• 分類號(hào): G01S17/32;G01S7/497;G01S7/4914;G01S7/481
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種探測(cè)器陣列異常像素的識(shí)別方法，其特征在于，包含陣列型探測(cè)模塊，所述陣列型探測(cè)模塊包含多個(gè)像素單元，所述多個(gè)像素單元均包含不少于兩個(gè)的返回光轉(zhuǎn)化通道；識(shí)別模塊，依照所述至少之一通道傳遞函數(shù)轉(zhuǎn)化的探測(cè)結(jié)果和/或所述不少于兩個(gè)轉(zhuǎn)化通道的傳遞函數(shù)轉(zhuǎn)化的探測(cè)結(jié)果的比值輸出像素單元是否為異常的判定結(jié)果。

2.如權(quán)利要求1所述的探測(cè)器陣列異常像素的識(shí)別方法，其特征在于，所述識(shí)別模塊的判定依據(jù)包含至少之一通道傳遞函數(shù)轉(zhuǎn)化的探測(cè)結(jié)果，所述至少之一通道傳遞函數(shù)轉(zhuǎn)化的探測(cè)結(jié)果經(jīng)所述通道傳遞函數(shù)轉(zhuǎn)化后的結(jié)果不包含交疊部分。

3.如權(quán)利要求2所述的探測(cè)器陣列異常像素的識(shí)別方法，其特征在于，光源輸出第一發(fā)射頻率范圍內(nèi)的發(fā)射頻率和/或第一占空比范圍內(nèi)的占空比輸出的發(fā)射光，所述輸出的發(fā)射光返回光信號(hào)經(jīng)所述通道傳遞函數(shù)轉(zhuǎn)化后的結(jié)果不包含交疊部分。

4.如權(quán)利要求3所述的探測(cè)器陣列異常像素的識(shí)別方法，其特征在于，所述第一發(fā)射頻率范圍為100KHz-1MHz。

5.如權(quán)利要求3所述的探測(cè)器陣列異常像素的識(shí)別方法，其特征在于，所述第一占空比范圍為5％-50％。

6.如權(quán)利要求2所述的探測(cè)器陣列異常像素的識(shí)別方法，其特征在于，所述至少之一通道傳遞函數(shù)轉(zhuǎn)化的探測(cè)結(jié)果為不同距離下返回光轉(zhuǎn)化的電壓輸出信號(hào)。

7.如權(quán)利要求1所述的探測(cè)器陣列異常像素的識(shí)別方法，其特征在于，所述識(shí)別模塊的判定依據(jù)包含所述不少于兩個(gè)轉(zhuǎn)化通道的傳遞函數(shù)轉(zhuǎn)化的探測(cè)結(jié)果的比值，所述不少于兩個(gè)轉(zhuǎn)化通道的傳遞函數(shù)轉(zhuǎn)化的探測(cè)結(jié)果對(duì)應(yīng)于相同的被探測(cè)目標(biāo)。

8.如權(quán)利要求7所述的探測(cè)器陣列異常像素的識(shí)別方法，其特征在于，所述不少于兩個(gè)轉(zhuǎn)化通道的傳遞函數(shù)轉(zhuǎn)化的探測(cè)結(jié)果由均勻光發(fā)射光對(duì)應(yīng)的返回光信號(hào)獲得。

9.如權(quán)利要求7所述的探測(cè)器陣列異常像素的識(shí)別方法，其特征在于，所述不少于兩個(gè)轉(zhuǎn)化通道的傳遞函數(shù)轉(zhuǎn)化的探測(cè)結(jié)果的比值包含第一預(yù)設(shè)比值范圍，當(dāng)至少之一像素的所述比值超過所述比值范圍時(shí)，所述識(shí)別模塊輸出該像素為異常像素。

10.如權(quán)利要求9所述的探測(cè)器陣列異常像素的識(shí)別方法，其特征在于，所述第一預(yù)設(shè)比值范圍為0.4-2.5。