[發(fā)明專利]接近檢測(cè)電路、可穿戴設(shè)備和接近檢測(cè)方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011612448.0
• 申請(qǐng)日: 2020-12-30
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112305320A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-02-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 唐玲裕
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市匯頂科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R27/26
• 分類號(hào): G01R27/26;G01V3/00
• 代理公司: 北京龍雙利達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11329
• 代理人: 孫濤;毛威

本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N接近檢測(cè)電路，能夠提高可穿戴設(shè)備中的接近檢測(cè)電路的檢測(cè)性能。接近檢測(cè)電路設(shè)置于可穿戴設(shè)備中，并與多個(gè)檢測(cè)通道相連，該接近檢測(cè)電路包括：自容驅(qū)動(dòng)電路，用于向第一檢測(cè)通道輸入自容驅(qū)動(dòng)信號(hào)，第一檢測(cè)通道上連接ESD保護(hù)電路，第一檢測(cè)通道在自容驅(qū)動(dòng)信號(hào)的作用下輸出的自容檢測(cè)信號(hào)關(guān)聯(lián)于自容變化量和ESD保護(hù)電路受光照所引起的電容變化量；互容驅(qū)動(dòng)電路，用于向第一檢測(cè)通道和第二檢測(cè)通道中的一個(gè)檢測(cè)通道輸出互容驅(qū)動(dòng)信號(hào)，在互容驅(qū)動(dòng)信號(hào)的作用下，其中另一個(gè)檢測(cè)通道輸出的互容檢測(cè)信號(hào)關(guān)聯(lián)于互容變化量；及信號(hào)處理電路，用于根據(jù)自容檢測(cè)信號(hào)和互容檢測(cè)信號(hào)確定用戶是否接近可穿戴設(shè)備的檢測(cè)結(jié)果。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)實(shí)施例涉及電容檢測(cè)領(lǐng)域，并且更具體地，涉及一種接近檢測(cè)電路、可穿戴設(shè)備和接近檢測(cè)方法。

背景技術(shù)

在可穿戴設(shè)備，例如真無(wú)線立體聲（True Wireless Stereo，TWS）耳機(jī)中，通常利用接近檢測(cè)電路來(lái)檢測(cè)用戶對(duì)耳機(jī)的觸摸或靠近。接近檢測(cè)電路可以通過(guò)檢測(cè)耳機(jī)中的檢測(cè)電極對(duì)地的自電容的變化情況，以獲取用戶接近耳機(jī)的信息，從而確定耳機(jī)的佩戴情況和使耳機(jī)執(zhí)行相應(yīng)的操作，例如在檢測(cè)到耳機(jī)接近用戶耳朵時(shí)執(zhí)行播放操作，在檢測(cè)到耳機(jī)離開(kāi)用戶耳朵時(shí)執(zhí)行暫停播放的操作等。同時(shí)，為了實(shí)現(xiàn)電路保護(hù)，檢測(cè)電極通常連接靜電放電（Electrostatic Discharge，ESD）保護(hù)電路，ESD保護(hù)電路包括例如瞬態(tài)電壓抑制（Transient Voltage Suppression，TVS）二極管等保護(hù)器件。TVS二極管容易受到外界光照的影響，使其對(duì)地的電容發(fā)生變化，這種電容變化會(huì)對(duì)檢測(cè)電極的自電容的檢測(cè)結(jié)果造成影響，從而影響接近檢測(cè)電路的檢測(cè)性能。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種接近檢測(cè)電路、可穿戴設(shè)備和接近檢測(cè)方法，能夠提高可穿戴設(shè)備中的接近檢測(cè)電路的檢測(cè)性能。

第一方面，提供了一種接近檢測(cè)電路，設(shè)置于可穿戴設(shè)備中，所述接近檢測(cè)電路與所述可穿戴設(shè)備中的若干個(gè)檢測(cè)通道相連，所述若干個(gè)檢測(cè)通道中的至少部分檢測(cè)通道上連接有ESD保護(hù)電路，所述接近檢測(cè)電路包括：自容驅(qū)動(dòng)電路，用于向所述若干個(gè)檢測(cè)通道中待檢測(cè)的第一檢測(cè)通道輸入自容驅(qū)動(dòng)信號(hào)，所述第一檢測(cè)通道上連接有所述ESD保護(hù)電路，所述第一檢測(cè)通道在所述自容驅(qū)動(dòng)信號(hào)的作用下輸出的自容檢測(cè)信號(hào)，關(guān)聯(lián)于所述第一檢測(cè)通道的檢測(cè)電極的自電容相對(duì)于自容基礎(chǔ)電容的自容變化量以及所述ESD保護(hù)電路受光照所引起的電容變化量，所述自容基礎(chǔ)電容包括：沒(méi)有用戶接近所述第一檢測(cè)通道的檢測(cè)電極且所述ESD保護(hù)電路沒(méi)有受到光照時(shí)，所述第一檢測(cè)通道的檢測(cè)電極的自電容；互容驅(qū)動(dòng)電路，用于向所述第一檢測(cè)通道和第二檢測(cè)通道中的一個(gè)檢測(cè)通道輸出互容驅(qū)動(dòng)信號(hào)，其中，在所述互容驅(qū)動(dòng)信號(hào)的作用下，所述第一檢測(cè)通道和所述第二檢測(cè)通道中的另一個(gè)檢測(cè)通道輸出的互容檢測(cè)信號(hào)，關(guān)聯(lián)于互容變化量，所述互容變化量為所述第一檢測(cè)通道的檢測(cè)電極與所述第二檢測(cè)通道的檢測(cè)電極之間的互電容相對(duì)于互容基礎(chǔ)電容的互容變化量，所述互容基礎(chǔ)電容包括：沒(méi)有用戶接近所述第一檢測(cè)通道的檢測(cè)電極和所述第二檢測(cè)通道的檢測(cè)電極時(shí)，所述第一檢測(cè)通道的檢測(cè)電極與所述第二檢測(cè)通道的檢測(cè)電極之間的互電容；及信號(hào)處理電路，用于根據(jù)所述自容檢測(cè)信號(hào)和所述互容檢測(cè)信號(hào)確定用戶是否接近所述可穿戴設(shè)備的檢測(cè)結(jié)果。

檢測(cè)通道上連接的ESD保護(hù)電路中的ESD保護(hù)器件在受光照時(shí)，其電容也會(huì)發(fā)生變化，導(dǎo)致該檢測(cè)通道上的檢測(cè)電極的自容檢測(cè)結(jié)果受到影響。在該實(shí)施例中，接近檢測(cè)電路既會(huì)對(duì)檢測(cè)電極進(jìn)行自容檢測(cè)，也會(huì)對(duì)檢測(cè)電極進(jìn)行互容檢測(cè)，而由于互容檢測(cè)基本不會(huì)受到ESD保護(hù)器件的電容變化的影響，因此基于互容檢測(cè)和自容檢測(cè)的檢測(cè)信號(hào)共同確定最終的檢測(cè)結(jié)果，可以有效提高檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性，提高接近檢測(cè)電路的檢測(cè)性能。

在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述互容檢測(cè)信號(hào)用于判斷所述自容檢測(cè)信號(hào)是否有效。