[發明專利]一種用于對存儲器芯片進行測試的系統及方法

在審

• 申請號: 202011609332.1
• 申請日: 2020-12-30
• 公開（公告）號: CN112735505A
• 公開（公告）日: 2021-04-30
• 發明（設計）人: 李求洋;張蓬鶴;徐英輝;熊素琴;陳思禹;袁翔宇;楊巍;郭建寧;秦程林;王雅濤
• 申請（專利權）人: 中國電力科學研究院有限公司;國網江蘇省電力有限公司電力科學研究院;國家電網有限公司
• 主分類號: G11C29/10
• 分類號: G11C29/10;G11C29/56
• 代理公司: 北京工信聯合知識產權代理有限公司 11266
• 代理人: 夏德政

本發明公開了一種用于對存儲器芯片進行測試的系統及方法，包括：包括：上位機，通過數字通道與測試平臺系統相連接，用于根據測試需求產生與所述測試需求對應的波形激勵樣式和波形激勵樣式的調用順序命令；用于獲取被測存儲器芯片輸出的波形數據，將所述被測存儲器輸出的波形數據和預設的期望數據進行比較，獲取測試結果，并根據所述測試結果確定所述被測存儲器芯片的運行狀態；測試平臺系統，與被測存儲器芯片相連接，用于根據所述波形激勵樣式的調用順序命令和波形激勵樣式產生激勵波形以驅動所述被測存儲器芯片。本發明能夠提供多個通道，通過更換測量夾具設計不同的測試子板，實現多種存儲器芯片的測試。

技術領域

本發明涉及存儲器測試技術領域，并且更具體地，涉及一種用于對存儲器芯片進行測試的系統及方法。

背景技術

要實現大容量存儲器的全參數測試十分耗費時間，并且在實際測試中，傳統測試系統及方法較難實現對存儲器的各個單元實現完全覆蓋，或者覆蓋性不夠全面。

存儲芯片的測試與普通數字邏輯電路的測試從原理上和算法上都有著很大的不同，按照普通數字邏輯電路的測試方法，不可能找到無限支撐測試向量存儲的辦法，無法滿足存儲器的測試需求。另外，存儲器的故障形式是多種多樣的，有的故障是單一的存儲單元的失效，比如鎖定為0，鎖定為1等，這種故障形式通過對存儲單元的讀寫操作就可以測試發現；有的故障形式是相鄰存儲單元之間的相互影響，有的故障甚至是不穩定的，這些故障形式依靠簡單的讀寫操作是無法發現的，需要采用各種復雜的存儲器測試算法才能夠檢測到。目前，常用的存儲器測試算法有棋盤格算法、March算法、對角線算法、移動對角線算法、行列跳步算法、走步算法等。每一種算法所針對的存儲器單元的一些特定失效形式。要實現大容量存儲器的測試，以及存儲器測試算法，需要采用特殊的存儲器測試圖形發生的方式解決這一問題。

發明內容

本發明提出一種用于對存儲器芯片進行測試的系統及方法，以解決如何對存儲器芯片進行測試的問題。

為了解決上述問題，根據本發明的一個方面，提供了一種用于對存儲器芯片進行測試的系統，所述系統包括：

上位機，通過數字通道與測試平臺系統相連接，用于根據測試需求產生與所述測試需求對應的波形激勵樣式和波形激勵樣式的調用順序命令；用于獲取被測存儲器芯片輸出的波形數據，將所述被測存儲器輸出的波形數據和預設的期望數據進行比較，獲取測試結果，并根據所述測試結果確定所述被測存儲器芯片的運行狀態；

測試平臺系統，與被測存儲器芯片相連接，用于根據所述波形激勵樣式的調用順序命令和波形激勵樣式產生激勵波形以驅動所述被測存儲器芯片。

優選地，其中所述測試平臺系統通過連接器與設置于測試子板上的被測存儲器芯片相連接；其中，所述測試子板上設置有不同類型的測量夾具，對于不同類型的存儲器芯片，通過更換相應的測量夾具實現測試需求的覆蓋。

優選地，其中所述測試平臺系統通過2個100pin的連接器與被測存儲器芯片通信，200pin的連接器包括地、電源和數字通道部分，根據被測存儲器芯片的測試需求通過調用相應的資源完成測試的覆蓋，整個連接器中能夠調用的數字通道一共96個，每個數字通道能夠被配置成輸入、輸出或雙向的IO資源，分配到被測存儲器芯片的引腳。

優選地，其中所述上位機根據接收的用戶按照編寫的每個周期輸出激勵的狀態產生一個能夠使底層固件識別的波形文件，并把所述波形文件發給底層固件，以使得底層固件的執行單元根據所述波形文件產生對應的執行程序，并經過底層的翻譯處理后，得到激勵波形測試數據流，并按照時鐘周期逐條輸出到被測存儲器芯片的激勵引腳，完成測試激勵波形的輸出。

優選地，其中所述上位機還包括：

用戶接口模塊，包括：窗口管理子模塊、配置信息管理子模塊和顯示管理子模塊，用于對窗口信息、配置信息和顯示信息進行管理；