[發明專利]圖像重疊區標注方法、裝置、電子設備和計算機可讀介質

在審

• 申請號: 202011608569.8
• 申請日: 2020-12-29
• 公開（公告）號: CN114693947A
• 公開（公告）日: 2022-07-01
• 發明（設計）人: 屈有萍;夏昌盛;張韻東;李國新
• 申請（專利權）人: 重慶中星微人工智能芯片技術有限公司
• 主分類號: G06V10/44
• 分類號: G06V10/44;G06V10/75;G06K9/62;G06T3/00;G06T3/40
• 代理公司: 北京唯智勤實知識產權代理事務所(普通合伙) 11557
• 代理人: 陳佳

1.一種圖像重疊區標注方法，包括：

獲取預設圖像序列；

對所述預設圖像序列中的每個預設圖像進行校正，以生成校正圖像序列；

對所述校正圖像序列中的每個校正圖像進行標注，以生成標注信息組序列；

對所述標注信息組序列中的每個標注信息組進行坐標變換，以生成邊界信息二元組序列；

基于所述邊界信息二元組序列，生成所述預設圖像序列中每個預設圖像的重疊區邊界信息，得到重疊區邊界信息序列。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述還包括：

對所述校正圖像序列中兩兩相鄰的校正圖像進行特征匹配，以生成匹配坐標二元組集序列，其中，所述匹配坐標二元組包括第一坐標和第二坐標；

基于所述匹配坐標二元組集序列，對所述校正圖像序列中的各個校正圖像進行拼接，以生成全景圖；

將所述重疊區邊界信息序列寫入存儲設備。

3.根據權利要求2所述的方法，其中，所述對所述預設圖像序列中的每個預設圖像進行校正，以生成校正圖像序列，包括：

對所述預設圖像序列中的每個預設圖像進行對準相對標定，通過以下公式，以生成壓縮比信息：

其中，r₁，r₂，...，r_n表示各個擬合圓的半徑，r₁，3r₁，...，(2n-1)r₁表示各個擬合圓在校正圖像上的理論位置，s_r1表示以r₁為半徑的圓周上的像素處的壓縮比，s_r2表示以r₂為半徑的圓周上的像素處的壓縮比，S_rn表示以r_n為半徑的圓周上的像素處的壓縮比；

構造坐標點集(0，1)，(r₂，S_r2)，...，(r_n，S_rn)生成表示壓縮比信息的擬合多項式序列：

s(r)＝ar⁵+br⁴+cr³+dr²+er+f。

其中，r是自變量，需滿足約束0≤r≤max{r₁，r₂，…，r_n}，a，b，c，d，e，f是待定系數；

通過以下公式，生成校正圖像序列中的各個校正圖像：

其中，以所述預設圖像的左上角為原點，以過原點的水平直線為x軸，垂直直線為y軸，建立圖像坐標系，p₀表示所述預設圖像中心位置的像素的橫坐標，q₀表示所述預設圖像中心位置的像素的縱坐標，p表示所述預設圖像中的待處理的像素的橫坐標，q表示所述預設圖像的待處理的像素的縱坐標，P表示生成的所述校正圖像上的橫坐標，Q表示生成的所述校正圖像上的縱坐標，S_r表示所述壓縮比，r表示像素坐標(p，q)到(p₀，q₀)的距離。

4.根據權利要求3所述的方法，其中，所述對所述校正圖像序列中兩兩相鄰的校正圖像進行特征匹配，以生成匹配坐標二元組集序列，其中，所述匹配坐標二元組包括第一坐標和第二坐標，包括：

對所述校正圖像序列中的每一個校正圖像進行尺度不變特征變換，以生成特征信息序列；

基于所述特征信息序列，生成匹配坐標二元組集序列。

5.根據權利要求4所述的方法，其中，所述基于所述匹配坐標二元組集序列，對所述校正圖像序列中的各個校正圖像進行拼接，以生成全景圖，包括：

對所述匹配坐標二元組集序列中的每個二元組集中的各個二元組包括的第一坐標和第二坐標分別進行加權平均，以生成平均二元組序列，其中，所述平均二元組包括第一平均坐標和第二平均坐標；

基于所述平均二元組序列，對所述校正圖像序列中的每個校正圖像依次進行拼接，以生成全景圖。