[發明專利]IC的電壓異常處理方法及裝置、存儲介質、終端

在審

• 申請號: 202011607992.6
• 申請日: 2020-12-29
• 公開（公告）號: CN114689956A
• 公開（公告）日: 2022-07-01
• 發明（設計）人: 姚軍
• 申請（專利權）人: 格科微電子（上海）有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 張振軍

一種IC的電壓異常處理方法及裝置、存儲介質、終端，其中，所述IC包括可檢測節點和不可檢測節點，所述不可檢測節點與所述可檢測節點耦接，所述方法包括：每隔預設時間，讀取狀態寄存器的當前值，所述當前值與所述可檢測節點的電壓相關；將所述當前值與所述狀態寄存器的初始值相對比；若所述當前值與所述初始值不同，則重新啟動所述IC。由此，能夠將需檢測的預設節點的電壓轉化為TE信號，通過主機ESD檢測流程克服異常，保證IC的正常運行。

技術領域

本發明涉及微型電子器件應用領域，具體地涉及一種IC的電壓異常處理方法及裝置、存儲介質、終端。

背景技術

微型電子器件(Integrated Circuit Chip，簡稱IC)在應用時，在不同的電位存在多個不同的電壓，由于靜電釋放(Electro-Static discharge，簡稱ESD)現象的發生或者IC鎖定效應(Latch up)等原因可能導致IC的一些電壓出現異常，如IC的某些電壓不能部分或完全升起甚至一些電壓被拉高的情況。

其中，因鎖定效應引起的電壓異常，目前市場的主要方法是通過加肖特極二極管鉗位的方式，使鎖定效應不能發生，此種方法需要準確定位出鎖定效應的通路及原理，對于未定位到的電壓異常則無法解決鎖定效應。

通常通過設備主機ESD檢測流程執行IC的異常檢測以及恢復，然而現有的異常檢測及恢復方法并不準確，可能導致一些電壓異常未被檢測到，而影響IC的正常運行。

發明內容

本發明解決的技術問題是如何全面且準確地對IC電壓異常進行檢測，并對異常進行恢復，以保證IC的正常運行。

為解決上述技術問題，本發明實施例提供一種IC的電壓異常處理方法，所述IC包括可檢測節點和不可檢測節點，所述不可檢測節點與所述可檢測節點耦接，所述方法包括：每隔預設時間，讀取狀態寄存器的當前值，所述當前值與所述可檢測節點的電壓相關；將所述當前值與所述狀態寄存器的初始值相對比；若所述當前值與所述初始值不同，則重新啟動所述IC。

可選的，若所述不可檢測節點的電壓異常，改變所述可檢測節點的電壓。

可選的，在所述改變所述可檢測節點的電壓之后，調整所述當前值，使所述當前值與所述初始值不同。

可選的，在改變所述可檢測點的電壓之后，無法讀取所述當前值，或，讀取所述當前值報錯。

可選的，所述不可檢測節點為在所述IC運行時預先定位的異常節點。

可選的，所述不可檢測節點通過電平轉換模塊耦接至所述可檢測節點。

可選的，所述電平轉換模塊包括一個或多個電阻。

本發明實施例還提供一種IC的電壓異常處理裝置，所述IC包括可檢測節點和不可檢測節點，所述不可檢測節點與所述可檢測節點耦接，所述裝置包括：定時檢測模塊，用于每隔預設時間，讀取狀態寄存器的當前值，所述當前值與所述可檢測節點的電壓相關；對比模塊，用于將所述當前值與所述狀態寄存器的初始值相對比；初始化模塊，用于若所述當前值與所述初始值不同，則重新啟動所述IC。

本發明實施例還提供一種存儲介質，其上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現任一項所述方法的步驟。

本發明實施例還提供一種終端，包括IC、存儲器和處理器，所述IC包括可檢測節點和不可檢測節點，所述不可檢測節點與所述可檢測節點耦接，所述存儲器存儲有計算機程序，所述處理器執行所述計算機程序時實現任一項所述方法的步驟。

與現有技術相比，本發明實施例的技術方案具有以下有益效果：