[發(fā)明專利]一種電能表測試方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011603692.0 | 申請日： | 2020-12-29 |
| 公開（公告）號： | CN112731264B | 公開（公告）日： | 2022-12-13 |
| 發(fā)明（設計）人： | 戴航;潘慶生;宋宇;邱南陽;余錫波;麥榮聰;李承綱;劉攸堅 | 申請（專利權(quán)）人： | 廣東電網(wǎng)有限責任公司佛山供電局 |
| 主分類號： | G01R35/04 | 分類號： | G01R35/04 |
| 代理公司： | 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102 | 代理人： | 林麗明 |
| 地址： | 528011 廣*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 電能表 測試 方法 裝置 | ||
1.一種電能表測試方法，其特征在于，包括以下步驟：
S1：啟動測試，并記錄啟動時的MCU有功總電量底度；
S2：實時獲取待測電能表有功總電量底度和MCU有功總電量；
S3：判斷當前的待測電能表有功總電量底度是否發(fā)生第一次跳變；
若是，則執(zhí)行步驟S4；若否，則返回步驟S2；
S4：記錄第一次跳變時的待測電能表有功總電量底度和MCU有功總電量底度，并計算出啟動時刻的待測電能表有功總電量底度；
S5：實時獲取第一次跳變后的待測電能表有功總電量底度和MCU有功總電量底度；
S6：判斷當前的待測電能表有功總電量底度是否發(fā)生第二次跳變；
若是，則執(zhí)行步驟S7；若否，則執(zhí)行返回步驟S5；
S7：計算待測電能表的誤差，完成電能表測試；
通過以下公式計算待測電能表的誤差Err：
EΔM＝EM1-EM0
EΔS＝ES1-ES0
其中，EΔM為MCU的走字電量，EM1為第二次跳變時的MCU有功總電量底度，EM0為啟動時的MCU有功總電量底度，EΔS為待測電能表的走字電量，ES1為第二次跳變時的待測電能表有功總電量底度，ES0為啟動時的待測電能表有功總電量底度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電能表測試方法，其特征在于，在步驟S1中，啟動測試之前還包括在MCU與待測電能表間建立通信連接，具體為：
S1.1：由MCU組建通信命令幀并發(fā)送到待測電能表上；
S1.2：判斷待測電能表是否在設定的時間內(nèi)成功接收通信命令幀并作出響應；
若是，則MCU與待測電能表建立通信連接成功；
若否，則MCU更換通信波特率和奇偶校驗位，并返回步驟S1.1。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電能表測試方法，其特征在于，在步驟S2中，MCU有功總電量通過以下步驟獲得：
S2.1：以固定的頻率采集待測電能表的電壓和電流，得到電流離散信號I(t)和電壓離散信號U(t)；
S2.2：通過對I(t)和U(t)積分處理，得到瞬時有功功率P，計算公式為：
其中，t為時間，T為總時間；
S2.3：通過對瞬時有功功率進行連續(xù)時間積分，得到相應時段的待測電能表有功總電量E，計算公式為：
其中，P(t)為t時刻的瞬時有功功率。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種電能表測試方法，其特征在于，在步驟S2.1中，所述固定的頻率的范圍為40KHZ至60KHZ。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種電能表測試方法，其特征在于，在步驟S2.1中，以50KHZ的頻率采集待測電能表的電壓和電流。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電能表測試方法，其特征在于，待測電能表有功總電量底度由MCU與待測電能表通信獲得。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電能表測試方法，其特征在于，在步驟S4中，通過以下公式計算出啟動時的待測電能表有功總電量底度ES0：
ES0＝ES-(EM-EM0)
其中，ES為第一次跳變時的待測電能表有功總電量底度，EM為第一次跳變時的MCU有功總電量底度，EM0為啟動時的MCU有功總電量底度。
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