[發(fā)明專利]一種判別鈮酸鋰晶體X軸正負(fù)向的方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011602775.8
• 申請(qǐng)日: 2020-12-30
• 公開（公告）號(hào): CN112611735A
• 公開（公告）日: 2021-04-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 商繼芳;郝好山;楊金鳳;陳鈴;蘇麗霞
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 河南工程學(xué)院
• 主分類號(hào): G01N21/45
• 分類號(hào): G01N21/45
• 代理公司: 鄭州優(yōu)盾知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 41125
• 代理人: 王紅培

1.一種判別鈮酸鋰晶體X軸正負(fù)向的方法，其特征在于，步驟如下：

（1）首先利用壓電法標(biāo)定出待測(cè)鈮酸鋰晶體Z軸的正負(fù)，然后對(duì)Z面進(jìn)行粗略拋光；

（2）將待測(cè)鈮酸鋰晶體置于錐光干涉光路中，待測(cè)鈮酸鋰晶體的X軸和Y軸分別沿水平和豎直方向，使激光沿晶體Z軸正向或負(fù)向入射；

（3）在晶體X軸方向施加直流電壓，沿著光的傳播方向觀察光屏上的錐光干涉圖樣，根據(jù)橢圓干涉環(huán)長(zhǎng)軸所在象限判斷X軸正負(fù)向。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的判別鈮酸鋰晶體X軸正負(fù)向的方法，其特征在于：當(dāng)激光沿晶體Z軸正向入射時(shí)，若橢圓干涉環(huán)長(zhǎng)軸在二四象限，則沿著電場(chǎng)的方向?yàn)?X方向，若橢圓干涉環(huán)長(zhǎng)軸在一三象限，則沿著電場(chǎng)的方向?yàn)?X方向；當(dāng)激光沿晶體Z軸負(fù)向入射時(shí)，若橢圓干涉環(huán)長(zhǎng)軸在一三象限，則沿著電場(chǎng)的方向?yàn)?X方向，若橢圓干涉環(huán)長(zhǎng)軸在二四象限，則沿著電場(chǎng)的方向?yàn)?X方向。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的判別鈮酸鋰晶體X軸正負(fù)向的方法，其特征在于：所述步驟（2）中錐光干涉光路包括同軸設(shè)置的可見光激光器、起偏鏡、毛玻璃、待測(cè)鈮酸鋰晶體、檢偏鏡和光屏。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的判別鈮酸鋰晶體X軸正負(fù)向的方法，其特征在于：所述起偏鏡和檢偏鏡的透振方向互相垂直，且分別沿水平和豎直方向。