[發明專利]一種基于Skill快速查找跨平面走線的方法和系統

在審

• 申請號: 202011601872.5
• 申請日: 2020-12-30
• 公開（公告）號: CN112685992A
• 公開（公告）日: 2021-04-20
• 發明（設計）人: 張樹萍
• 申請（專利權）人: 浪潮電子信息產業股份有限公司
• 主分類號: G06F30/394
• 分類號: G06F30/394
• 代理公司: 濟南誠智商標專利事務所有限公司 37105
• 代理人: 王敏

1.一種基于Skill快速查找跨平面走線的方法，其特征在于，包括以下步驟：

編寫加載自動查找跨平面走線的Skill程序；

選擇需要檢查的信號所在層及信號所在層的參考層，然后運行Skill程序；

高亮所有選中的信號走線，判斷信號走線是否滿足檢查條件，若是則取消對應線段高亮，若否則框出不滿足檢查條件的目標線段；

根據檢查結果輸出檢查報告文檔。

2.根據權利要求1所述的一種基于Skill快速查找跨平面走線的方法，其特征在于，所述選擇需要檢查的信號所在層及信號所在層的參考層，然后運行Skill程序，包括下述步驟：

獲取PCB文件的層疊信息，根據篩選條件區分ETCH層和PLANE層，并在面板上輸出層列表信息；

在彈出的窗口中選擇待檢查信號的所在ETCH層及參考PLANE層；

獲取待檢查信號走線的ETCH信息及參考PLANE層的shape信息，然后選擇待檢查的信號走線并運行Skill程序。

3.根據權利要求2所述的一種基于Skill快速查找跨平面走線的方法，其特征在于，所述待檢查信號走線的ETCH信息包括坐標及所在層面信息，參考PLANE層的shape信息包括shape的形狀、坐標及所在層面信息。

4.根據權利要求3所述的一種基于Skill快速查找跨平面走線的方法，其特征在于，所述若信號走線不滿足檢查條件則框出不滿足檢查條件的目標線段，包括下述步驟：

根據信號走線的ETCH信息和shape信息確定PCB文件中的目標線段；

獲取目標線段的起始坐標和終點坐標；

以目標線段起始坐標和終點坐標的中間點為中心，輸出一個邊長等于目標線段長度的正方形框。

5.根據權利要求1所述的一種基于Skill快速查找跨平面走線的方法，其特征在于，所述檢查報告文檔的內容包括目標線段跨參考的信號網絡名及跨參考的位置坐標。

6.一種基于Skill快速查找跨平面走線的系統，其特征在于，包括：

編寫加載單元，用于編寫加載自動查找跨平面走線的Skill程序；

程序運行單元，用于選擇需要檢查的信號所在層及信號所在層的參考層，并運行Skill程序；

檢查判斷單元，用于判斷選中的走線線段是否滿足檢查條件，并將不滿足檢查條件的目標線段進行框出；

結果輸出單元，用于根據檢查判斷結果輸出檢查報告文檔。

7.根據權利要求6所述的一種基于Skill快速查找跨平面走線的系統，其特征在于，所述程序運行單元包括：

層區分模塊，用于獲取PCB文件的層疊信息，根據篩選條件區分ETCH層和PLANE層，并在面板上輸出層列表信息；

層選擇模塊，用于選擇待檢查信號的所在ETCH層及參考PLANE層；

程序運行模塊，用于獲取待檢查信號走線的ETCH信息及參考PLANE層的shape信息，并選擇待檢查的信號走線運行Skill程序。

8.根據權利要求7所述的一種基于Skill快速查找跨平面走線的系統，其特征在于，所述檢查判斷單元包括：

目標線段確定模塊，用于根據信號走線的ETCH信息和shape信息確定PCB文件中的目標線段；

坐標獲取模塊，用于獲取目標線段的起始坐標和終點坐標；

目標線段框出模塊，用于以目標線段起始坐標和終點坐標的中間點為中心，輸出一個邊長等于目標線段長度的正方形框。