[發(fā)明專利]一種保護結構、彩膜基板、陣列基板及液晶顯示面板有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011601844.3 | 申請日: | 2020-12-29 |
| 公開(公告)號: | CN112684626B | 公開(公告)日: | 2023-06-27 |
| 發(fā)明(設計)人: | 常紅燕;鄭浩旋 | 申請(專利權)人: | 滁州惠科光電科技有限公司;惠科股份有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/1335 | 分類號: | G02F1/1335;G02F1/1339;G02F1/1343;G02F1/133;G02F1/1337;G02F1/13;G09G3/00 |
| 代理公司: | 深圳中一專利商標事務所 44237 | 代理人: | 郭鴻 |
| 地址: | 239000 安徽省滁*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 保護 結構 彩膜基板 陣列 液晶顯示 面板 | ||
1.一種保護結構,其特征在于,應用于液晶顯示面板,所述液晶顯示面板包括公共電極層、液晶盒測試焊盤及陣列測試焊盤,所述保護結構覆蓋所述公共電極層的預設區(qū)域,所述預設區(qū)域與所述液晶測試焊盤或所述陣列測試焊盤相鄰;
其中,在PSA制程中,通過第一探針經(jīng)過所述陣列測試焊盤為像素電極層施加第一電壓,通過第二探針經(jīng)過所述液晶盒測試焊盤為所述公共電極層施加第二電壓,使液晶盒中的液晶分子在所述第一電壓與所述第二電壓之間的電壓差所形成的電場作用下產(chǎn)生預傾角;
所述保護結構用于阻隔PSA制程中掉落在所述液晶盒測試焊盤或所述陣列測試焊盤的異物與所述公共電極層,使所述異物與所述公共電極層之間形成斷路;
所述保護結構覆蓋所述公共電極層的所有邊框區(qū)域,所述邊框區(qū)域包括所述預設區(qū)域;
所述液晶測試焊盤和所述陣列測試焊盤設置于所述公共電極層的相對側(cè),所述保護結構包括層疊設置的紅色光阻層、綠色光阻層及藍色光阻層中的至少兩種,實現(xiàn)所述液晶顯示面板的側(cè)邊顯示效果。
2.如權利要求1所述的保護結構,其特征在于,所述液晶顯示面板還包括彩膜基板,所述彩膜基板包括第一襯底基板和設置于所述第一襯底基板的所述公共電極層,所述保護結構設置于所述第一襯底基板。
3.如權利要求2所述的保護結構,其特征在于,所述液晶測試焊盤和所述陣列測試焊盤中的至少一種設置于所述第一襯底基板。
4.如權利要求1所述的保護結構,其特征在于,所述液晶顯示面板還包括陣列基板,所述陣列基板包括第二襯底基板以及依次層疊設置于所述第二襯底基板的像素電極層、液晶盒及所述公共電極層,所述保護結構設置于所述第二襯底基板。
5.如權利要求4所述的保護結構,其特征在于,所述液晶測試焊盤和所述陣列測試焊盤中的至少一種設置于所述第二襯底基板。
6.一種彩膜基板,其特征在于,包括:
第一襯底基板;
公共電極層,設置于所述第一襯底基板;以及
如權利要求1至5任一項所述的保護結構。
7.一種陣列基板,其特征在于,包括:
第二襯底基板;
像素電極層,設置于所述第二襯底基板;
液晶盒,覆蓋于所述像素電極層;
公共電極層,覆蓋于所述液晶盒;以及
如權利要求1至5任一項所述的保護結構。
8.一種液晶顯示面板,其特征在于,包括:
液晶測試焊盤;
陣列測試焊盤;以及
如權利要求6所述的彩膜基板,所述液晶測試焊盤和所述陣列測試焊盤中的至少一個設置于所述彩膜基板;或者,如權利要求7所述的陣列基板,所述液晶測試焊盤和所述陣列測試焊盤中的至少一個設置于所述陣列基板。
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G02F 用于控制光的強度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào),上述器件或裝置的光學操作是通過改變器件或裝置的介質(zhì)的光學性質(zhì)來修改的;用于上述操作的技術或工藝;變頻;非線性光學;光學
G02F1-00 控制來自獨立光源的光的強度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如,轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制;非線性光學
G02F1-01 .對強度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制,即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
G02F1-365 ..在光波導結構中的





