[發明專利]一種加長桿高真空半導體X射線探測器

在審

• 申請號: 202011595597.0
• 申請日: 2020-12-29
• 公開（公告）號: CN112684488A
• 公開（公告）日: 2021-04-20
• 發明（設計）人: 王環
• 申請（專利權）人: 蘇州兀象科學儀器有限公司
• 主分類號: G01T1/24
• 分類號: G01T1/24
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種加長桿高真空半導體X射線探測器，其特征在于，所述X射線探測器包括：傳感器（1），所述傳感器（1）固定于探測器頭部，所述傳感器內集成有用于降溫的電制冷片，該傳感器將X射線轉換成感應電信號，該傳感器將電信號輸出至電路板，所述電路板固定在延伸桿（2）內部，該電路板為 PCB，所述PCB包括多層走線和覆銅結構，該PCB通過信號傳輸端子將電信號傳輸至前置放大電路，所述信號傳輸端子（8）固定在真空法蘭（3）內部，所述前置放大電路固定在前置電路殼體（4）內部，該前置放大電路通過FPC連接至數字多道分析器，所述數字多道分析器固定在數字多道分析器殼體（5）內部。

2.根據權利要求1所述的一種加長桿高真空半導體X射線探測器，其特征在于：所述延伸桿（2）的兩端為二次導電加工，該延伸桿（2）的兩端均為鏡面（6），所述傳感器（1）的固定座與所述真空法蘭（3）的固定座分別設有與所述鏡面（6）相咬合的連接面（7）。

3. 根據權利要求1所述的一種加長桿高真空半導體X射線探測器，其特征在于：所述X射線傳感器將信號傳輸給所述前置放大電路，經前置放大電路放大后，數字多道分析器再將該信號進行放大、濾波，該信號進行ADC，轉換后，通過數字脈沖成形，再進行統計分析，形成譜圖，所述譜圖通過USB或RS232傳輸接口傳遞給上位機軟件。

4.根據權利要求1所述的一種加長桿高真空半導體X射線探測器，其特征在于：所述電制冷片通過DPA閉環制冷電路對所述傳感器溫度監控，并對該電制冷片提供電流制冷。

5.根據權利要求1所述的一種加長桿高真空半導體X射線探測器，其特征在于：所述電路板與所述傳感器之間以及該電路板與所述真空法蘭（3）之間，均用鍍金金屬插針連接。

6.根據權利要求1所述的一種加長桿高真空半導體X射線探測器，其特征在于：所述電路板還可以設為FPC。

7.根據權利要求1所述的一種加長桿高真空半導體X射線探測器，其特征在于：所述延伸桿（2）長度不小于287mm的鋁制金屬桿。

8.根據權利要求1所述的一種加長桿高真空半導體X射線探測器，其特征在于：所述延伸桿（2）的側壁設有通氣小孔。

9.根據權利要求1所述的一種加長桿高真空半導體X射線探測器，其特征在于：所述真空法蘭（3）為高真空CF接口。

10.根據權利要求1所述的一種加長桿高真空半導體X射線探測器，其特征在于：所述前置放大電路連接有DPA，所述DPA為該前置放大電路提供電源、偏置電壓以及進行信號處理。