[發(fā)明專利]一種電壓檢測方法和電壓傳感裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011593583.5
• 申請日: 2020-12-29
• 公開（公告）號: CN112782463B
• 公開（公告）日: 2022-08-19
• 發(fā)明（設計）人: 吳啟明;馬鑫;林曉志;王添平
• 申請（專利權）人: 廣東高云半導體科技股份有限公司
• 主分類號: G01R19/25
• 分類號: G01R19/25
• 代理公司: 北京安信方達知識產(chǎn)權代理有限公司 11262
• 代理人: 吳曉霞;李丹

1.一種電壓檢測方法，其特征在于，包括：

根據(jù)第一電流源產(chǎn)生第一差分電壓，根據(jù)第二電流源產(chǎn)生第二差分電壓；

根據(jù)待測電壓V(vsp,vsn)、所述第一差分電壓V(vbep,vben)、所述第二差分電壓V(dvbep,dvben)和預設的第一增益系數(shù)kvbg，確定待測電壓對應的反饋信號Kadc，使其平均值

根據(jù)所述待測電壓對應的反饋信號的平均值確定待測電壓的數(shù)字化值；

其中，所述第一差分電壓V(vbep,vben)、所述第二差分電壓V(dvbep,dvben)和預設的第一增益系數(shù)kvbg滿足以下帶隙基準電壓關系：

帶隙基準電壓Vbg＝V(vbep,vben)+kvbg*V(dvbep,dvben)；

所述根據(jù)第一電流源產(chǎn)生第一差分電壓，包括：根據(jù)所述第一電流源，通過第一差分電路產(chǎn)生所述第一差分電壓；

其中，所述第一差分電路包括第一晶體管；所述第一電流源向所述第一晶體管提供電流；所述第一電流源與所述第一晶體管的發(fā)射極相連，形成第一輸出節(jié)點，所述第一晶體管的基極與所述第一晶體管的集電極相連并接地，形成第二輸出節(jié)點，從所述第一輸出節(jié)點和所述第二輸出節(jié)點輸出所述第一差分電壓；

或者，所述第一差分電路包括第一晶體管；所述第一電流源向所述第一晶體管提供電流；所述第一電流源與所述第一晶體管的集電極以及所述第一晶體管的基極相連，形成第一輸出節(jié)點，所述第一晶體管的發(fā)射極接地，形成第二輸出節(jié)點，從所述第一輸出節(jié)點和所述第二輸出節(jié)點輸出所述第一差分電壓；

所述根據(jù)第二電流源產(chǎn)生第二差分電壓，包括：根據(jù)所述第二電流源，通過第二差分電路產(chǎn)生所述第二差分電壓；

其中，所述第二差分電路包括第二晶體管、第三晶體管、時鐘驅動單元、第一控制開關和第二控制開關；

所述第二電流源為M支大小相同的第二電流源；

所述時鐘驅動單元用于接入時鐘參考信號，并根據(jù)所述時鐘參考信號產(chǎn)生時鐘驅動控制信號；

所述M支大小相同的第二電流源均連接所述第一控制開關，用于提供M支電流；

所述第一控制開關的第一輸出端連接所述第二晶體管的發(fā)射極以及所述第二控制開關的第一輸入端，所述第一控制開關的第二輸出端連接所述第三晶體管的發(fā)射極以及所述第二控制開關的第二輸入端，所述第一控制開關用于在所述時鐘驅動控制信號的控制下，分別使得所述M支電流中的P支電流流入所述第二晶體管中，其余(M-P)支電流進入所述第三晶體管中，M≥2，P≥1，MP；

所述第二晶體管的基極連接所述第二晶體管的集電極并接地，所述第三晶體管的基極連接所述第三晶體管的集電極并接地，所述第二控制開關的輸出端用于輸出所述第二差分電壓；

或者，其中，所述第二差分電路包括第二晶體管、第三晶體管、時鐘驅動單元、第一控制開關和第二控制開關；

所述第二電流源為M支大小相同的第二電流源；

所述時鐘驅動單元用于接入時鐘參考信號，并根據(jù)所述時鐘參考信號產(chǎn)生時鐘驅動控制信號；

所述M支大小相同的第二電流源均連接所述第一控制開關，用于提供M支電流；

所述第一控制開關的第一輸出端連接所述第二晶體管的集電極、基極以及所述第二控制開關的第一輸入端，所述第一控制開關的第二輸出端連接所述第三晶體管的集電極、基極以及所述第二控制開關的第二輸入端，所述第一控制開關用于在所述時鐘驅動控制信號的控制下，分別使得所述M支電流中的P支電流流入所述第二晶體管中，其余(M-P)支電流進入所述第三晶體管中，M≥2，P≥1，MP；

所述第二晶體管的發(fā)射極接地，所述第三晶體管的發(fā)射極接地，所述第二控制開關的輸出端用于輸出所述第二差分電壓。

2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述根據(jù)所述待測電壓對應的反饋信號的平均值確定待測電壓的數(shù)字化值，包括：

根據(jù)預設的截止頻率，對所述待測電壓對應的反饋信號進行低通濾波，得到多比特的濾波數(shù)據(jù)；其中，所述多比特的濾波數(shù)據(jù)為所述待測電壓的平均值表征；

對所述濾波數(shù)據(jù)按照預設的電壓檢測增益進行放大，并與預設的電壓檢測偏移量相加后，確定所述待測電壓的數(shù)字化值。