[發明專利]非易失型芯片內部單步測試方法、裝置、存儲介質、終端有效
| 申請號： | 202011589882.1 | 申請日： | 2020-12-29 |
| 公開（公告）號： | CN112530511B | 公開（公告）日： | 2023-06-23 |
| 發明（設計）人： | 黎永健;劉佳慶;蔣雙泉 | 申請（專利權）人： | 芯天下技術股份有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/56 | 分類號： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 佛山市海融科創知識產權代理事務所(普通合伙) 44377 | 代理人： | 陳志超;唐敏珊 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市龍崗區園山街*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 非易失型 芯片 內部 測試 方法 裝置 存儲 介質 終端 | ||
1.一種非易失型芯片內部單步測試方法，其特征在于，具體包括以下步驟：
接收單步測試配置；
接收操作指令，根據單步測試配置啟動對應的操作測試；
獲取操作測試中對應步驟的測試結果；
對測試結果進行分析，最終得到Nor?Flash芯片測試步驟組合，所述Nor?Flash芯片測試步驟組合為不同的步驟及其循環次數的組合；
所述接收單步測試配置，具體包括以下步驟：
s11：接收進入單步測試模式使能；
s12：配置操作中需要執行單步測試的步驟；
s13：復用正常執行操作時的步驟；
s14：配置操作中需要執行單步測試的步驟的判斷步驟；
所述獲取操作測試中對應步驟的測試結果，包括以下過程：接收Nor?Flash?芯片執行完操作測試中對應步驟后輸出的操作測試中對應步驟的測試結果。
2.根據權利要求1所述的非易失型芯片內部單步測試方法，其特征在于，所述操作包括編程操作或者擦除操作。
3.一種非易失型芯片內部單步測試裝置，其特征在于，包括：
接收配置模塊，接收單步測試配置；
操作指令啟動模塊，接收操作指令，根據單步測試配置啟動對應的操作測試；
測試結果獲取模塊，獲取操作測試中對應步驟的測試結果；
分析模塊，對測試結果進行分析，最終得到Nor?Flash芯片測試步驟組合，所述NorFlash芯片測試步驟組合為不同的步驟及其循環次數的組合；
所述接收單步測試配置，具體包括以下步驟：
s11：接收進入單步測試模式使能；
s12：配置操作中需要執行單步測試的步驟；
s13：復用正常執行操作時的步驟；
s14：配置操作中需要執行單步測試的步驟的判斷步驟；
所述獲取操作測試中對應步驟的測試結果，包括以下過程：接收Nor?Flash?芯片執行完操作測試中對應步驟后輸出的操作測試中對應步驟的測試結果。
4.根據權利要求3所述的非易失型芯片內部單步測試裝置，其特征在于，所述接收配置模塊可以采用配置有SPI接口的配置測試寄存器實現。
5.根據權利要求3所述的非易失型芯片內部單步測試裝置，其特征在于，所述測試結果獲取模塊通過SPI接口接收Nor?Flash?芯片執行完操作測試中對應步驟后輸出的操作測試中對應步驟的測試結果。
6.一種存儲介質，其特征在于，所述存儲介質中存儲有計算機程序，當所述計算機程序在計算機上運行時，使得所述計算機執行權利要求1或2所述的方法。
7.一種終端，其特征在于，包括處理器和存儲器，所述存儲器中存儲有計算機程序，所述處理器通過調用所述存儲器中存儲的所述計算機程序，用于執行權利要求1或2所述的方法。
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