[發(fā)明專利]SD NAND測試方法、裝置、存儲介質(zhì)和終端

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011589823.4
• 申請日: 2020-12-29
• 公開（公告）號: CN112542208B
• 公開（公告）日: 2021-10-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 唐維強(qiáng);林曉新;孫兆興
• 申請（專利權(quán)）人: 芯天下技術(shù)股份有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 佛山市海融科創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44377
• 代理人: 陳志超;唐敏珊

1.一種SD NAND測試方法，其特征在于，整個(gè)測試過程在freertos操作系統(tǒng)中完成，具體包括以下步驟：

S1：預(yù)設(shè)包括一定數(shù)據(jù)的若干個(gè)線程，并設(shè)定各個(gè)線程的優(yōu)先級；

S2：在某一線程搶占成功后，判斷SD NAND FLASH中是否已經(jīng)寫入該線程的全部數(shù)據(jù)，是則跳轉(zhuǎn)至S3，否則跳轉(zhuǎn)至S4；

S3：刪除SD NAND FLASH中該線程的全部數(shù)據(jù)，然后跳轉(zhuǎn)至S4；

S4：根據(jù)該線程的數(shù)據(jù)對SD NAND FLASH進(jìn)行讀寫校驗(yàn)，得到校驗(yàn)數(shù)據(jù)；

S5：輸出校驗(yàn)數(shù)據(jù)；

S6：判斷是否觸發(fā)測試完畢條件，是則SD NAND FLASH測試完畢，否則跳轉(zhuǎn)至S2。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SD NAND測試方法，其特征在于，所述若干個(gè)線程的數(shù)據(jù)加起來的總數(shù)據(jù)大小等于SD NAND FLASH的容量。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SD NAND測試方法，其特征在于，所述S3中，使所述刪除SDNAND FLASH中該線程的全部數(shù)據(jù)的過程處于加鎖狀態(tài)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SD NAND測試方法，其特征在于，所述S4中，使所述根據(jù)該線程的數(shù)據(jù)對SD NAND FLASH進(jìn)行讀寫校驗(yàn)的過程處于加鎖狀態(tài)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SD NAND測試方法，其特征在于，所述校驗(yàn)數(shù)據(jù)包括寫操作返回值、讀操作返回值、讀寫數(shù)據(jù)對比結(jié)果以及SD NAND FLASH讀寫校驗(yàn)地址。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的SD NAND測試方法，其特征在于，所述S4中，具體過程如下：

s41：將該線程的部分?jǐn)?shù)據(jù)寫入SD NAND FLASH內(nèi)，得到寫操作返回值；

s42：讀出s41中寫入SD NAND FLASH內(nèi)的數(shù)據(jù)，得到讀操作返回值；

s43：對比s41中寫入SD NAND FLASH內(nèi)的數(shù)據(jù)和s42中從SD NAND FLASH內(nèi)讀出的數(shù)據(jù)是否一致，得到讀寫數(shù)據(jù)對比結(jié)果；

s44：根據(jù)寫操作返回值、讀操作返回值、讀寫數(shù)據(jù)對比結(jié)果和執(zhí)行讀寫校驗(yàn)的SD NANDFLASH內(nèi)的地址得到校驗(yàn)數(shù)據(jù)。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的SD NAND測試方法，其特征在于，所述測試完畢條件包括讀寫校驗(yàn)出錯(cuò)或測試時(shí)間達(dá)到預(yù)設(shè)值。

8.一種SD NAND測試裝置，其特征在于，包括：

線程預(yù)設(shè)模塊，預(yù)設(shè)包括一定數(shù)據(jù)的若干個(gè)線程，并設(shè)定各個(gè)線程的優(yōu)先級；

數(shù)據(jù)寫入判斷模塊，在某一線程搶占成功后，判斷SD NAND FLASH中是否已經(jīng)寫入該線程的全部數(shù)據(jù)；

數(shù)據(jù)刪除模塊，刪除SD NAND FLASH中該線程的全部數(shù)據(jù)；

讀寫檢驗(yàn)?zāi)K，根據(jù)該線程的數(shù)據(jù)對SD NAND FLASH進(jìn)行讀寫校驗(yàn)，得到校驗(yàn)數(shù)據(jù)；

校驗(yàn)數(shù)據(jù)輸出模塊，輸出校驗(yàn)數(shù)據(jù)；

條件觸發(fā)判斷模塊，判斷是否觸發(fā)測試完畢條件。

9.一種存儲介質(zhì)，其特征在于，所述存儲介質(zhì)中存儲有計(jì)算機(jī)程序，當(dāng)所述計(jì)算機(jī)程序在計(jì)算機(jī)上運(yùn)行時(shí)，使得所述計(jì)算機(jī)執(zhí)行權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的方法。

10.一種終端，其特征在于，包括處理器和存儲器，所述存儲器中存儲有計(jì)算機(jī)程序，所述處理器通過調(diào)用所述存儲器中存儲的所述計(jì)算機(jī)程序，用于執(zhí)行權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的方法。