[發明專利]引腳等效電阻檢測電路、檢測方法及芯片

在審

• 申請號: 202011587637.7
• 申請日: 2020-12-28
• 公開（公告）號: CN112798868A
• 公開（公告）日: 2021-05-14
• 發明（設計）人: 孔繁波;吳瀚平;劉助展
• 申請（專利權）人: 深圳市中科藍訊科技股份有限公司
• 主分類號: G01R27/08
• 分類號: G01R27/08
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明提供了一種用于芯片測試的引腳等效電阻檢測電路和檢測方法及芯片，通過將預知的輸入待測引腳的檢測電壓分為兩路，一路經基準電壓電路輸出基準電壓，另一路作為電壓檢測電路中放大器的電源端，比較兩路電壓大小，從而能夠確定芯片引腳與測試插座的接觸電阻是否發生變化，不影響芯片測試的測試結果。

技術領域

本發明涉及芯片檢測，具體涉及一種引腳等效電阻檢測電路和檢測方法及芯片。

背景技術

隨著電子技術的發展，電子產品的集成化程度越來越高，結構越來越精細，工序越來越多，制造工藝越來越復雜，這樣在制造過程中產生的缺陷可能也會隨之放大。對于一個合格的電子產品，不但要求有較高的性能指標，而且還要有較高的穩定性，電子產品的穩定性取決于設計的合理性、元器件性能以及整機制造工藝等因素。

芯片，也就是集成電路，在出廠時通常需要經過一系列的功能性測試，其中的FT(Final Test，最終測試)便包括了DC(Direct Current，直流)測試，DC測試是基于歐姆定律來確定器件電參數的穩態測試。DC測試包括多項測試，其中之一為漏電流測試，具體為待測引腳輸入測試電壓，使得待測引腳與接地引腳或電源引腳之間有電流流過，通過測試該電流大小來確定引腳間的電壓差，進而確定該待測引腳在漏電流測試中是否合格。

同類型的大量芯片通常在同一塊測試板上進行測試，測試板上的測試插座在大量芯片的測試過程中不可避免的多次進行焊接或拔插，進而導致測試插座與引腳的接觸電阻發生變化，這種變化將對測試結果及其他測試流程產生不利影響，使其測試出與實際值不符的測量值，導致芯片的質量被錯誤判斷，影響產品評估。

通過測量引腳電流大小，結合測試電壓可得知芯片內部和接觸電阻的總電阻大小，然而，不同引腳之間，芯片內部的等效電阻不同，且芯片內部電路復雜，其等效電阻計算繁復，對于高度集成的復雜電路，其等效電阻的計算近乎不可實現，因此，通過測量引腳電流的方法不實用。

發明內容

有鑒于此，本發明提供了一種用于芯片測試的引腳等效電阻檢測電路和檢測方法及芯片，通過該檢測電路和檢測方法及芯片能夠確定芯片引腳與測試插座的接觸電阻是否發生變化，從而不影響芯片測試的測試結果。

第一方面，本發明提供了一種引腳等效電阻檢測電路，所述檢測電路包括：

基準電壓電路，所述基準電壓電路輸入端與至少一個芯片引腳連接，用于根據待測引腳輸入的檢測電壓輸出基準電壓；和

電壓檢測電路，所述電壓檢測電路包括第一輸入端和第二輸入端，所述第一輸入端與所述基準電壓電路輸出端連接，所述第二輸入端與至少一個芯片引腳連接，用于根據所述基準電壓和所述檢測電壓進行比較。

具體的，所述基準電壓小于所述檢測電壓。

具體的，所述電壓檢測電路包括放大器，所述放大器的輸入端作為所述第一輸入端，電源端作為所述第二輸入端，用于根據所述檢測電壓對所述基準電壓進行電壓值讀取。

具體的，所述電壓檢測電路包括：

分壓電路，包括相互串聯的第一分壓電阻和第二分壓電阻，所述分壓電路的輸入端作為所述第二輸入端，輸出端處于所述第一分壓電阻和所述第二分壓電阻之間，用于對所述檢測電壓進行分壓；

比較器，其反相輸入端與所述分壓電路輸出端連接，同相輸入端作為所述第一輸入端，與所述基準電壓電路輸出端連接，用于根據所述分壓電路的輸出與所述基準電壓進行比較。

具體的，所述基準電壓電路包括第一電阻、第二電阻、第一電流源和第二電流源，其中，

所述第一電流源輸入端與至少一個芯片引腳連接，輸出端和所述第一電阻輸入端連接；

所述第一電阻輸出端與所述第二電流源輸入端連接；