[發明專利]數模轉換電路、電流校準方法、裝置及芯片

有效

• 申請號: 202011586545.7
• 申請日: 2020-12-28
• 公開（公告）號: CN112653464B
• 公開（公告）日: 2022-09-27
• 發明（設計）人: 金軍貴
• 申請（專利權）人: 海光信息技術股份有限公司
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 鐘揚飛

1.一種數模轉換電路，其特征在于，包括：

電流鏡陣列，其包括呈P行Q列排布的多個電流鏡單元，P、Q均為正整數；每一所述電流鏡單元的電流輸出端分別與電流總線連接，所述多個電流鏡單元設置有預設打開順序；

校準單元，其用于接收與預期電流對應的原始控制碼，并根據所述電流鏡陣列的偏差信息對所述原始控制碼進行校準，得到目標控制碼，所述目標控制碼包括目標行控制碼以及目標列控制碼；其中，所述偏差信息包括行偏差系數和/或列偏差系數，所述行偏差系數用于描述相鄰行之間的電流鏡單元之間的偏差關系，所述列偏差系數用于描述相鄰列之間的電流鏡單元之間的偏差關系；或者，所述偏差信息包括每一所述電流鏡單元的電流輸出值與標準值之間的偏差值；

行解碼器，其與所述校準單元以及所述電流鏡陣列連接，用于根據所述目標行控制碼控制對應的各行電流鏡單元的行開關打開；

列解碼器，其與所述電流鏡陣列連接，用于控制所述各行電流鏡單元中的第預設行上的與所述目標列控制碼對應的電流鏡單元打開，以及控制所述各行電流鏡單元中的第預設行之外的其他行的電流鏡單元的列開關打開，其中，所述電流鏡單元在其行開關以及列開關均打開時對所述電流總線輸出電流。

2.根據權利要求1所述的數模轉換電路，其特征在于，所述預設打開順序為：第x行的打開順序為第1行至第Q列；第x+1行的打開順序為第Q列至第1列，其中，x為小于P的正整數。

3.根據權利要求1所述的數模轉換電路，其特征在于，所述校準單元用于根據所述電流鏡陣列的行偏差系數對所述原始控制碼進行校準，得到目標控制碼；所述目標控制碼與所述原始控制碼滿足以下關系：

C(m+n)＝a*row_c(M)+column_c(N)+C；其中，C(m+n)為目標控制碼，其中，m為目標行控制碼的位數，n為目標列控制碼的位數，row_c(M)為M位原始行控制碼，column_c(N)為N位原始列控制碼，a為行偏差系數，C為固有偏差。

4.根據權利要求1所述的數模轉換電路，其特征在于，所述校準單元用于根據所述電流鏡陣列的列偏差系數對所述原始控制碼進行校準，得到目標控制碼；所述目標控制碼與所述原始控制碼滿足以下關系：

C(m+n)＝row_c(M)+b*column_c(N)+C；其中，m為目標行控制碼的位數，n為目標列控制碼的位數，row_c(M)為M位原始行控制碼，column_c(N)為N位原始列控制碼，b為列偏差系數，C為固有偏差。

5.根據權利要求1所述的數模轉換電路，其特征在于，所述校準單元用于根據所述電流鏡陣列的行偏差系數以及列偏差系數對所述原始控制碼進行校準，得到目標控制碼；所述目標控制碼與所述原始控制碼滿足以下關系：

C(m+n)＝a*row_c(M)+b*column_c(N)+C；其中，C(m+n)為目標控制碼，m為目標行控制碼的位數，n為目標列控制碼的位數，row_c(M)為M位原始行控制碼，column_c(N)為N位原始列控制碼，b為列偏差系數，C為固有偏差。

6.一種電流校準方法，其特征在于，用于對電流鏡陣列輸出的電流進行校準，所述方法包括：

獲取與預期電流對應的原始控制碼；

根據電流鏡陣列的偏差信息對所述原始控制碼進行校準，得到目標控制碼，所述目標控制碼包括目標行控制碼以及目標列控制碼；其中，所述偏差信息包括行偏差系數和/或列偏差系數，所述行偏差系數用于描述相鄰行之間的電流鏡單元之間的偏差關系，所述列偏差系數用于描述相鄰列之間的電流鏡單元之間的偏差關系；或者，所述偏差信息包括每一所述電流鏡單元的電流輸出值與標準值之間的偏差值；

根據所述目標行控制碼控制對應的各行電流鏡單元的行開關打開；

根據所述目標列控制碼控制所述各行電流鏡單元中的第預設行上的與所述目標列控制碼對應的電流鏡單元打開，以及控制所述各行電流鏡單元中的第預設行之外的其他行的電流鏡單元的列開關打開，所述電流鏡單元的行開關以及列開關均打開時對電流總線輸出電流。