[發(fā)明專(zhuān)利]試驗(yàn)電壓生成裝置及交流耐壓試驗(yàn)系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011586063.1 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112834888A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-05-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 盧旭;王圣;魏歡;田杰 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 深圳供電局有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/14 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/14;G01R31/12 |
| 代理公司: | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 謝曲曲 |
| 地址: | 518001 廣東省深圳市*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 試驗(yàn) 電壓 生成 裝置 交流 耐壓 系統(tǒng) | ||
本申請(qǐng)涉及一種試驗(yàn)電壓生成裝置,其特征在于,裝置包括:遠(yuǎn)程控制模塊、控制回路以及試驗(yàn)電壓生成模塊,遠(yuǎn)程控制模塊與控制回路無(wú)線連接,控制回路與試驗(yàn)電壓生成模塊電連接;遠(yuǎn)程控制模塊,用于根據(jù)用戶(hù)輸入的操作指令向控制回路發(fā)送測(cè)試信號(hào);測(cè)試信號(hào)中攜帶試驗(yàn)電壓;控制回路,用于根據(jù)接收到的測(cè)試信號(hào)控制試驗(yàn)電壓生成模塊輸出試驗(yàn)電壓,并輸入至待測(cè)對(duì)象。該裝置能夠避免用戶(hù)以及遠(yuǎn)程控制模塊與試驗(yàn)電壓的接觸,防止危及設(shè)備和使用者人身安全的情況發(fā)生。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及耐壓試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種試驗(yàn)電壓生成裝置及交流耐壓試驗(yàn)系統(tǒng)。
背景技術(shù)
交流耐壓試驗(yàn)是鑒定電氣設(shè)備絕緣好壞的最直接的方法,它對(duì)于判斷電氣設(shè)備能否投入運(yùn)行有著決定性的意義,也是保證設(shè)備絕緣水平,避免發(fā)生絕緣事故的重要手段。
目前常用的交流耐壓試驗(yàn)設(shè)備為0.1Hz超低頻耐壓試驗(yàn)裝置,該裝置體積小、重量輕、波形標(biāo)準(zhǔn)、帶負(fù)荷能力強(qiáng)等特點(diǎn),是當(dāng)前國(guó)家推薦的新技術(shù)之一。0.1Hz超低頻耐壓試驗(yàn)裝置的工作原理是:用戶(hù)通過(guò)控制器上的按鍵指示控制器控制變壓器把220V50Hz的工頻電壓升高至幅值為30kV或者更高電壓,通過(guò)控制正負(fù)兩組可控硅的觸發(fā)脈沖和電容的整流作用,輸出0.1Hz的高壓。
但是,0.1Hz超低頻耐壓試驗(yàn)裝置會(huì)存在使控制器帶上高壓的問(wèn)題,當(dāng)用戶(hù)在操作控制器時(shí),容易造成危及設(shè)備和使用者人身安全的情況發(fā)生,其安全性較差。
發(fā)明內(nèi)容
基于此,有必要針對(duì)上述技術(shù)問(wèn)題,提供一種試驗(yàn)電壓生成裝置及交流耐壓試驗(yàn)系統(tǒng)。
本申請(qǐng)實(shí)施例的第一方面,提供了一種試驗(yàn)電壓生成裝置,該裝置包括:遠(yuǎn)程控制模塊、控制回路以及試驗(yàn)電壓生成模塊,遠(yuǎn)程控制模塊與控制回路無(wú)線連接,控制回路與試驗(yàn)電壓生成模塊電連接;
遠(yuǎn)程控制模塊,用于根據(jù)用戶(hù)輸入的操作指令向控制回路發(fā)送測(cè)試信號(hào);測(cè)試信號(hào)中攜帶試驗(yàn)電壓;
控制回路,用于根據(jù)接收到的測(cè)試信號(hào)控制試驗(yàn)電壓生成模塊輸出試驗(yàn)電壓,并輸入至待測(cè)對(duì)象。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,上述控制回路,還用于獲取待測(cè)對(duì)象上的電性參數(shù),并將電性參數(shù)反饋至遠(yuǎn)程控制模塊;
上述遠(yuǎn)程控制模塊,還用于根據(jù)電性參數(shù)確定新的測(cè)試信號(hào),新的測(cè)試信號(hào)攜帶新的試驗(yàn)電壓。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,控制回路包括無(wú)線通信單元、處理器和采集單元;無(wú)線通信單元通過(guò)處理器與采集單元連接;處理器和采集單元分別與試驗(yàn)電壓生成模塊電連接;
其中,無(wú)線通信單元用于接收遠(yuǎn)程控制模塊發(fā)送的測(cè)試信號(hào);
處理器,用于解析測(cè)試信號(hào)并控制試驗(yàn)電壓生成模塊輸出試驗(yàn)電壓;
采集單元,用于獲取待測(cè)對(duì)象上的電性參數(shù),并將電性參數(shù)傳輸至處理器。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,上述控制回路通過(guò)電池進(jìn)行供電。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,上述遠(yuǎn)程控制模塊包括電池供電的可移動(dòng)控制器,可移動(dòng)控制器上設(shè)置有觸控組件;
該觸控組件用于接收并解析用戶(hù)輸入的觸控指令,觸控指令中攜帶試驗(yàn)電壓。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,上述試驗(yàn)電壓生成模塊包括:變壓?jiǎn)卧㈤_(kāi)關(guān)組件和取樣電阻,處理器與開(kāi)關(guān)組件電連接,采集單元與取樣電阻電連接;變壓?jiǎn)卧妮斎攵伺c工頻電壓輸出端連接,變壓?jiǎn)卧妮敵龆送ㄟ^(guò)開(kāi)關(guān)組件以及取樣電阻與待測(cè)對(duì)象電連接;
變壓?jiǎn)卧糜趯⒐ゎl電壓變壓至第一試驗(yàn)電壓;
處理器,具體用于控制開(kāi)關(guān)組件的導(dǎo)通或者閉合,對(duì)第一試驗(yàn)電壓進(jìn)行變頻得到試驗(yàn)電壓;其中,試驗(yàn)電壓的頻率小于第一試驗(yàn)電壓的頻率;
采集單元通過(guò)取樣電阻獲取待測(cè)對(duì)象的電性參數(shù)。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
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