[發(fā)明專(zhuān)利]數(shù)字輔助校準(zhǔn)RMS功率檢測(cè)方法及系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011584700.1 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112782466A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-05-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周雯菁;唐濤 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 新酈璞科技(上海)有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R21/06 | 分類(lèi)號(hào): | G01R21/06 |
| 代理公司: | 上海段和段律師事務(wù)所 31334 | 代理人: | 李佳俊;郭國(guó)中 |
| 地址: | 200120 上海市浦東新區(qū)(上海)自*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 數(shù)字 輔助 校準(zhǔn) rms 功率 檢測(cè) 方法 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明提供了一種數(shù)字輔助校準(zhǔn)RMS功率檢測(cè)方法及系統(tǒng),包括:步驟S1:在RMS功率檢測(cè)器基礎(chǔ)上,斷開(kāi)輸入對(duì)管連接的兩個(gè)PMOS管之間的漏極連接;步驟S2:在輸出級(jí)加入校準(zhǔn)負(fù)載和充電電容,獲取電壓輸出信息、抵抗電源噪聲對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響輸出信息;步驟S3:根據(jù)電壓輸出信息、抵抗電源噪聲對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響輸出信息,加入PMOS電流鏡,偏置校準(zhǔn)輸出級(jí),獲取數(shù)字輔助校準(zhǔn)RMS功率檢測(cè)結(jié)果信息。本發(fā)明通過(guò)功率檢測(cè)器的檢測(cè)結(jié)果與參考電壓對(duì)比,運(yùn)用數(shù)字邏輯控制電流比特來(lái)穩(wěn)定輸出電壓,消除PVT變化帶來(lái)的檢測(cè)誤差。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及功率檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體地,涉及一種數(shù)字輔助校準(zhǔn)RMS功率檢測(cè)方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
在無(wú)線收發(fā)機(jī)的接收鏈路中,要滿(mǎn)足大的動(dòng)態(tài)范圍需求,無(wú)論在是射頻前端還是在基帶部分都需要使用多個(gè)AGC來(lái)調(diào)節(jié)整體增益;而在AGC模塊中,功率檢測(cè)器負(fù)責(zé)檢測(cè)信號(hào)的功率,配合VGA控制其增益。功率檢測(cè)器的精度對(duì)射頻前端的增益分配有直接的影響。精度不夠?qū)е略鲆嫫髸r(shí),會(huì)降低射頻前端的線性度;增益偏小時(shí),會(huì)增加后級(jí)模塊的噪聲貢獻(xiàn)。因而需要高精度的功率檢測(cè)器來(lái)控制AGC的增益變化,以此提高射頻前端的性能。
目前,射頻功率檢測(cè)器分為二極管功率檢測(cè)器,SDLA功率檢測(cè)器和RMS功率檢測(cè)器三種類(lèi)型來(lái)實(shí)現(xiàn)。
第一類(lèi)是如圖2所示的二極管功率檢測(cè)器,該功率檢測(cè)器由一對(duì)三極管源極跟隨器,一對(duì)電流源,兩個(gè)電阻和兩個(gè)電容組成。射頻信號(hào)從一路的三極管基極輸入,另一路保證無(wú)射頻輸入時(shí),兩路的檢測(cè)器輸出的差值作為輸出電壓,為0。射頻信號(hào)輸入的三極管連接的電容用于控制電壓變化速率,另一路的電容則用于抑制電源電壓噪聲對(duì)輸出電壓的影響。這種結(jié)構(gòu)的優(yōu)點(diǎn)是消除了工藝變化引起的檢測(cè)誤差,但它仍然存在以下缺點(diǎn):(1)和溫度相關(guān),不同溫度下誤差很大;(2)輸入射頻功率減小時(shí)檢測(cè)誤差增大;(3)不適合CMOS工藝集成。
第二類(lèi)是SDLA功率檢測(cè)器,結(jié)構(gòu)如圖3所示。該類(lèi)型的檢測(cè)器包括多級(jí)限幅放大器,若干個(gè)全波整流器和一個(gè)RC低通濾波器。射頻輸入信號(hào)輸入進(jìn)來(lái),逐個(gè)通過(guò)這一系列的限幅放大器被逐漸放大。在此過(guò)程中,限幅放大器的輸出達(dá)到輸出擺幅上限,則之后會(huì)進(jìn)入限幅狀態(tài),之后的限幅放大器的輸出電壓被限制在一個(gè)固定的電平,射頻信號(hào)變成方波。全波整流器將每一級(jí)限幅放大器的輸入和輸出電壓轉(zhuǎn)化為電流,流向后面的LPF,產(chǎn)生最終的功率檢測(cè)器輸出電壓。但是受工藝、電壓、溫度以及頻率變化的影響,功率檢測(cè)器的輸入輸出曲線會(huì)發(fā)生偏移,它的絕對(duì)檢測(cè)精度非常有限。
第三類(lèi)是傳統(tǒng)的RMS功率檢測(cè)器,如圖4所示,處于飽和狀態(tài)的偽差分對(duì)將射頻信號(hào)的電壓轉(zhuǎn)化為電流;偽差分對(duì)上方的PMOS管對(duì)檢測(cè)器提供偏置電流用于消除直流偏置有關(guān)的分量和放大射頻信號(hào)有關(guān)的有用分量。LPF將與射頻信號(hào)有關(guān)的電流中交流成分濾除,只留下與射頻信號(hào)功率的RMS值成正比的電流成分。這樣就得到了一個(gè)與射頻信號(hào)幅度平方成正比的輸出電流,從而檢測(cè)出射頻功率的RMS值。和其他功率檢測(cè)器一樣,RMS功率檢測(cè)器的輸入輸出曲線也會(huì)受PVT變化以及器件失配的影響而產(chǎn)生偏移。
對(duì)比三類(lèi)功率檢測(cè)器可知,二極管功率檢測(cè)器需要使用二極管或者三極管,在射頻功率減小時(shí),檢測(cè)結(jié)果的誤差會(huì)變大且仍受溫度影響。再者,CMOS工藝無(wú)法兼容縱向的NPN管,也不能做出性能優(yōu)越的三極管。SDLA功率檢測(cè)器的檢測(cè)結(jié)果可以通過(guò)控制單個(gè)限幅放大器的增益來(lái)改變檢測(cè)精度和檢測(cè)動(dòng)態(tài)范圍。但是受PVT變化的影響,功率檢測(cè)器的輸出會(huì)帶有偏移,因此絕對(duì)檢測(cè)精度的限度是十分狹窄的。RMS功率檢測(cè)器雖然對(duì)射頻信號(hào)的PAPR不敏感,但是輸入范圍受到檢測(cè)器自身的噪聲和輸入對(duì)管工作區(qū)域的限制,以及檢測(cè)結(jié)果仍受PVT變化影響。所以這些檢測(cè)器的檢測(cè)結(jié)果因存在明顯的外界干擾引入了偏移。很有必要對(duì)功率檢測(cè)器進(jìn)行改進(jìn),以消除PVT變化帶來(lái)的誤差。
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