[發(fā)明專利]基于響應(yīng)面法優(yōu)化彎曲模成形工藝參數(shù)的方法及裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011574316.3
• 申請日: 2020-12-25
• 公開（公告）號: CN112597685A
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 徐承亮
• 申請（專利權(quán)）人: 廣州科技貿(mào)易職業(yè)學(xué)院
• 主分類號: G06F30/23
• 分類號: G06F30/23;G06F30/17;G06F111/10
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 陳旭紅;呂金金

1.基于響應(yīng)面法優(yōu)化彎曲模成形工藝參數(shù)的方法，其特征在于，包括：

采用有限元模擬的數(shù)據(jù)獲取設(shè)計空間的散射點集；

所述散射點集包括將設(shè)計域散射成均勻分布的設(shè)計點，所述設(shè)計點包括設(shè)計域網(wǎng)格內(nèi)點X_i和近鄰域網(wǎng)格內(nèi)點X_i+1；

采用所述設(shè)計域網(wǎng)格內(nèi)點X_i搜索所述近鄰域網(wǎng)格內(nèi)點X_i+1，構(gòu)建目標函數(shù)，通過響應(yīng)面網(wǎng)格近鄰搜索的策略獲取所述目標函數(shù)的最優(yōu)解。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于響應(yīng)面法優(yōu)化彎曲模成形工藝參數(shù)的方法，其特征在于，所述采用所述設(shè)計域網(wǎng)格內(nèi)點X_i搜索所述近鄰域網(wǎng)格內(nèi)點X_i+1，構(gòu)建目標函數(shù)，通過響應(yīng)面網(wǎng)格近鄰搜索的策略獲取所述目標函數(shù)的最優(yōu)解，包括：

所述根據(jù)所述設(shè)計域網(wǎng)格內(nèi)點X_i搜索所述近鄰域網(wǎng)格內(nèi)點X_i+1，由所述近鄰域網(wǎng)格內(nèi)點X_i+1的虛擬設(shè)計集、網(wǎng)格大小和規(guī)模進行搜索。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于響應(yīng)面法優(yōu)化彎曲模成形工藝參數(shù)的方法，其特征在于，所述采用所述設(shè)計域網(wǎng)格內(nèi)點X_i搜索所述近鄰域網(wǎng)格內(nèi)點X_i+1，構(gòu)建目標函數(shù)，通過響應(yīng)面網(wǎng)格近鄰搜索的策略獲取所述目標函數(shù)的最優(yōu)解，包括：

所述響應(yīng)面網(wǎng)格近鄰搜索的策略采用局部非線性近似的方法來完成對所述設(shè)計空間的目標函數(shù)的迭代擬合，迭代i時，所述設(shè)計域網(wǎng)格內(nèi)點X_i的網(wǎng)格大小為2h，當搜索最近鄰域設(shè)計點時，搜索所述近鄰域網(wǎng)格內(nèi)點X_i+1，并將其網(wǎng)格大小細化為h，其中所述近鄰域網(wǎng)格內(nèi)點X_i+1的網(wǎng)格中任意一個頂點與前一個所述設(shè)計域網(wǎng)格內(nèi)點X_i的網(wǎng)格中任意一個頂點重合。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于響應(yīng)面法優(yōu)化彎曲模成形工藝參數(shù)的方法，其特征在于，所述采用所述設(shè)計域網(wǎng)格內(nèi)點X_i搜索所述近鄰域網(wǎng)格內(nèi)點X_i+1，構(gòu)建目標函數(shù)，通過響應(yīng)面網(wǎng)格近鄰搜索的策略獲取所述目標函數(shù)的最優(yōu)解，包括：

回彈函數(shù)f(X)，其中X∈Rⁿ是設(shè)計變量X_i,i＝1,…,n，所述目標函數(shù)的約束條件為g_j(X)≤0,j＝1…m,g_j是第j個非線性約束，構(gòu)成如下目標函數(shù)：

minimizef(X),X∈Rⁿ；

g_j(X)≤0,j＝1,…,m。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于響應(yīng)面法優(yōu)化彎曲模成形工藝參數(shù)的方法，其特征在于，所述采用所述設(shè)計域網(wǎng)格內(nèi)點X_i搜索所述近鄰域網(wǎng)格內(nèi)點X_i+1，構(gòu)建目標函數(shù)，通過響應(yīng)面網(wǎng)格近鄰搜索的策略獲取所述目標函數(shù)的最優(yōu)解，包括：

所述目標函數(shù)中，f為成本函數(shù)，其中X包括所述成本函數(shù)采用函數(shù)近似值替代，則，

其中，p為偏置函數(shù)，a_i為調(diào)整系數(shù)，所述調(diào)整系數(shù)a_i通過加權(quán)最小二乘法，以計算最小化目標函數(shù)的實驗值與近似值之間的誤差J(a)，得到如下表達式：

其中，w為權(quán)重函數(shù)，所述設(shè)計點的位置x的系數(shù)a_i的值受所述權(quán)重函數(shù)w的影響，最小化誤差J(a)，則

其中，A＝pwp^T,B＝pw。