[發(fā)明專利]異步眼圖均衡方法、裝置及系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011572451.4
• 申請日: 2020-12-25
• 公開（公告）號: CN112737990B
• 公開（公告）日: 2022-10-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 趙建中;蔡晨;周玉梅
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學(xué)院微電子研究所
• 主分類號: H04L25/03
• 分類號: H04L25/03
• 代理公司: 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021
• 代理人: 鄢功軍

1.一種異步眼圖均衡方法，其特征在于，包括：

獲取眼圖信號數(shù)據(jù)；

均衡器采用j個均衡檔位對所述眼圖信號數(shù)據(jù)執(zhí)行欠采樣以獲得均衡后數(shù)據(jù)，根據(jù)所述均衡后數(shù)據(jù)的幅值設(shè)置i級參考電平，根據(jù)每一級參考電平對所述均衡后數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理，得到所述j個均衡檔位各自的所有級參考電平對應(yīng)的眼圖統(tǒng)計數(shù)據(jù)；

根據(jù)預(yù)設(shè)條件對所述j個均衡檔位各自的所有級參考電平對應(yīng)的眼圖統(tǒng)計數(shù)據(jù)執(zhí)行篩選以獲得調(diào)整均衡檔位，包括：

取與第一個均衡檔位的每一級參考電平對應(yīng)的統(tǒng)計數(shù)據(jù)中的最大值作為第一個均衡檔位的最大值；

重復(fù)上述操作分別獲得j個均衡檔位最大值，取其中最大數(shù)值和次大數(shù)值；以及

將所述最大數(shù)值與所述次大數(shù)值做差，并將差值的絕對值與預(yù)設(shè)容差值比較大小：

若所述絕對值小于等于所述預(yù)設(shè)容差值，則輸出所述最大數(shù)值對應(yīng)的均衡檔位至所述均衡器，進(jìn)行自適應(yīng)均衡檔位調(diào)整；

若所述絕對值大于所述預(yù)設(shè)容差值，則進(jìn)行容差判斷選擇對應(yīng)的均衡檔位至所述均衡器，進(jìn)行自適應(yīng)均衡檔位調(diào)整；以及

輸出所述調(diào)整均衡檔位至所述均衡器，以便所述均衡器執(zhí)行自適應(yīng)地均衡檔位調(diào)整；

其中i、j均為整數(shù)，且j≥2，8≤i≤64。

2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)每一級參考電平對所述均衡后數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理，得到所述j個均衡檔位各自的所有級參考電平對應(yīng)的眼圖統(tǒng)計數(shù)據(jù)包括：

對第一個均衡檔位的均衡后數(shù)據(jù)與每一級參考電平比較大小，并對比較結(jié)果進(jìn)行計數(shù)統(tǒng)計，以獲得與第一個均衡檔位的每一級參考電平對應(yīng)的統(tǒng)計數(shù)據(jù)；以及

重復(fù)上述操作分別獲得與j個均衡檔位的每一級參考電平對應(yīng)的統(tǒng)計數(shù)據(jù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述對第一個均衡檔位的均衡后數(shù)據(jù)與每一級參考電平比較大小，并對比較結(jié)果進(jìn)行計數(shù)統(tǒng)計包括：

若所述均衡后數(shù)據(jù)小于等于第一級參考電平，則所述第一級參考電平計數(shù)為“1”；

若所述均衡后數(shù)據(jù)大于所述第一級參考電平，則所述第一級參考電平計數(shù)為“0”；

重復(fù)上述操作，獲得所述均衡后數(shù)據(jù)與每一級參考電平的比較結(jié)果的計數(shù)；以及

對計數(shù)結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計獲得一級均衡檔位的所有級參考電平的統(tǒng)計數(shù)據(jù)。

4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述進(jìn)行容差判斷選擇對應(yīng)的均衡檔位至所述均衡器包括：

若所述最大數(shù)值對應(yīng)的參考電平的級數(shù)小于等于所述次大數(shù)值對應(yīng)的參考電平的級數(shù)，則輸出所述次大數(shù)值對應(yīng)的均衡檔位至所述均衡器；以及

若所述最大數(shù)值對應(yīng)的參考電平的級數(shù)大于所述次大數(shù)值對應(yīng)的參考電平的級數(shù)，則輸出所述最大數(shù)值對應(yīng)的均衡檔位至所述均衡器。