[發(fā)明專利]可實(shí)現(xiàn)高低溫瞬間變化的溫度沖擊試驗(yàn)箱在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011570918.1 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-26 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112595659A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-04-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 萬(wàn)峰;申屠獻(xiàn)忠;董寧;白洪海;戴煦 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海華測(cè)品標(biāo)檢測(cè)技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N17/00 | 分類號(hào): | G01N17/00;G01N25/00 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 201206 上*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 實(shí)現(xiàn) 低溫 瞬間 變化 溫度 沖擊 試驗(yàn) | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種可實(shí)現(xiàn)高低溫瞬間變化的溫度沖擊試驗(yàn)箱,包括:箱體,所述箱體包括側(cè)箱體及試驗(yàn)箱,所述側(cè)箱體設(shè)于所述試驗(yàn)箱一側(cè)壁處,且所述側(cè)箱體與所述試驗(yàn)箱之間設(shè)有氣流循環(huán)通道;溫度沖擊試驗(yàn)裝置,所述溫度沖擊試驗(yàn)裝置包括樣品固定裝置、高溫沖擊裝置及低溫沖擊裝置,且所述高溫沖擊裝置及低溫沖擊裝置可對(duì)放置在所述樣品固定裝置上的樣品進(jìn)行高溫沖擊或者低溫沖擊。本發(fā)明是一種極大地縮短測(cè)試時(shí)間、降低測(cè)試能耗的可實(shí)現(xiàn)高低溫瞬間變化的溫度沖擊試驗(yàn)箱。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及高低溫沖擊試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種可實(shí)現(xiàn)高低溫瞬間變化的溫度沖擊試驗(yàn)箱。
背景技術(shù)
除著電子工業(yè)產(chǎn)品對(duì)于質(zhì)量的要求越來(lái)越高,這就要求在試驗(yàn)室必須完全真實(shí)地模擬產(chǎn)品現(xiàn)實(shí)中的使用情況,甚至是在通電情況下進(jìn)行的試驗(yàn),比如鋰電泄測(cè)試,但試驗(yàn)過(guò)程中,往往會(huì)伴隨一定的風(fēng)險(xiǎn),比如樣品由于材料的原因,耐受不了極限的溫度,同時(shí)樣品自身帶有一定的發(fā)熱量,如此綜合作用,加速了樣品絕緣的老化,可能會(huì)因?yàn)榫植繙囟冗^(guò)高,而產(chǎn)生燃燒,將試驗(yàn)產(chǎn)品全部報(bào)廢,甚至將試驗(yàn)箱燒毀,引發(fā)火災(zāi)。現(xiàn)有的高低溫試驗(yàn)箱可以進(jìn)行濕度的高、低控制,氣壓的高、低控制,溫度的高、低控制,以達(dá)到試驗(yàn)環(huán)境的模擬。對(duì)于濕度的控制,一般會(huì)采用加熱器、蒸發(fā)器以及空氣循環(huán)裝置,將空氣內(nèi)的濕度增加或減少,但是對(duì)于某些產(chǎn)品需要做雨水試驗(yàn),這類試驗(yàn)箱卻無(wú)法模擬需要的條件。
目前現(xiàn)有技術(shù)中的高低溫沖擊試驗(yàn)箱,普通的高低溫試驗(yàn)箱大多都是分為高溫產(chǎn)生裝置、低溫產(chǎn)生裝置和測(cè)試箱體,分別通過(guò)高溫產(chǎn)生裝置和低溫產(chǎn)生裝置輪流對(duì)放置于測(cè)試箱體內(nèi)部的樣品進(jìn)行輪番的高低溫沖擊。
現(xiàn)有技術(shù)中的高低溫沖擊試驗(yàn)箱,需要對(duì)整個(gè)測(cè)試箱體的溫度進(jìn)行快速調(diào)節(jié),如此調(diào)節(jié)過(guò)程中,溫度的變化必須經(jīng)過(guò)一個(gè)比較慢的過(guò)程,這就會(huì)造成測(cè)試的時(shí)間漫長(zhǎng),而且還由于整個(gè)箱體的空間比較大會(huì)造成大量的能源的浪費(fèi)。
因此,亟需一種極大地縮短測(cè)試時(shí)間、降低測(cè)試能耗的可實(shí)現(xiàn)高低溫瞬間變化的溫度沖擊試驗(yàn)箱。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種極大地縮短測(cè)試時(shí)間、降低測(cè)試能耗的可實(shí)現(xiàn)高低溫瞬間變化的溫度沖擊試驗(yàn)箱。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供的技術(shù)方案為:提供一種可實(shí)現(xiàn)高低溫瞬間變化的溫度沖擊試驗(yàn)箱,包括:
箱體,所述箱體包括側(cè)箱體及試驗(yàn)箱,所述側(cè)箱體設(shè)于所述試驗(yàn)箱一側(cè)壁處,且所述側(cè)箱體與所述試驗(yàn)箱之間設(shè)有氣流循環(huán)通道;
溫度沖擊試驗(yàn)裝置,所述溫度沖擊試驗(yàn)裝置包括樣品固定裝置、高溫沖擊裝置及低溫沖擊裝置,且所述高溫沖擊裝置及低溫沖擊裝置可對(duì)放置在所述樣品固定裝置上的樣品進(jìn)行高溫沖擊或者低溫沖擊。
所述高溫沖擊裝置及低溫沖擊裝置可對(duì)放置在所述樣品固定裝置上的樣品進(jìn)行輪番地高溫沖擊或者低溫沖擊。
所述高溫沖擊裝置為功率大小可調(diào)的激光發(fā)射裝置。
所述低溫沖擊裝置為流量大小可調(diào)的氮?dú)獍l(fā)射裝置。
所述樣品固定裝置還連接有驅(qū)動(dòng)裝置,所述驅(qū)動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)所述樣品固定裝置轉(zhuǎn)動(dòng),所述樣品固定裝置上布設(shè)有呈圓周形排列的凹槽,樣品固定在所述凹槽內(nèi)。
所述激光發(fā)射裝置及所述氮?dú)獍l(fā)射裝置設(shè)于所述樣品固定裝置的上方,且正對(duì)所述凹槽,所述激光裝置及所述氮?dú)獍l(fā)射裝置可分別對(duì)放置在所述凹槽內(nèi)的樣品進(jìn)行激光加熱或者氮?dú)庵评洹?/p>
所述驅(qū)動(dòng)裝置包括:依次連接的上位機(jī)、PLC控制器、變頻器及電機(jī),且所述上位機(jī)設(shè)有人機(jī)操作界面,所述人機(jī)操作界面用于輸入工作參數(shù),并通過(guò)所述上位機(jī)轉(zhuǎn)換成控制指令傳遞給所述PLC控制器,所述PLC控制器通過(guò)所述變頻器對(duì)所述電機(jī)的開(kāi)啟、停止和轉(zhuǎn)速進(jìn)行控制。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海華測(cè)品標(biāo)檢測(cè)技術(shù)有限公司,未經(jīng)上海華測(cè)品標(biāo)檢測(cè)技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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