[發明專利]一種光纖傳感器及檢測方法有效
| 申請號： | 202011569431.1 | 申請日： | 2020-12-26 |
| 公開（公告）號： | CN112816442B | 公開（公告）日： | 2023-01-20 |
| 發明（設計）人： | 張輝;劉源;吳傲;趙韋人;何苗;宋靜周 | 申請（專利權）人： | 廣東工業大學 |
| 主分類號： | G01N21/552 | 分類號： | G01N21/552 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人： | 賈小慧 |
| 地址： | 510060 廣東省*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 光纖 傳感器 檢測 方法 | ||
1.一種光纖傳感器，其特征在于，包括：
光纖和檢測組件；
所述檢測組件設置在所述光纖的檢測端面上；
所述檢測組件包括條狀凸起金屬結構組；且所述條狀凸起金屬結構組在所述光纖的端面上呈周期性排列；
所述條狀凸起金屬結構組包括由多條相互平行對齊的條狀凸起金屬結構組成；
所述條狀凸起金屬結構的高度為40nm~100 nm；
所述條狀凸起金屬結構的長度L1為50nm~70 nm；
所述條狀凸起金屬結構的寬度L2為15nm~30 nm；
相鄰兩條所述條狀凸起金屬結構的軸線的間隔W為10 nm；
所有所述條狀凸起金屬結構組的在所述條狀凸起金屬結構軸向的總長度P1為500~800nm；
所有所述條狀凸起金屬結構組的在所述條狀凸起金屬結構徑向的總長度P2為500~800nm；
所述光纖傳感器的工作波段 λ為900nm～1100nm；
所述條狀凸起金屬結構的材質為金、銀或 鋁。
2.根據權利要求1所述的光纖傳感器，其特征在于，所述檢測組件通過聚焦離子束直寫技術、納米壓印圖形轉移技術或電子束光刻技術設置在所述光纖的檢測端面上。
3.一種采用權利要求1至2 任意一項所述的光纖傳感器的檢測方法，其特征在于，包括：
將權利要求1至2任意一項所述光纖傳感器的檢測端面置于待測物上，所述光纖中入射光束，根據不同折射率待測物的反射光譜曲線圖，判斷所述待測物的折射率；或根據反射光譜共振波長的變化來檢測所述待測物折射率的變化；
光纖和檢測組件；
所述檢測組件設置在所述光纖的檢測端面上；
所述檢測組件包括條狀凸起金屬結構組；且所述條狀凸起金屬結構組在所述光纖的端面上呈周期性排列；
所述條狀凸起金屬結構組包括由多條相互平行對齊的條狀凸起金屬結構組成。
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