[發明專利]一種公路工程監理用厚度檢測裝置及方法在審
| 申請號: | 202011563814.8 | 申請日: | 2020-12-25 |
| 公開(公告)號: | CN112781508A | 公開(公告)日: | 2021-05-11 |
| 發明(設計)人: | 李逸春;唐金龍;陳立 | 申請(專利權)人: | 華睿誠項目管理有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/06 | 分類號: | G01B11/06 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 710061 陜西省西安市曲江新*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 公路工程 監理 厚度 檢測 裝置 方法 | ||
1.一種公路工程監理用厚度檢測裝置,其特征在于,包括支撐架(1)、鉆孔機構(2)以及檢測機構(3);所述鉆孔機構(2)包括螺桿(22)、上轉盤(23)、下轉盤(24)、鉆頭(26)、套筒(5)以及驅動電機(21),所述驅動電機(21)的輸出軸與所述螺桿(22)同軸連接,所述上轉盤(23)套設在所述螺桿(22)上,且所述上轉盤(23)與螺桿(22)螺紋連接,所述套筒(5)位于所述支撐架(1)上,所述套筒(5)與螺桿(22)同心設置,所述套筒(5)設置有使所述上轉盤(23)沿所述螺桿(22)軸向方向運動的導向組件(29),所述上轉盤(23)通過轉動組件(27)與所述下轉盤(24)轉動連接,所述下轉盤(24)位于所述上轉盤(23)的正下方,所述下轉盤(24)與上轉盤(23)同心設置,所述下轉盤(24)與螺桿(22)之間設置有間隙,且所述下轉盤(24)與螺桿(22)之間設置有使所述下轉盤(24)與所述螺桿(22)同步轉動的限位組件(28),所述下轉盤(24)底壁與所述鉆頭(26)連接,所述下轉盤(24)與鉆頭(26)同心設置;所述檢測機構(3)包括透光板(53)、反光鏡(35)以及折光鏡(33),所述套筒(5)上開設有進光孔(31),所述透光板(53)安裝在所述進光孔(31)處,所述反光鏡(35)與所述上轉盤(23)連接,且所述反光鏡(35)正對所述進光孔(31)設置,所述折光鏡(33)位于所述反光鏡(35)的正上方,所述支撐架(1)上開設有觀察孔(32),所述觀察孔(32)與所述套筒(5)內腔連通,所述折光鏡(33)位于所述觀察孔(32)內,且光線通過所述進光孔(31)照射至所述反光鏡(35)上,通過所述反光鏡(35)反射至所述折光鏡(33),并從所述觀察孔(32)射出。
2.根據權利要求1的公路工程監 理用厚度檢測裝置,其特征在于,所述導向組件(29)包括導向塊(291),所述導向塊(291)位于所述上轉盤(23)的側壁上,所述套筒(5)內側壁上開設有供所述導向塊(291)滑移的導向槽(292),所述導向槽(292)沿套筒(5)的軸向方向設置。
3.根據權利要求1的公路工程監理用厚度檢測裝置,其特征在于,所述限位組件(28)包括限位凸棱(281),所述限位凸棱(281)位于所述下轉盤(24)的內壁上,所述螺桿(22)上開設有供所述限位凸棱(281)滑移的限位凹槽(282),所述限位凹槽(282)沿所述螺桿(22)的軸向方向設置。
4.根據權利要求1的公路工程監理用厚度檢測裝置,其特征在于,所述轉動組件(27)包括至少兩個滑移塊(271),所述滑移塊(271)位于所述下轉盤(24)的頂壁上,所述上轉盤(23)底壁上開設有供所述滑移塊(271)滑移的滑移槽(272),所述滑移槽(272)沿所述上轉盤(23)的周向方向設置。
5.根據權利要求1的公路工程監理用厚度檢測裝置,其特征在于,所述觀察孔(32)的孔口處設置有目鏡(34)。
6.根據權利要求1的公路工程監理用厚度檢測裝置,其特征在于,所述支撐架(1)包括支撐板(11)和至少三個支撐桿(12),所述支撐桿(12)與所述支撐板(11)側壁轉動連接,且全部所述支撐桿(12)沿所述支撐板(11)的周向方向均勻分布,所述驅動電機(21)位于所述支撐板(11)上,所述螺桿(22)貫穿所述支撐板(11)設置,且所述螺桿(22)與所述支撐板(11)轉動連接,所述套筒(5)與所述支撐板(11)底壁連接。
7.根據權利要求5和6的公路工程監理用厚度檢測裝置,其特征在于,所述支撐板(11)上設置有用于觀測所述目鏡(34)的托架(4)。
8.根據權利要求1的公路工程監理用厚度檢測裝置,其特征在于,所述透光板(53)上設置有刻度線(54)。
9.根據權利要求1-9的公路工程監理用厚度檢測方法,其特征在于,檢測方法如下:
S1、檢測點選擇;
S2、支撐架(1)安裝:根據檢測點位置安裝支撐架(1);
S3、路面鋪砌層檢測:通過鉆孔機構(2)對路面鋪砌層進行開孔,并通過檢測機構(3)對路面鋪砌層進行開孔,并記錄數據,各檢測點檢測完成后,然后計算平均值。
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