[發明專利]一種氣相色譜儀的校準方法在審
| 申請號: | 202011561762.0 | 申請日: | 2020-12-25 |
| 公開(公告)號: | CN112748207A | 公開(公告)日: | 2021-05-04 |
| 發明(設計)人: | 管寅 | 申請(專利權)人: | 蘇州中科計量技術有限公司 |
| 主分類號: | G01N30/62 | 分類號: | G01N30/62;G01N30/86 |
| 代理公司: | 無錫市匯誠永信專利代理事務所(普通合伙) 32260 | 代理人: | 高科 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州市中國(江蘇)自*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 色譜儀 校準 方法 | ||
本發明公開了一種氣相色譜儀的校準方法,包括以下步驟:S1、經減壓閥給校準容器內供應標準氣體,使校準容器內的標定物質和標準氣體混合形成待校準氣體;S2、將步驟S1中得到的待校準氣體通入氣相色譜儀進行分析;S3、重復步驟S1、S2兩次,得到同一標準氣體的三份分析數據;S4、將步驟S3中得到的三份分析數據繪制成待校準氣體的曲線峰圖,并將待校準氣體的曲線峰圖與預定濃度范圍的曲線峰圖比對,校正待校準氣體的曲線峰圖;S5、對于待校準氣體的曲線峰圖與預定濃度范圍的曲線峰圖偏差較大的情況,識別偏差樣式并且根據偏差樣式形成錯誤報告,實現氣相色譜儀的高效校準及精確校準。
技術領域
本發明涉及儀器計量校準領域,尤其涉及一種氣相色譜儀的校準方法。
背景技術
用氣相色譜法對物質進行測量分析已被廣泛應用到生活的各個領域中,而采用這種方法需要用到氣相色譜儀。現有的氣相色譜儀由于器件老化、分析條件和環境的改變等因素會影響氣相色譜的定量和定性,因此需要周期性的校準標準曲線。現有的氣相色譜儀(包括在線設備和實驗室設備)都是采用手工校準法進行校準,手工校準很難保證測量值的有效性,而且費時費力,校準效率比較低。
發明內容
為克服上述缺點,本發明的目的在于提供一種實現氣相色譜儀的高效校準及精確校準的氣相色譜儀的校準方法。
為了達到以上目的,本發明采用的技術方案是:一種氣相色譜儀的校準方法,包括以下步驟:
S1、經減壓閥給校準容器內供應標準氣體,使校準容器內的標定物質和標準氣體混合形成待校準氣體;
S2、將步驟S1中得到的待校準氣體通入氣相色譜儀進行分析;
S3、重復步驟S1、S2兩次,得到同一待校準氣體的三份分析數據;
S4、將步驟S3中得到的三份分析數據繪制成待校準氣體的曲線峰圖,并將待校準氣體的曲線峰圖與預定濃度范圍的曲線峰圖比對,校正待校準氣體的曲線峰圖;
S5、對于待校準氣體的曲線峰圖與預定濃度范圍的曲線峰圖偏差較大的情況,識別偏差樣式并且根據偏差樣式形成錯誤報告。
進一步地,所述步驟S1中減壓閥在供應標準氣體前調節輸出壓力至0.1-0.3MPa。
進一步地,所述減壓閥與總管路連通,所述總管路通過電磁閥與多根支管路連通。
進一步地,所述步驟S2中將待校準氣體通入氣相色譜儀進行分析時,分析的時長為第一校準氣體持續時間,所述步驟S3中重復步驟S1、S2第一次時,分析的時長為第二校準氣體持續時間,所述第二校準氣體持續時間小于第一校準氣體持續時間。
進一步地,所述步驟S3中重復步驟S1、S2第二次時,分析的時長為第三校準氣體持續時間,所述第三校準氣體持續時間小于第一校準氣體持續時間且第三校準氣體持續時間與第二校準氣體持續時間相同。
進一步地,所述第一校準氣體持續時間、第二校準氣體持續時間和第三校準氣體持續時間內通入的待校準氣體體積依次減小。
進一步地,所述步驟S4中待校準氣體的曲線峰圖與預定濃度范圍的曲線峰圖比對方法為:利用最小二乘法進行多點數據擬合,得出待校準氣體和預定濃度范圍的濃度數據的關系。
本發明與現有技術相比,其有益效果在于:
1、通過對同一待校準氣體進行三次數據分析,提高待校準氣體的濃度數據精確性;
2、將三次數據分析的時間及氣體體積進行調整,減少待校準氣體的消耗量;
3、通過獲取不同分析時間及氣體體積的分析數據,并將分析數據與預定濃度范圍進行曲線擬合,避免校準造成的誤差,提高校準效率。
附圖說明
圖1為本發明的流程圖;
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